一种电力设备的芯片耐电压检测装置的制作方法

本技术属于芯片测试，具体而言，涉及一种电力设备的芯片耐电压检测装置。

背景技术：

1、公开号为cn216792364u的中国实用新型专利(申请号：cn202123195306.1)公开了一种电路板耐电压测试装置，包括耐电压测试机，还包括底板和至少两块电极块；所述电极块包括绝缘压块、电极片和测试线夹头，所述电极片设置在所述绝缘压块上，所述电极片的针尖端和连接尾端均设置在所述绝缘压块之外，所述测试线夹头可夹持在所述连接尾端；所述底板上设有电路板安装槽，所述绝缘压块可放置在所述底板的顶端面上。本实用新型提供的电路板耐电压测试装置通过具有一定重量的电极块，将电极片放置在安放于底板上的印刷电路板待测部位上，将电极块通过电线连接耐电压测试机，即可进行电路板的耐电压测试，仅需一人便可操作，操作方便。

2、智能二次设备运行时将面临着多种复杂环境，电磁、温度和湿度环境的多应力综合效应将对二次设备及芯片的功能与性能造成严重的影响，需要对芯片进行耐电压检测；在芯片耐电压检测时，部分芯片在长时间测试后，芯片上的金属引脚上会形成金属氧化物附着在引脚表面，会影响对芯片耐电压测试的结果；上述实用新型中，无法去除芯片引脚表面附着的金属氧化物，造成老化后的芯片耐电压测试结果不准确的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型提供一种电力设备的芯片耐电压检测装置，能够解决无法去除芯片引脚表面附着的金属氧化物，造成老化后的芯片耐电压测试结果不准确的问题。

2、本实用新型是这样实现的：

3、本实用新型提供一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其中，包括底座，所述底座上设置有凹槽，所述凹槽内部设置有两个滑块，所述滑块与所述凹槽滑动连接；所述滑块的一侧设置有10个放置孔，所述放置孔内部设置有电极片和第一除锈刮片，所述电极片固定连接于所述放置孔的底部，所述第一除锈刮片固定连接于所述放置孔的外侧，所述滑块的另一侧固定连接有与所述放置孔一一对应的接线柱，所述接线柱与对应位置的所述电极片电连接，所述滑块顶部还设置有卡槽；还包括两个压板，每个所述压板上固定连接有与所述卡槽相适配的卡块，所述压板的一侧固定连接有与所述放置孔一一对应的第二除锈刮片；还包括耐电压检测仪，所述耐电压检测仪与所述接线柱电连接。

4、本实用新型提供的一种电力设备的芯片耐电压检测装置的技术效果如下：通过设置凹槽，可以使滑块在凹槽内移动，调节两个滑块之间的间隔，能够放置不同尺寸的芯片，具有较好的通用性；通过设置放置孔，能够将引脚的引脚放置到放置孔中，通过电极片与芯片电连接；通过设置接线柱与对应放置孔电连接，可以对芯片的不同引脚进行测试，能够获取多组测试数据，使检测结果更加准确；通过设置第一除锈刮片和第二除锈刮片，可以在芯片的耐电压测试结果结束后，在取出芯片时将芯片上的引脚在产生的金属氧化物进行刮除，防止芯片后续测试时，因金属氧化物附着在引脚上，影响后续测试结果。

5、在上述技术方案的基础上，本实用新型的一种电力设备的芯片耐电压检测装置还可以做如下改进:

