一种SOC芯片引脚复用的自动化测试装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，特别是指一种soc芯片引脚复用的自动化测试装置。

背景技术：

1、在芯片出厂之前，需要测试芯片的所有功能，而针对引脚复用的芯片，需要对同一引脚的不同功能逐一测试，而且不同的功能往往会有不同的供电电压。

2、目前已知的引脚/管脚复用soc(system on chip，片上系统)芯片功能测试有以下两种：

3、1、通常情况下，针对管脚复用的soc芯片的不同功能是使用不同的测试装置进行测试。同一芯片不仅需要多种配套测试装置，而且需要在不同的测试装置之间移动。测试成本较高，且效率低下，频繁移动芯片，增加损坏几率。

4、2、在soc芯片内部增加切换电路和控制电路，soc芯片可以控制复用管脚的使用功能，但是这无疑增加了soc芯片内部的硅片面积和成本，也造成晶圆的浪费，如专利文献cn101136005、wo2020232582等。

5、中国专利申请cn112988495a公开了一种soc芯片复用管脚的多功能测试方法、装置及系统，该测试系统由外部控制板、待测平台板、自动测试板和外部设备组成，至少存在以下缺点：

6、(1)使用板子较多，成本较高；

7、(2)使用外部控制板控制，不利于数据保存和自动化；

8、(3)对于自动测试板和外部设备切换电路实现方式没有描述。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是提供一种soc芯片引脚复用的自动化测试装置，能够降低soc芯片复用引脚的测试成本，提高soc芯片复用引脚测试效率，实现复用功能的自动测试。

2、为解决上述技术问题，本实用新型提供技术方案如下：

3、一种soc芯片引脚复用的自动化测试装置，包括上位机控制单元和测试单元，所述测试单元包括一块电路板，所述电路板上集成有待测soc芯片座、信号切换电路、供电切换电路、控制电路和至少两个复用功能验证电路，其中：

4、所述上位机控制单元通过第一通信接口连接所述待测soc芯片座，所述上位机控制单元通过第二通信接口连接所述控制电路；

5、所述供电切换电路的电源输入端连接有至少两个互不相同的电源，电源输出端连接所述待测soc芯片座；

6、所述待测soc芯片座的信号输出端经所述信号切换电路连接所述复用功能验证电路；

7、所述控制电路的控制信号输出端分别连接所述供电切换电路、待测soc芯片座和信号切换电路。

8、进一步的，所述上位机控制单元为电脑。

9、进一步的，所述第一通信接口为usb接口或其它非soc芯片复用引脚接口。

10、进一步的，所述第二通信接口为串行接口或其它通信接口。

11、进一步的，所述信号切换电路采用模拟开关芯片。

12、进一步的，所述模拟开关芯片为tmux1574芯片。

13、进一步的，所述供电切换电路采用固态继电器。

14、本实用新型具有以下有益效果：

15、本实用新型的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，简化了引脚复用soc芯片的测试装置，降低了测试成本，使用一个电路板便可以测试引脚复用soc芯片；能够实现soc芯片出厂前引脚复用功能的自动化智能测试，极大地提高了量产芯片引脚复用功能的测试效率，减少人力时间成本的投入，降低了芯片生产成本，缩短了芯片交付工期。

技术特征：

1.一种soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，包括上位机控制单元和测试单元，所述测试单元包括一块电路板，所述电路板上集成有待测soc芯片座、信号切换电路、供电切换电路、控制电路和至少两个复用功能验证电路，其中：

2.根据权利要求1所述的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，所述上位机控制单元为电脑。

3.根据权利要求1所述的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，所述第一通信接口为usb接口。

4.根据权利要求1所述的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，所述第二通信接口为串行接口。

5.根据权利要求1所述的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，所述信号切换电路采用模拟开关芯片。

6.根据权利要求5所述的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，所述模拟开关芯片为tmux1574芯片。

7.根据权利要求1所述的soc芯片引脚复用的自动化测试装置，其特征在于，所述供电切换电路采用固态继电器。

技术总结
本技术公开了一种SOC芯片引脚复用的自动化测试装置，属于芯片测试技术领域，所述自动化测试装置包括上位机控制单元和测试单元，测试单元包括一块电路板，电路板上集成有待测SOC芯片座、信号切换电路、供电切换电路、控制电路和至少两个复用功能验证电路，其中：供电切换电路的电源输入端连接有至少两个互不相同的电源，电源输出端连接待测SOC芯片座；待测SOC芯片座的信号输出端经信号切换电路连接复用功能验证电路；控制电路的控制信号输出端分别连接供电切换电路、待测SOC芯片座和信号切换电路。本技术能够降低SOC芯片复用引脚的测试成本，提高SOC芯片复用引脚测试效率，实现复用功能的自动测试。

技术研发人员：王立川
受保护的技术使用者：山东方寸微电子科技有限公司
技术研发日：20221205
技术公布日：2024/1/12