一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪的制作方法

本技术涉及一种测试仪，具体为针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，属于集成电路验证设备。

背景技术：

1、集成电路是一种微型电子器件，其采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。

2、现有的集成电路验证测试仪接线孔直接裸露在空气中，而测试仪接线孔长期暴露在空气中容易落入灰尘，当测试仪需要连接时，灰尘会使测试仪与外界活动接头之间的电性连接效果的影响，为此，我们提出一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪用于解决上述问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型希望提供一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。

2、本实用新型实施例的技术方案是这样实现的：一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，包括防尘机构，所述防尘机构包括集成电路测试仪主体、接线孔、竖块、矩形块和螺杆；

3、两个所述接线孔开设于所述集成电路测试仪主体的前侧，所述集成电路测试仪主体的前侧滑动连接有两个挡板，所述挡板与对应的所述接线孔相配合，所述竖块固定安装于对应的所述挡板的前侧，所述矩形块固定安装于所述集成电路测试仪主体的前侧，所述螺杆转动安装于所述矩形块的右侧，所述螺杆的外侧螺纹连接有竖杆，所述螺杆的右端固定连接有圆形块，所述竖杆的左侧转动连接有两个连接杆，所述连接杆的左端与对应的所述竖块的右侧转动连接。

4、进一步优选的，所述竖块的左侧固定连接有横杆，所述集成电路测试仪主体的前侧固定连接有两个支撑块。

5、进一步优选的，两个所述支撑块相互靠近的一侧均固定连接有圆柱，所述横杆的顶部固定连接有方杆。

6、进一步优选的，所述圆柱滑动套设在对应的方杆的外侧，所述横杆与对应的圆柱之间固定连接有同一个弹簧。

7、进一步优选的，所述弹簧活动套设在对应的方杆的外侧，所述集成电路测试仪主体的前侧安装有显示屏。

8、进一步优选的，所述集成电路测试仪主体的前侧转动连接有多个旋钮，所述集成电路测试仪主体的底部四角均固定连接有支撑杆，所述支撑杆的底端固定连接有支撑座。

9、进一步优选的，所述防尘机构的前侧设有定位机构，所述定位机构包括固定块和定位杆；

10、两个所述固定块固定安装于所述集成电路测试仪主体的前侧，所述定位杆固定安装于所述固定块的左侧。

11、进一步优选的，所述竖杆的右侧固定连接有两个圆杆，所述定位杆滑动套设在对应的圆杆的外侧。

12、本实用新型实施例由于采用以上技术方案，其具有以下优点：

13、本实用新型正向转动圆形块通过螺杆带动竖杆移动对两个连接杆进行挤压，连接杆通过竖块带动横杆移动对弹簧进行压缩，竖块带动挡板移动，使接线孔被露出，便可以通过外界活动接头连接，需要对接线孔进行遮挡防止灰尘进入时，反向转动圆形块，弹簧的弹力通过竖块带动对应的挡板移动并对接线孔进行遮挡，使集成电路测试仪主体的接线孔在不使用时避免暴露在空气中，降低灰尘对测试仪与外界活动接头之间的电性连接效果的影响。

14、上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本实用新型进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。

技术特征：

1.一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，包括防尘机构(1)，其特征在于：所述防尘机构(1)包括集成电路测试仪主体(2)、接线孔(3)、竖块(5)、矩形块(6)和螺杆(7)；

2.根据权利要求1所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述竖块(5)的左侧固定连接有横杆(11)，所述集成电路测试仪主体(2)的前侧固定连接有两个支撑块(12)。

3.根据权利要求2所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：两个所述支撑块(12)相互靠近的一侧均固定连接有圆柱(13)，所述横杆(11)的顶部固定连接有方杆(14)。

4.根据权利要求3所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述圆柱(13)滑动套设在对应的方杆(14)的外侧，所述横杆(11)与对应的圆柱(13)之间固定连接有同一个弹簧(15)。

5.根据权利要求4所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述弹簧(15)活动套设在对应的方杆(14)的外侧，所述集成电路测试仪主体(2)的前侧安装有显示屏(16)。

6.根据权利要求5所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述集成电路测试仪主体(2)的前侧转动连接有多个旋钮(17)，所述集成电路测试仪主体(2)的底部四角均固定连接有支撑杆(18)，所述支撑杆(18)的底端固定连接有支撑座(19)。

7.根据权利要求6所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述防尘机构(1)的前侧设有定位机构(20)，所述定位机构(20)包括固定块(21)和定位杆(23)；

8.根据权利要求7所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述竖杆(8)的右侧固定连接有两个圆杆(22)，所述定位杆(23)滑动套设在对应的圆杆(22)的外侧。

技术总结
本技术提供了一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，包括防尘机构，所述防尘机构包括集成电路测试仪主体、接线孔、竖块、矩形块和螺杆；两个所述接线孔开设于所述集成电路测试仪主体的前侧。本技术正向转动圆形块通过螺杆带动竖杆移动对两个连接杆进行挤压，连接杆通过竖块带动横杆移动对弹簧进行压缩，竖块带动挡板移动，使接线孔被露出，便可以通过外界活动接头连接，需要对接线孔进行遮挡防止灰尘进入时，反向转动圆形块，弹簧的弹力通过竖块带动对应的挡板移动并对接线孔进行遮挡，使集成电路测试仪主体的接线孔在不使用时避免暴露在空气中，降低灰尘对测试仪与外界活动接头之间的电性连接效果的影响。

技术研发人员：汤海浪,刘辉
受保护的技术使用者：深圳联芯微电子科技有限公司
技术研发日：20221118
技术公布日：2024/1/13