6、其中，所述底座的顶部固定连接有箱体，所述箱体前侧旋转连接有箱门。

7、采用上述改进方案的有益效果为：通过设置箱体，将耐电压测试隔离起来，防止外界环境因素影响测试，影响测试结果。

8、其中，所述箱体的顶壁为玻璃材料制成，

9、采用上述改进方案的有益效果为：通过设置箱体的顶壁为玻璃材料制成，可以在进行耐电压测试时对芯片进行观察，防止在进行耐电压测试时电压过大，导致芯片损毁。

10、其中，所述两个滑块之间放置有芯片。

11、进一步的，所述芯片上设置有引脚，所述芯片通过所述引脚与所述电极片电连接。

12、其中，所述压板和所述滑块为可拆卸的。

13、采用上述改进方案的有益效果为：通过设置压板和滑块为可拆卸的，可以更换不同尺寸滑块和压板，能够对不同型号的芯片进行测试，具有更好的通用性。

14、其中，所述耐电压检测仪上设置有显示屏和控制器，所述显示屏和所述控制器电连接。

15、其中，所述滑块为绝缘材料制成。

16、采用上述改进方案的有益效果为：通过设置滑块为绝缘材料，可以防止滑块影响耐电压测试结果，减少误差。

17、其中，所述箱门外侧固定连接有把手。

18、其中，所述卡槽为长方形。

19、与现有技术相比较，本实用新型提供的一种电力设备的芯片耐电压检测装置的有益效果是：通过设置凹槽，可以使滑块在凹槽内移动，调节两个滑块之间的间隔，能够放置不同尺寸的芯片，具有较好的通用性；通过设置放置孔，能够将引脚的引脚放置到放置孔中，通过电极片与芯片电连接；通过设置接线柱与对应放置孔电连接，可以对芯片的不同引脚进行测试，能够获取多组测试数据，使检测结果更加准确；通过设置第一除锈刮片和第二除锈刮片，可以在芯片的耐电压测试结果结束后，在取出芯片时将芯片上的引脚在产生的金属氧化物进行刮除，防止芯片后续测试时，因金属氧化物附着在引脚上，影响后续测试结果；本装置能够对老化芯片后的芯片进行除锈，防止金属氧化物影响芯片测试结果。

技术特征：

1.一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)上设置有凹槽(10)，所述凹槽(10)内部设置有两个滑块(11)，所述滑块(11)与所述凹槽(10)滑动连接；所述滑块(11)的一侧设置有10个放置孔(110)，所述放置孔(110)内部设置有电极片(111)和第一除锈刮片(112)，所述电极片(111)固定连接于所述放置孔(110)的底部，所述第一除锈刮片(112)固定连接于所述放置孔(110)的外侧，所述滑块(11)的另一侧固定连接有与所述放置孔(110)一一对应的接线柱(114)，所述接线柱(114)与对应位置的所述电极片(111)电连接，所述滑块(11)顶部还设置有卡槽(113)；还包括：两个压板(12)，每个所述压板(12)上固定连接有与所述卡槽(113)相适配的卡块(121)，所述压板(12)的一侧固定连接有与所述放置孔(110)一一对应的第二除锈刮片(120)；还包括耐电压检测仪(4)，所述耐电压检测仪(4)与所述接线柱(114)电连接。

2.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定连接有箱体(2)，所述箱体(2)前侧旋转连接有箱门(20)。

3.根据权利要求2所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述箱体(2)的顶壁为玻璃材料制成。

4.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述两个滑块(11)之间放置有芯片(3)。

5.根据权利要求4所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述芯片(3)上设置有引脚(30)，所述芯片(3)通过所述引脚(30)与所述电极片(111)电连接。

6.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述压板(12)和所述滑块(11)为可拆卸的。

7.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述耐电压检测仪(4)上设置有显示屏(40)和控制器(41)，所述显示屏(40)和所述控制器(41)电连接。

8.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述滑块(11)为绝缘材料制成。

9.根据权利要求2所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述箱门(20)外侧固定连接有把手(201)。

10.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述卡槽(113)为长方形。

技术总结
本技术提供了一种电力设备的芯片耐电压检测装置，属于芯片测试技术领域，该装置包括底座，底座上设置有凹槽，凹槽内部设置有两个滑块；滑块的一侧设置有10个放置孔，放置孔内部设置有电极片和第一除锈刮片，电极片固定连接于放置孔的底部，第一除锈刮片固定连接于放置孔的外侧，滑块的另一侧固定连接有与放置孔一一对应的接线柱，接线柱与对应位置的电极片电连接，滑块顶部还设置有卡槽；还包括压板，压板上固定连接有与卡槽相适配的卡块，压板的一侧固定连接有与放置孔一一对应的第二除锈刮片；还包括耐电压检测仪；本装置能解决无法去除芯片引脚表面附着的金属氧化物，造成老化后的芯片耐电压测试结果不准确的问题。

技术研发人员：张庆平,闫振华,高博,罗海荣,李秀广,亓亮,马瑞,李晓龙,朱东歌,李学峰
受保护的技术使用者：国网宁夏电力有限公司电力科学研究院
技术研发日：20221114
技术公布日：2024/1/12