一种模块化的测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及硬件测试技术领域，具体涉及一种模块化的测试系统。


背景技术：

2.为提高芯片的测试效率和缩短测试周期，芯片自动化测试系统成为了必不可少的测试工具，现有技术中针对芯片的自动化测试系统通常都是固定测试系统，所具有的测试功能固定不变，测试功能单一，兼容性差，使用灵活性低，不同测试项需要不同的测试环境才可以实现，更换测试环境增加工作人员工作量，浪费时间，影响测试进度。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于，提供一种模块化的测试系统，解决以上技术问题；
4.一种模块化的测试系统，包括，
5.测试上位机；
6.测试主板，连接所述上位机的测试信号输出端，所述测试板上设有待测试本体，所述测试主板向所述待测试本体转发所述上位机输出的测试信号；
7.测试装置，包括n个模块化的测试器件，所述测试器件基于所述待测试本体的测试需要可拆卸连接所述测试主板的测试接口，接收所述测试本体输出的测试数据，所述测试器件的受控端连接所述上位机，接收所述上位机输出的控制信号；
8.其中n为正整数。
9.优选的，所述测试上位机包括一计算机和一上位机。
10.优选的，所述待测试本体为待测试芯片。
11.优选的，所述测试上位机与所述测试主板之间通过第一usb数据线连接。
12.优选的，所述测试上位机与所述测试器件的受控端之间通过第二usb数据线连接。
13.优选的，还包括电源设备，所述电源设备的供电端通过供电线连接所述测试主板的电源电压输入端。
14.优选的，所述电源设备的受控端通过第三usb数据线连接所述测试上位机。
15.优选的，所述电源设备采用数字电源。
16.本实用新型的有益效果：由于采用以上技术方案，本实用新型提供的测试系统灵活性高、兼容性强，采用模块化，可拆卸的测试器件，测试功能多元化且可灵活调整，可以节约测试时间，加快测试进度，减少硬件资源的占用，减少测试人员工作量。
附图说明
17.图1为本实用新型实施例中测试系统的架构图。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行
清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
20.下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，但不作为本实用新型的限定。
21.一种模块化的测试系统，如图1所示，包括，
22.测试上位机1；
23.测试主板2，连接上位机的测试信号输出端，测试板上设有待测试本体，测试主板2向待测试本体转发上位机输出的测试信号；
24.测试装置3，包括n个模块化的测试器件31，测试器件31基于待测试本体的测试需要可拆卸连接测试主板2的测试接口，接收测试本体输出的测试数据，测试器件31的受控端连接上位机，接收上位机输出的控制信号；
25.其中n为正整数。
26.较优的，本实用新型提供的模块化的测试系统灵活性高，兼容性强，具体的，用于对待测试本体进行功能测试的测试器件31均采用模块化设置，并与测试主板2的接口可拔插连接，在实际应用中若待测试本体需要使用某个测试器件31来针对某个功能进行测试，仅需要连接对应功能的测试器件31，减少硬件资源的占用，进一步的，节约测试时间，加快测试进度，减少测试人员工作量。
27.在一种较优的实施例中，测试上位机1包括一计算机和一上位机。
28.具体的，待测试本体为待测试芯片。
29.在一种较优的实施例中，测试上位机1与测试主板2之间通过第一usb数据线连接。
30.在一种较优的实施例中，测试上位机1与测试器件31的受控端之间通过第二usb数据线连接。
31.具体的，本实用新型中测试上位机1通过usb信号或串口信号给测试主板2发送测试信号，由测试主板2向待测试芯片转发测试信号，从而使待测试芯片接收到测试命令并输出需要测试的功能的测试数据，进一步的，通过测试主板2某一个连接的测试器件31发送测试数据，测试上位机1通过usb信号向该测试器件31发送控制信号使其进行测试。
32.在一种较优的实施例中，还包括电源设备4，电源设备4的供电端通过供电线连接测试主板2的电源电压输入端。
33.在一种较优的实施例中，电源设备4的受控端通过第三usb数据线连接测试上位机1。
34.具体的，电源设备4通过供电线为测试主板2提供供电，测试上位机1通过usb信号控制电源设备4。
35.在一种较优的实施例中，电源设备4采用数字电源。
36.以上所述仅为本实用新型较佳的实施例，并非因此限制本实用新型的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本实用新型说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本实用新型的保护范
围内。


技术特征：
1.一种模块化的测试系统，其特征在于，包括，测试上位机；测试主板，连接所述上位机的测试信号输出端，所述测试主板上设有待测试本体，所述测试主板向所述待测试本体转发所述上位机输出的测试信号；测试装置，包括n个模块化的测试器件，所述测试器件基于所述待测试本体的测试需要可拆卸连接所述测试主板的测试接口，接收所述测试本体输出的测试数据，所述测试器件的受控端连接所述上位机，接收所述上位机输出的控制信号；其中n为正整数。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试上位机包括一计算机和一上位机。3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述待测试本体为待测试芯片。4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试上位机与所述测试主板之间通过第一usb数据线连接。5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试上位机与所述测试器件的受控端之间通过第二usb数据线连接。6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括电源设备，所述电源设备的供电端通过供电线连接所述测试主板的电源电压输入端。7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述电源设备的受控端通过第三usb数据线连接所述测试上位机。8.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述电源设备采用数字电源。

技术总结
本实用新型涉及硬件测试技术领域，具体涉及一种模块化的测试系统，包括，测试上位机；测试主板，连接上位机的测试信号输出端，测试板上设有待测试本体，测试主板向待测试本体转发上位机输出的测试信号；测试装置，包括N个模块化的测试器件，测试器件基于待测试本体的测试需要可拆卸连接测试主板的测试接口，接收测试本体输出的测试数据，测试器件的受控端连接上位机，接收上位机输出的控制信号；本实用新型提供的测试系统灵活性高、兼容性强，采用模块化，可拆卸的测试器件，测试功能多元化且可灵活调整，可以节约测试时间，加快测试进度，减少硬件资源的占用，减少测试人员工作量。减少测试人员工作量。减少测试人员工作量。


技术研发人员：林建安 徐望成 李泽民
受保护的技术使用者：上海磐启微电子有限公司
技术研发日：2022.09.28
技术公布日：2023/1/19