本技术涉及载料,尤其涉及一种芯片检测用载料结构。
背景技术:
1、芯片又称集成电路,在芯片使用前,会使用到载料机构,用于载接、存放芯片,存放芯片后,再对芯片进行检测。
2、载料结构在使用时,会将芯片进行载接、存放,存放好芯片后,再对芯片进行通电测试,检测芯片通电运行的情况,达到观察检测芯片的目的,但是芯片在载料使用时,由于检测时,需要芯片放置在工位,检测完成后,再将芯片转移,现在载料结构顶部转动连接一个托板,托板上滑动连接一个载料盘,载料盘用于存储芯片,托板可以转向,用于转动载料盘以及载料盘上载接的芯片,方便芯片转动切换位置,以便于芯片进行检测、切换位置。
技术实现思路
1、本实用新型的目的是提供一种芯片检测用载料结构。
2、为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
3、一种芯片检测用载料结构,包括载料盘,所述载料盘的中部安装有蓄电池,且载料盘的上端安置有上板,所述上板的左下端安置有转轴,且上板的内部开设有滑槽,所述滑槽的内侧安装有滑轨,且滑轨的顶部安置有上盘,所述上盘的前端右侧安装有显示屏,且上盘的内部左端安置有温度传感器,所述载料盘的右上端壁开设有滑口,且滑口的内侧安装有滑动机构。
4、优选的,所述滑动机构包括动板、滑杆和螺钉,且动板的左端安置有滑杆,所述载料盘的右上端壁穿设有螺钉。
5、优选的,所述动板、滑杆之间相固定连接,且载料盘通过滑口与滑杆构成滑动结构。
6、优选的,所述动板的水平中轴线与滑杆的水平中轴线相重合,同时载料盘与螺钉之间相螺纹连接。
7、优选的,所述载料盘通过转轴与上板构成旋转结构,且上板通过滑槽与滑轨构成滑动结构。
8、优选的,所述滑轨、上盘之间相固定连接,且上盘与显示屏、温度传感器均相固定。
9、本实用新型至少具备以下有益效果:
10、1、通过滑口与滑杆相配合活动,让滑杆沿着滑口的水平方向滑动位移,滑杆位移时,带动动板位移,位置可控可调的动板,在使用时更加灵活、方便,而动板上端用于存放芯片检测用器件,如万用表,同时拧紧螺钉,用于锁紧限位动板;
11、2、通过转轴旋转,转动上板,切换上板的朝向,而上板端部通过滑槽与滑轨相滑动,滑轨沿着滑槽的水平方向滑动位移,方便改变滑轨以及上盘的位置;
12、3、通过上盘用于存放芯片,对芯片进行载接、载料,同时温度传感器用于检测上盘的温度,当上盘上载接芯片时,芯片通电运行时,当芯片质量不过关时,必然会产生热量,经过温度传感器检测高温,显示屏用于显示,达到检测芯片的目的。
1.一种芯片检测用载料结构,包括载料盘(1),其特征在于,所述载料盘(1)的中部安装有蓄电池(2),且载料盘(1)的上端安置有上板(3),所述上板(3)的左下端安置有转轴(4),且上板(3)的内部开设有滑槽(5),所述滑槽(5)的内侧安装有滑轨(6),且滑轨(6)的顶部安置有上盘(7),所述上盘(7)的前端右侧安装有显示屏(8),且上盘(7)的内部左端安置有温度传感器(9),所述载料盘(1)的右上端壁开设有滑口(10),且滑口(10)的内侧安装有滑动机构(11)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用载料结构,其特征在于,所述滑动机构(11)包括动板(12)、滑杆(13)和螺钉(14),且动板(12)的左端安置有滑杆(13),所述载料盘(1)的右上端壁穿设有螺钉(14)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片检测用载料结构,其特征在于,所述动板(12)、滑杆(13)之间相固定连接,且载料盘(1)通过滑口(10)与滑杆(13)构成滑动结构。
4.根据权利要求2所述的一种芯片检测用载料结构,其特征在于,所述动板(12)的水平中轴线与滑杆(13)的水平中轴线相重合,同时载料盘(1)与螺钉(14)之间相螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片检测用载料结构,其特征在于,所述载料盘(1)通过转轴(4)与上板(3)构成旋转结构,且上板(3)通过滑槽(5)与滑轨(6)构成滑动结构。
6.根据权利要求1所述的一种芯片检测用载料结构,其特征在于,所述滑轨(6)、上盘(7)之间相固定连接,且上盘(7)与显示屏(8)、温度传感器(9)均相固定。