双边联动倾斜接触结构的制作方法

本技术涉及芯片测试，具体涉及双边联动倾斜接触结构。

背景技术：

1、随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能，芯片出厂前的烧录测试已经成为生产的必须步骤，现有的芯片生产均存在以下问题：

2、1.现有的测试为手工测试，每次测试一个产品，效率低下；

3、2.需要定期对测试设备进行人工检查校正，需专人处理，人员要求较多；

4、3.采用手工记录数据，易出错，数据保存不方便，不利于事后追溯。

技术实现思路

1、本实用新型针对现有技术存在的上述问题，提供了双边联动倾斜接触结构，利用倾斜方式来测试芯片，更加方便对位调节，且倾斜方式使探针角度更稳定接触此芯片引脚，提高效率。

2、本实用新型的基本方案为：双边联动倾斜接触结构，包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；

3、所述安装架一侧固定安装于底座上端，且所述安装架与底座之间形成5-20°的夹角；

4、所述测试针座通过驱动机构安装于安装架上端另一侧；

5、所述测试针座包括联动连接的第一斜探针针座和第二斜探针针座，所述第一斜探针针座安装于安装架上，且所述第一斜探针针座与安装架平行，所述第一斜探针针座和第二斜探针针座通过联动板连接；

6、所述第一斜探针针座底部设有第一探针，所述第二斜探针针座底部设有第二探针，且所述第一探针与第二探针呈镜像对称，且所述第一探针与第二探针的底部处于同一水平面上。

7、进一步，所述第一斜探针针座包括第一针座安装板、第一滑块和第一滑轨，所述第一滑轨呈纵向安装于安装架上，所述第一针座安装板通过第一滑块与该第一滑轨滑动连接，所述第一探针安装于第一针座安装板上；

8、所述第二斜探针针座包括固定板、第二针座安装板、第二滑块、第二滑轨；所述第二针座安装板一侧通过联动板与第一针座安装板的同侧连接，所述固定板通过调节板与安装架固定连接，所述第二滑轨呈纵向固定安装于固定板上，所述第二针座安装板通过第二滑块与第二滑轨滑动连接，且所述第二探针安装于第二针座安装板上。

9、进一步，所述安装架上开有纵向条状通孔，所述第一斜探针针座一侧固定连接有传递块，该所述传递块穿过该纵向条状通孔与驱动机构连接。

10、进一步，所述驱动机构包括压测电机和螺旋轴，所述压测电机滑动安装于安装架上，所述压测电机与螺旋轴连接，通过螺旋轴调节压测电机的高度，所述螺旋轴下端与传递块固定连接。

11、进一步，所述压测电机上设有高度调节旋钮，所述高度调节旋钮与螺旋轴的顶端固定连接，所述高度调节旋钮调节压测电机在安装架上的安装高度，所述高度调节旋钮上安装有调节手柄。

12、进一步，所述第二针座安装板的底部还设有水平调节螺丝，该水平调节螺丝水平穿过第二针座安装板和第二滑块，用于调节第二针座安装板与第一针座安装板的水平错位。

13、进一步，所述第一探针包括多个测试探针，且所述多个测试探针呈水平间隔均匀的安装于第一针座安装板上。

14、进一步，所述第二探针包括多个测试探针，且所述多个测试探针呈水平间隔均匀的安装于第二针座安装板上。

15、进一步，所述第一探针与第二探针的测试端相对于第一针座安装板或第二针座安装板的底部长度伸出10mm。

16、本实用新型的工作原理及优点在于：安装架与底座之间形成5-20°的夹角，并且底座与测试针座分别安装于安装架的两侧，即通过底座进行底部的稳定与安装，也通过两侧设计对两侧的重力进行均衡，避免安装架一侧过重，并且采用了倾斜方式来测试芯片，相对于现有设计，更方便在测试时查看芯片引脚与探针的接触，方便对位调节，提升测试精度，使探针角度更稳定接触此芯片引脚，提高效率。

技术特征：

1.双边联动倾斜接触结构，其特征在于：包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；所述安装架一侧固定安装于底座上端，且所述安装架与底座之间形成5-20°的夹角；

2.根据权利要求1所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述第一斜探针针座包括第一针座安装板、第一滑块和第一滑轨，所述第一滑轨呈纵向安装于安装架上，所述第一针座安装板通过第一滑块与该第一滑轨滑动连接，所述第一探针安装于第一针座安装板上；

3.根据权利要求2所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述安装架上开有纵向条状通孔，所述第一斜探针针座一侧固定连接有传递块，该所述传递块穿过该纵向条状通孔与驱动机构连接。

4.根据权利要求3所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述驱动机构包括压测电机和螺旋轴，所述压测电机滑动安装于安装架上，所述压测电机与螺旋轴连接，通过螺旋轴调节压测电机的高度，所述螺旋轴下端与传递块固定连接。

5.根据权利要求4所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述压测电机上设有高度调节旋钮，所述高度调节旋钮与螺旋轴的顶端固定连接，所述高度调节旋钮调节压测电机在安装架上的安装高度，所述高度调节旋钮上安装有调节手柄。

6.根据权利要求5所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述第二针座安装板的底部还设有水平调节螺丝，该水平调节螺丝水平穿过第二针座安装板和第二滑块，用于调节第二针座安装板与第一针座安装板的水平错位。

7.根据权利要求6所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述第一探针包括多个测试探针，且所述多个测试探针呈水平间隔均匀的安装于第一针座安装板上。

8.根据权利要求6所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述第二探针包括多个测试探针，且所述多个测试探针呈水平间隔均匀的安装于第二针座安装板上。

9.根据权利要求7或8所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述第一探针与第二探针的测试端相对于第一针座安装板或第二针座安装板的底部长度伸出10mm。

技术总结
本技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及双边联动倾斜接触结构，包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；安装架一侧固定安装于底座上端，且安装架与底座之间形成5‑20°的夹角；测试机构通过驱动机构安装于安装架上端另一侧；测试机构包括联动连接的第一斜探针针座和第二斜探针针座，第一斜探针针座安装于安装架上，第一斜探针针座与安装架平行，第一斜探针针座和第二斜探针针座通过联动板连接；第一斜探针针座底部设有第一探针，第二斜探针针座底部设有第二探针，第一探针与第二探针呈镜像对称，第一探针与第二探针的底部处于同一水平面上。利用倾斜方式来测试芯片，更加方便对位调节，且倾斜方式使探针角度更稳定接触此芯片引脚，提高效率。

技术研发人员：朱崇建,林辉敬
受保护的技术使用者：深圳市金创图电子设备有限公司
技术研发日：20220526
技术公布日：2024/1/13