本申请涉及一种x射线分析仪及其样品放置装置。
背景技术:
1、使用x射线分析仪检测时,样品放置在测试位置后,需要盖上样品盖,使样品处于样品座与样品盖共同形成的密闭样品腔内,根据需要在进行抽真空或充气,但是现有的x射线分析仪的样品放置装置中,加工精密度或者装配问题,样品腔的密封性无法保证,导致无法正常的抽真空或充气使用。
技术实现思路
1、本申请提供一种x射线分析仪及样品放置装置,样品放置装置具有密封性良好的样品腔。
2、具体地,本申请是通过如下技术方案实现的:一种样品放置装置,包括底座、上盖及密封圈,所述上盖盖合在所述底座上,所述底座设有样品座,所述上盖设有样品盖,所述样品盖与所述样品座共同形成容纳样品的样品腔,所述密封圈密封连接所述样品盖及所述样品座,所述样品盖为浮动设置,并且所述上盖设有若干朝向所述样品座抵推所述样品盖的弹性件。
3、依据本申请的一个实施方式,所述上盖设有本体,所述本体的一端与所述底座枢接连接,另一端设有空腔,所述样品盖浮动设置在所述空腔内。
4、依据本申请的一个实施方式,所述上盖还设有若干导向杆,所述导向杆定位在所述本体与所述样品盖之间,所述弹性件套设在所述导向杆的外周。
5、依据本申请的一个实施方式,所述本体设有若干定位孔,所述样品盖对应设有若干配合孔,所述导向杆的上端插入定位孔内,所述导向杆的下端插入配合孔内,所述弹性件收容在所述定位孔内并伸出所述定位孔向下抵压所述样品盖的配合孔周围的顶面。
6、依据本申请的一个实施方式,所述导向杆浮动设置在所述定位孔内。
7、依据本申请的一个实施方式,还设有连接机构,所述连接机构包括连接杆、连接头及固定片,所述固定片将所述连接头固定在所述空腔的顶部,所述连接杆穿过所述样品盖的顶壁与所述连接头螺纹连接。
8、依据本申请的一个实施方式,所述连接头内设有顶部形成开口的第一通道,所述连接杆内设有第二通道,所述第二通道连通所述第一通道及所述样品腔。
9、依据本申请的一个实施方式,还设有缓冲机构,所述缓冲机构包括第一转轴、第二转轴、缓冲杆及缓冲弹簧,所述第一转轴水平设置在所述上盖上,所述第二转轴水平设置在所述底座上,所述缓冲杆与所述第一转轴连接并向下穿过所述第二转轴,所述缓冲弹簧套在所述缓冲杆外并位于所述第一转轴及所述第二转轴之间。
10、依据本申请的一个实施方式,所述上盖设有卡扣,所述底座设有与所述卡扣卡合的卡座。
11、本申请还提供如下技术方案:一种x射线分析仪,包括前述的样品放置装置。
12、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。
1.一种样品放置装置,包括底座(1)、上盖(2)及密封圈(3),所述底座(1)设有样品座(11),所述上盖(2)设有样品盖(21),所述上盖(2)盖合在所述底座(1)上,所述样品盖(21)与所述样品座(11)共同形成容纳样品的样品腔(100),所述密封圈(3)密封连接所述样品盖(21)及所述样品座(11),其特征在于:所述样品盖(21)为浮动设置,并且所述上盖(2)设有若干朝向所述样品座(11)抵推所述样品盖(21)的弹性件(22)。
2.根据权利要求1所述的样品放置装置,其特征在于:所述上盖(2)设有本体(23),所述本体(23)的一端与所述底座(1)枢接连接,另一端设有空腔(231),所述样品盖(21)浮动设置在所述空腔(231)内。
3.根据权利要求2所述的样品放置装置,其特征在于:所述上盖(2)还设有若干导向杆(24),所述导向杆(24)定位在所述本体(23)与所述样品盖(21)之间,所述弹性件(22)套设在所述导向杆(24)的外周。
4.根据权利要求3所述的样品放置装置,其特征在于:所述本体(23)设有若干定位孔(232),所述样品盖(21)设有若干配合孔(211),所述导向杆(24)的上端插入所述定位孔(232)内,所述导向杆(24)的下端固定在所述配合孔(211)内,所述弹性件(22)收容在所述定位孔(232)内并伸出所述定位孔(232)向下抵压所述样品盖(21)的配合孔(211)周围的顶面。
5.根据权利要求4所述的样品放置装置,其特征在于:所述导向杆(24)浮动设置在所述定位孔(232)内。
6.根据权利要求2所述的样品放置装置,其特征在于:还设有连接机构(4),所述连接机构(4)包括连接杆(41)、连接头(42)及固定片(43),所述固定片(43)将所述连接头(42)固定在所述空腔(231)的顶部,所述连接杆(41)穿过所述样品盖(21)的顶壁与所述连接头(42)螺纹连接。
7.根据权利要求6所述的样品放置装置,其特征在于:所述连接头(42)内设有顶部形成开口(424)的第一通道(423),所述连接杆(41)内设有第二通道(411),所述第二通道(411)连通所述第一通道(423)及所述样品腔(100)。
8.根据权利要求1所述的样品放置装置,其特征在于:还设有缓冲机构(5),所述缓冲机构(5)包括第一转轴(51)、第二转轴(54)、缓冲杆(52)及缓冲弹簧(55),所述第一转轴(51)水平设置在所述上盖(2)上,所述第二转轴(54)水平设置在所述底座(1)上,所述缓冲杆(52)与所述第一转轴(51)连接并向下穿过所述第二转轴(54),所述缓冲弹簧(55)套在所述缓冲杆(52)外并位于所述第一转轴(51)及所述第二转轴(54)之间。
9.根据权利要求1所述的样品放置装置,其特征在于:所述上盖(2)设有卡扣(61),所述底座(1)设有与所述卡扣(61)卡合的卡座(62)。
10.一种x射线分析仪,其特征在于:包括如权利要求1至9中任意一项所述的样品放置装置。