一种荧光分析仪的校准装置的制作方法

1.本实用新型属于x射线荧光分析仪设备的技术领域，具体为一种荧光分析仪的校准装置。


背景技术：

2.x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪；
3.x荧光多元素分析仪在校准时需将校准样组放置在样品孔内进行校准，校准完毕后需将校准样组取出然后放入待测样品，而且要依次校准分析仪测量铝、硅、 钙、铁数据，操作不便。


技术实现要素：

4.针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供了一种荧光分析仪的校准装置，解决了要依次校准分析仪测量铝、硅、 钙、铁数据，操作不便的技术问题。
5.本实用新型采取的方案为：一种荧光分析仪的校准装置，包括检测箱，其特征在于，所述的检测箱上转动连接有调整盘，所述的调整盘上沿周向间隔开设有一个样品孔和三个校准样孔，所述的调整盘转动轴上滑动连接有调整手柄，所述的调整盘转动轴内侧壁与调整手柄间固定连接有复位弹簧，所述的检测箱上沿周向间隔开设有数组定位孔，所述的调整手柄上沿周向间隔固定连接有与定位孔对应的定位柱，所述的检测箱底部转动连接有调节手柄，所述的调节手柄转动轴上沿周向间隔固定连接有与一个样品孔和三个校准样孔对应的一个样品放置盘和三个校准放置盘，所述的检测箱内设有用于锁紧调节手柄的调节装置。
6.优选的，所述的调节装置包括检测箱上间隔固定连接的两组伸缩杆，两组所述的伸缩杆伸出端固定连接有与调节手柄转动轴对应的锁紧块。
7.优选的，所述的检测箱上间隔固定连接有四组支撑柱，四组所述的支撑柱一端固定连接有减震底座。
8.优选的，所述的调节调节手柄上沿周向间隔开设有数组摩擦槽。
9.优选的，所述的夹紧块上设有海绵块。
10.本实用新型的有益效果：
11.一、在进行调节校准x射线与三个校准样孔对应时，首先调整手柄克服复位弹簧动作，使得定位柱与定位孔脱离，此时在转动调整手柄动作，最终使得x射线穿过三个校准样孔，在松开调整手柄，在复位弹簧的作用下，使得定位柱与定位孔锁紧，在通过检测箱下端设置的调节手柄，调节一个样品放置盘和三个校准放置盘与x射线对应，在通过调节装置将调节手柄锁紧；
12.二、在调节手柄动作时，使得伸缩杆不与调节手柄转动轴接触，在调节完毕后，在
使得伸缩杆与调节手柄接触，起到解锁和锁紧的作用；
13.三、在检测箱上间隔固定连接的四组支撑柱和其减震底座起到减震作用。
附图说明
14.图1是本实用新型的立体图视角之一。
15.图2是本实用新型的立体剖图视角之一。
16.附图标记：1、检测箱；2、调整盘；3、样品孔；4、校准样孔；5、调整手柄；6、复位弹簧；7、定位孔；8、定位柱；9、调节手柄；10、样品放置盘；11、校准放置盘；12、伸缩杆；13、锁紧块；14、支撑柱；15、减震底座；16、摩擦槽。
具体实施方式
17.有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图1-2实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的结构内容，均是以说明书附图为参考。
18.下面将参照附图描述本实用新型的各示例性的实施例。
19.实施例一，一种荧光分析仪的校准装置，包括检测箱1，其特征在于，所述的检测箱1上转动连接有调整盘2，所述的调整盘2上沿周向间隔开设有一个样品孔3和三个校准样孔4，所述的调整盘2转动轴上滑动连接有调整手柄5，所述的调整盘2转动轴内侧壁与调整手柄5间固定连接有复位弹簧6，所述的检测箱1上沿周向间隔开设有数组定位孔7，所述的调整手柄5上沿周向间隔固定连接有与定位孔7对应的定位柱8，所述的检测箱1底部转动连接有调节手柄9，所述的调节手柄9转动轴上沿周向间隔固定连接有与一个样品孔3和三个校准样孔4对应的一个样品放置盘10和三个校准放置盘11，所述的检测箱1内设有用于锁紧调节手柄9的调节装置。
