过零检测电路、控制系统及电器的制作方法

本申请涉及控制，特别地涉及一种过零检测电路、控制系统及电器。

背景技术：

1、电器在使用过程中常伴随继电器的开关动作，而继电器连接交流电源，交流电源为强电，在继电器动作时可能会产生火弧或火花，影响电器的安全使用和寿命。

技术实现思路

1、针对上述问题，本申请提供一种过零检测电路、控制系统及电器，能够保证整个电器的使用安全、延长电器的使用寿命。

2、本申请实施例提供一种过零检测电路，包括：第一三极管、第二三极管、第一光耦和第二光耦，所述第一三极管的基极用于接收控制信号，所述第一三极管的集电极接地，所述第一三极管的发射极与所述第一光耦的发光二极管的负极连接，所述第一光耦的发光二极管的正极接芯片电源，所述第一光耦的双向可控硅的第一端用于连接交流电源的火线，所述述第一光耦的双向可控硅的第二端与第二光耦的发光二极管的正极连接，所述第二光耦的发光二极管的负极用于接所述交流电源的零线，所述第二光耦的光电三极管的发射极与所述芯片电源、过零检测接口和所述第二三极管的集电极连接，所述第二光耦的光电三极管的集电极接所述第二三极管的基极，所述第二三极管的发射极接地。

3、在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：二极管，所述二极管的正极与所述交流电源的零线连接，所述二极管的负极与所述第二光耦的发光二极管的正极连接。

4、在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：第一电阻、第二电阻，其中，所述零线通过所述第二电阻与第二光耦的发光二极管的负极连接，所述火线通过第一电阻与所述第一光耦的双向可控硅的第一端连接。

5、在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：第三电阻、第四电阻，其中，所述第一光耦的发光二极管的负极通过所述第三电阻与第一三极管的发射极连接，所述第二光耦的光电三极管的发射极通过第四电阻连接第二三极管的集电极。

6、在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：第五电阻和第六电阻，所述控制信号通过所述第六电阻传输给第一三极管的基极，所述第二光耦的光电三极管的集电极通过第五电阻连接所述第二三极管的基极。

7、本申请实施例提供一种控制系统，其特征在于，包括：芯片及所述的过零检测电路、继电器，其中，所述芯片的输出端与所述第一三极管的基极连接，所述芯片的输入端与所述过零检测接口连接，所述芯片与所述继电器连接，所述芯片用于在检查到交流电正弦波过零点时，控制继电器执行开关动作。

8、本申请实施例提供一种电器，包括：所述的控制系统。

9、在一些实施例中，所述电器包括：蒸烤箱。

10、本申请提供的一种过零检测电路、控制系统及电器，通过设置过零检测电路，能够实现对交流电源的交流电正弦波进行过零点检测，所述芯片用于在检查到交流电正弦波过零点时，控制继电器执行开关动作，能够减少产生火弧或火花，从而能够保证电器产品的使用安全、延长电器的使用寿命。

技术特征：

1.一种过零检测电路，其特征在于，包括：第一三极管、第二三极管、第一光耦和第二光耦，所述第一三极管的基极用于接收控制信号，所述第一三极管的集电极接地，所述第一三极管的发射极与所述第一光耦的发光二极管的负极连接，所述第一光耦的发光二极管的正极接芯片电源，所述第一光耦的双向可控硅的第一端用于连接交流电源的火线，所述述第一光耦的双向可控硅的第二端与第二光耦的发光二极管的正极连接，所述第二光耦的发光二极管的负极用于接所述交流电源的零线，所述第二光耦的光电三极管的发射极与所述芯片电源、过零检测接口和所述第二三极管的集电极连接，所述第二光耦的光电三极管的集电极接所述第二三极管的基极，所述第二三极管的发射极接地。

2.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述过零检测电路还包括：二极管，所述二极管的正极与所述交流电源的零线连接，所述二极管的负极与所述第二光耦的发光二极管的正极连接。

3.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述过零检测电路还包括：第一电阻、第二电阻，其中，所述零线通过所述第二电阻与第二光耦的发光二极管的负极连接，所述火线通过第一电阻与所述第一光耦的双向可控硅的第一端连接。

4.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述过零检测电路还包括：第三电阻、第四电阻，其中，所述第一光耦的发光二极管的负极通过所述第三电阻与第一三极管的发射极连接，所述第二光耦的光电三极管的发射极通过第四电阻连接第二三极管的集电极。

5.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述过零检测电路还包括：第五电阻和第六电阻，所述控制信号通过所述第六电阻传输给第一三极管的基极，所述第二光耦的光电三极管的集电极通过第五电阻连接所述第二三极管的基极。

6.一种控制系统，其特征在于，包括：芯片及权利要求1至5任一项所述的过零检测电路、继电器，其中，所述芯片的输出端与所述第一三极管的基极连接，所述芯片的输入端与所述过零检测接口连接，所述芯片与所述继电器连接，所述芯片用于在检查到交流电正弦波过零点时，控制继电器执行开关动作。

7.一种电器，其特征在于，包括：权利要求6所述的控制系统。

8.根据权利要求7所述的电器，其特征在于，所述电器包括：蒸烤箱。

技术总结
本申请提供的一种过零检测电路、控制系统及电器，通过设置过零检测电路，能够实现对交流电源的交流电正弦波进行过零点检测，通过在检查到过零点时芯片控制继电器执行开关动作，能够减少产生火弧或火花，从而能够保证电器产品的使用安全、延长电器的使用寿命。

技术研发人员：冯俊杰,张秋俊,巨姗,胡紫嫣,高岩,郗浩然
受保护的技术使用者：珠海格力电器股份有限公司
技术研发日：20221012
技术公布日：2024/1/13