一种开关矩阵式微波信号测试架的制作方法

本技术涉及微波信号测试，特别涉及一种开关矩阵式微波信号测试架。

背景技术：

1、微波测量，是对工作于微波波段的元器件、天线、馈线、电路、整机、系统、传播媒质及链路的性能与参量的测量，在射频微波类产品测试时，输出端口的设置位置也越来越多样化，比如设置在侧面、底面或者顶面，进而在测试过程中，需要测试人员不断对射频微波工件进行转动，而传统的开关矩阵式微波信号测试装置在使用过程中，不方便对射频微波工件进行调试，同时测试误差大，测试效率低，不便于推广和使用。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种开关矩阵式微波信号测试架，能够解决不方便对射频微波工件进行调试，同时测试误差大，测试效率低的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种开关矩阵式微波信号测试架，包括测试支架、转动机构和调试机构，测试支架上固定安装有微波信号测试箱，微波信号测试箱的底部设置有四组检测线且呈矩形分布，检测线的底端设置有测试头，转动机构设置于测试支架上且位于检测线和测试头的下方，调试机构设置于测试支架上，调试机构包括电动推杆，电动推杆固定安装于测试支架的一侧，调试机构与检测线相配合。

3、优选的，所述转动机构包括转动轴和转动盘，测试支架上转动安装有转动轴，转动轴的顶端固定安装有转动盘。

4、优选的，所述调试机构还包括滑块、升降板、升降块和移动块，测试支架上开设有两组滑槽且呈中心对称，滑块滑动安装于滑槽的内部，升降板固定安装于两组滑块的相邻侧壁，测试支架的一侧外壁开设有活动口，其中一组滑块的另一侧外壁固定安装有升降块，升降块的底部与电动推杆的自由端固定连接，升降块的内部开设有两组限位槽且呈前后设置，限位槽的内部滑动安装有移动块，检测线贯穿于移动块的内部，方便对射频微波工件进行微波信号进行测试处理，采用四组检测线和测试头的设计，测试效率高，并且可用不同检测线进行测试处理，有效的减少测试误差，同时方便对射频微波工件进行转动，无需工作人员手动搬运射频微波工件，有效的减少了工作人员的劳动强度，并且可根据射频微波工件输出端的位置，对检测线和测试头进行位置调节，促进了射频微波工件测试效率，便于推广和使用。

5、优选的，所述微波信号测试箱的前侧外表面设置有数据显示屏，方便观察测试示数。

6、优选的，所述转动盘的两侧外壁均固定安装有把手且呈中心对称，方便驱动转动盘和转动轴转动。

7、优选的，所述移动块的内部开设有开口，开口处固定安装有安装圆环，安装圆环的内部包裹检测线，减少检测线的磨损。

8、优选的，所述升降板的前侧外表面和后侧均开设有活动槽，两组移动块的前侧外表面和另外两组移动块的后侧均固定安装有移动把手，方便驱动移动块。

9、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

10、该开关矩阵式微波信号测试架，通过测试支架、微波信号测试箱、检测线、测试头、转动轴、转动盘、电动推杆、滑槽、滑块、升降板、升降块、限位槽和移动块的配合使用，方便对射频微波工件进行微波信号进行测试处理，采用四组检测线和测试头的设计，测试效率高，并且可用不同检测线进行测试处理，有效的减少测试误差，同时方便对射频微波工件进行转动，无需工作人员手动搬运射频微波工件，有效的减少了工作人员的劳动强度，并且可根据射频微波工件输出端的位置，对检测线和测试头进行位置调节，促进了射频微波工件测试效率，便于推广和使用。

技术特征：

1.一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于：所述转动机构(5)包括转动轴(501)和转动盘(502)，测试支架(1)上转动安装有转动轴(501)，转动轴(501)的顶端固定安装有转动盘(502)。

3.根据权利要求2所述的一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于：所述调试机构(6)还包括滑块(603)、升降板(604)、升降块(605)和移动块(607)，测试支架(1)上开设有两组滑槽(602)且呈中心对称，滑块(603)滑动安装于滑槽(602)的内部，升降板(604)固定安装于两组滑块(603)的相邻侧壁，测试支架(1)的一侧外壁开设有活动口，其中一组滑块(603)的另一侧外壁固定安装有升降块(605)，升降块(605)的底部与电动推杆(601)的自由端固定连接，升降块(605)的内部开设有两组限位槽(606)且呈前后设置，限位槽(606)的内部滑动安装有移动块(607)，检测线(3)贯穿于移动块(607)的内部。

4.根据权利要求3所述的一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于：所述微波信号测试箱(2)的前侧外表面设置有数据显示屏。

5.根据权利要求4所述的一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于：所述转动盘(502)的两侧外壁均固定安装有把手(7)且呈中心对称。

6.根据权利要求5所述的一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于：所述移动块(607)的内部开设有开口，开口处固定安装有安装圆环(8)，安装圆环(8)的内部包裹检测线(3)。

7.根据权利要求6所述的一种开关矩阵式微波信号测试架，其特征在于：所述升降板(604)的前侧外表面和后侧均开设有活动槽(9)，两组移动块(607)的前侧外表面和另外两组移动块(607)的后侧均固定安装有移动把手(10)。

技术总结
本技术公开了一种开关矩阵式微波信号测试架，涉及微波信号测试技术领域。该开关矩阵式微波信号测试架，包括测试支架、转动机构和调试机构，测试支架上固定安装有微波信号测试箱。该开关矩阵式微波信号测试架，方便对射频微波工件进行微波信号进行测试处理，采用四组检测线和测试头的设计，测试效率高，并且可用不同检测线进行测试处理，有效的减少测试误差，同时方便对射频微波工件进行转动，无需工作人员手动搬运射频微波工件，有效的减少了工作人员的劳动强度，并且可根据射频微波工件输出端的位置，对检测线和测试头进行位置调节，促进了射频微波工件测试效率，便于推广和使用。

技术研发人员：敬君安,周欣
受保护的技术使用者：成都天创微波技术股份有限公司
技术研发日：20221021
技术公布日：2024/1/13