20.该实施例在使用的时候，在进行调节校准x射线与三个校准样孔4对应时，首先调整手柄5克服复位弹簧6动作，使得定位柱8与定位孔7脱离，此时在转动调整手柄5动作，最终使得x射线穿过三个校准样孔4，在松开调整手柄5，在复位弹簧6的作用下，使得定位柱8与定位孔7锁紧，在通过检测箱1下端设置的调节手柄9，调节一个样品放置盘10和三个校准放置盘11与x射线对应，在通过调节装置将调节手柄9锁紧。
21.实施例二，在实施例一的基础上，所述的调节装置包括检测箱1上间隔固定连接的两组伸缩杆12，两组所述的伸缩杆12伸出端固定连接有与调节手柄9转动轴对应的锁紧块13。
22.该实施例在使用的时候，在调节手柄9动作时，使得伸缩杆12不与调节手柄9转动轴接触，在调节完毕后，在使得伸缩杆12与调节手柄9接触，起到解锁和锁紧的作用。
23.实施例三，在实施例二的基础上，所述的检测箱1上间隔固定连接有四组支撑柱14，四组所述的支撑柱14一端固定连接有减震底座15。
24.该实施例在使用的时候，在检测箱1上间隔固定连接的四组支撑柱14和其减震底座15起到减震作用。
25.实施例四，在实施例三的基础上，所述的调节调节手柄9上沿周向间隔开设有数组摩擦槽16。
26.该实施例在使用的时候，在调节调节手柄9上沿周向间隔开设的数组摩擦槽16，在调节时，起到增大摩擦力的作用。
27.实施例五，在实施例四的基础上，所述的夹紧块上设有海绵块。
28.该实施例在使用的时候，在夹紧块上设有海绵块，减少对调节手柄9转动轴的损坏。
29.上面所述只是为了说明本实用新型，应该理解为本实用新型并不局限于以上实施例，符合本实用新型思想的各种变通形式均在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种荧光分析仪的校准装置，包括检测箱（1），其特征在于，所述的检测箱（1）上转动连接有调整盘（2），所述的调整盘（2）上沿周向间隔开设有一个样品孔（3）和三个校准样孔（4），所述的调整盘（2）转动轴上滑动连接有调整手柄（5），所述的调整盘（2）转动轴内侧壁与调整手柄（5）间固定连接有复位弹簧（6），所述的检测箱（1）上沿周向间隔开设有数组定位孔（7），所述的调整手柄（5）上沿周向间隔固定连接有与定位孔（7）对应的定位柱（8），所述的检测箱（1）底部转动连接有调节手柄（9），所述的调节手柄（9）转动轴上沿周向间隔固定连接有与一个样品孔（3）和三个校准样孔（4）对应的一个样品放置盘（10）和三个校准放置盘（11），所述的检测箱（1）内设有用于锁紧调节手柄（9）的调节装置。2.根据权利要求1所述的一种荧光分析仪的校准装置，其特征在于，所述的调节装置包括检测箱（1）上间隔固定连接的两组伸缩杆（12），两组所述的伸缩杆（12）伸出端固定连接有与调节手柄（9）转动轴对应的锁紧块（13）。3.根据权利要求2所述的一种荧光分析仪的校准装置，其特征在于，所述的检测箱（1）上间隔固定连接有四组支撑柱（14），四组所述的支撑柱（14）一端固定连接有减震底座（15）。4.根据权利要求3所述的一种荧光分析仪的校准装置，其特征在于，所述的锁紧调节手柄（9）上沿周向间隔开设有数组摩擦槽（16）。5.根据权利要求4所述的一种荧光分析仪的校准装置，其特征在于，所述的锁紧块（13）上设有海绵块。

技术总结
本实用新型属于X射线荧光分析仪设备的技术领域，具体为一种荧光分析仪的校准装置，一种荧光分析仪的校准装置，包括检测箱，其特征在于，所述的检测箱上转动连接有调整盘，所述的调整盘上沿周向间隔开设有一个样品孔和三个校准样孔，所述的调整盘转动轴上滑动连接有调整手柄，所述的调整盘转动轴内侧壁与调整手柄间固定连接有复位弹簧，所述的检测箱上沿周向间隔开设有数组定位孔，所述的调整手柄上沿周向间隔固定连接有与定位孔对应的定位柱，所述的检测箱底部转动连接有调节手柄，所述的调节手柄转动轴上沿周向间隔固定连接有与一个样品孔和三个校准样孔对应的一个样品放置盘和三个校准放置盘，所述的检测箱内设有用于锁紧调节手柄的调节装置。紧调节手柄的调节装置。紧调节手柄的调节装置。


技术研发人员：秦楠 朱俊才 龚香倩 韦佳佳 王鹏飞
受保护的技术使用者：郑州达诺生物技术有限公司
技术研发日：2022.03.15
技术公布日：2022/8/26