一种样品处理器的制作方法

文档序号:35369251发布日期:2023-09-08 05:53阅读:14来源:国知局
一种样品处理器的制作方法

本技术涉及露点仪,尤其涉及一种样品处理器。


背景技术:

1、目前在对食品进行包装后,多会往包装袋内充入惰性气体,为了能够保证气体的干燥程度,常使用露点仪来快速准确地测量气体的水分含量。

2、但是露点仪使用过程中,存在以下缺陷或不足:

3、1、气体收集过程,操作不便,实用性较低;

4、2、由于样品存在超压、超湿、样品脏等情况,容易损坏传感器,污染、堵塞内部管路,导致仪器损坏。


技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在实用性较低和过滤调节效果不佳的缺点,而提出的一种样品处理器。

2、为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

3、一种样品处理器,包括集气机构和过滤机构;

4、集气机构:所述集气机构包括气泵和气泵进气口一侧设置的软管,所述气泵与软管之间设置有支架,且支架上设置有卷管器;

5、过滤机构:所述过滤机构包括过滤器和过滤器一侧设置的减压阀,所述过滤器内部等距离设置有滤网,且过滤器内部一侧设置有干燥块,所述减压阀一侧设置有流量阀,且流量阀一侧设置有流量计。

6、通过上述方案,通过设置有集气机构,通过设置有卷管器,缠绕在卷管器上的软管,软管一端连接的气泵,扩大了集气范围,提高了实用性,通过设置有过滤机构,通过过滤器对样品气体进行过滤,除湿,过滤后的样品气体经过减压阀,采用控制阀体内的启闭件的开度来调节介质的流量,将介质的压力降低,减压后的样品经过流量阀,同时使用流量计实时显示当前流量,经过以上过滤、减压、限流后的样品再进入露点仪,实现对露点仪的保护,避免传感器超压损坏,仪器内部管路的脏污,降低仪器维修维护成本。

7、优选的,所述支架内部设置有转轴,且转轴贯穿支架一侧连接有转动把手。

8、通过上述方案,通过转动把手使得卷管器便于调节。

9、优选的,所述卷管器上等距离开设有凹槽,且软管缠绕在卷管器上的凹槽内。

10、通过上述方案,使得软管可随卷管器转动进行长度调节。

11、优选的,所述滤网从左至右滤孔孔径依次缩小,且过滤器内壁粘接有活性炭吸附棉。

12、通过上述方案,实现了多级过滤,同时能够对气体进行吸附净化。

13、优选的,所述干燥块为中空结构,且干燥块内填充有干燥剂。

14、通过上述方案,能够对气体进行干燥除湿。

15、优选的,所述流量计一侧设置露点仪,且露点仪上外置有控制开关。

16、通过上述方案,使得装置的控制变得方便快捷。

17、本实用新型的有益效果为:

18、本设计的一种样品处理器,通过设置有集气机构,通过设置有卷管器,缠绕在卷管器上的软管,软管一端连接的气泵,扩大了集气范围,提高了实用性;

19、本设计的一种样品处理器,通过设置有过滤机构,通过过滤器对样品气体进行过滤,除湿,过滤后的样品气体经过减压阀,采用控制阀体内的启闭件的开度来调节介质的流量,将介质的压力降低,减压后的样品经过流量阀,同时使用流量计实时显示当前流量,经过以上过滤、减压、限流后的样品再进入露点仪,实现对露点仪的保护,避免传感器超压损坏,仪器内部管路的脏污,降低仪器维修维护成本。



技术特征:

1.一种样品处理器,其特征在于,包括集气机构(1)和过滤机构(2);

2.根据权利要求1所述的一种样品处理器,其特征在于,所述支架(13)内部设置有转轴,且转轴贯穿支架(13)一侧连接有转动把手(15)。

3.根据权利要求1所述的一种样品处理器,其特征在于,所述卷管器(14)上等距离开设有凹槽,且软管(12)缠绕在卷管器(14)上的凹槽内。

4.根据权利要求1所述的一种样品处理器,其特征在于,所述滤网(23)从左至右滤孔孔径依次缩小,且过滤器(21)内壁粘接有活性炭吸附棉(27)。

5.根据权利要求1所述的一种样品处理器,其特征在于,所述干燥块(24)为中空结构,且干燥块(24)内填充有干燥剂。

6.根据权利要求1所述的一种样品处理器,其特征在于,所述流量计(26)一侧设置露点仪(28),且露点仪(28)上外置有控制开关(29)。


技术总结
本技术属于露点仪技术领域,尤其是一种样品处理器,针对背景技术提出的实用性较低和过滤调节效果不佳的两个问题,现提出以下方案,包括集气机构和过滤机构,集气机构包括气泵和气泵进气口一侧设置的软管,气泵与软管之间设置有支架,支架上设置有卷管器,过滤机构包括过滤器和过滤器一侧设置的减压阀,过滤器内部等距离设置有滤网,过滤器内部一侧设置有干燥块,减压阀一侧设置有流量阀,流量阀一侧设置有流量计。本技术扩大了集气范围,提高了实用性,过滤后的样品气体经过减压阀,将介质的压力降低,减压后的样品经过流量阀,同时使用流量计实时显示当前流量,经过过滤、减压、限流后的样品再进入露点仪,实现对露点仪的保护。

技术研发人员:苏康盛,潘万荣,朱广平
受保护的技术使用者:厦门瑞派尔仪器设备有限公司
技术研发日:20221202
技术公布日:2024/1/14
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