抗振晶振振动相噪测试夹具的制作方法

文档序号:34359002发布日期:2023-06-04 16:03阅读:63来源:国知局
抗振晶振振动相噪测试夹具的制作方法

本技术涉及抗振晶振测试,尤其涉及一种抗振晶振振动相噪测试夹具。


背景技术:

1、目前在晶振生产制造中,相位噪声是由频域不稳定性引起的,相位噪声描述了晶振在频域中的稳定性,振动相噪就会更差,对于应用于如弹载、机载晶振中,需要测试晶振在振动时的相位噪声。

2、在生产测试中,每次只能测试一颗晶振,晶振组装在振动台上,连接到测试仪器上的过程不方便,需要用焊锡焊线在晶振的引脚上,多次测试后,导致线会断,影响测试效率。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种抗振晶振振动相噪测试夹具,解决了晶振测试晶振组装在振动台上,连接到测试仪器上的过程不方便,影响测试效率的问题。

2、为实现上述目的,本实用新型采用的一种抗振晶振振动相噪测试夹具,包括pcb板、金属基座、多个sma射频头、多个电容和多个金属插座,所述金属基座设置于所述pcb板的下方,每个所述sma射频头分别与所述pcb板连接,所述pcb板上设置有所述电容,每个所述金属插座分别与所述pcb板连接。

3、使用所述pcb板与所述金属插座作为媒介,来连接被测晶振与测试仪器,被测抗振晶振引脚插入至所述金属插座,测试电缆连接至所述sma射频头,通所述过sma射频头直接输出被测抗振晶振信号,获得提高抗振晶振振动相噪测试效率的效果。

4、其中,所述抗振晶振振动相噪测试夹具还包括爪簧,每个所述金属插座内均设置有所述爪簧。

5、被测抗振晶振引脚插入至所述金属插座,使用所述爪簧可以将被测晶振引脚牢固接触,形成良好的电气连接。

6、其中,所述抗振晶振振动相噪测试夹具还包括橡皮绑绳,所述橡皮绑绳缠绕于所述pcb板的外侧。

7、将被测抗振晶振与所述pcb板用所述橡皮绑绳牢固绑定为一个整体,保证测试振动相位噪声时被测抗振晶振不移位。

8、其中,所述pcb板上具有电源线接线点。

9、使用电源供电线连接至所述电源线接线点,电源供电线为测试过程中对被测抗振晶振提供电源。

10、其中,所述pcb板上具有第一焊孔、第二焊孔、第三焊孔和第四焊孔,所述金属基座具有第五焊孔、第六焊孔、第七焊孔和第八焊孔,且所述第五焊孔与所述第一焊孔对应,所述第六焊孔与所述第二焊孔对应,所述第七焊孔与所述第三焊孔对应,所述第八焊孔与所述第四焊孔对应。

11、分别将所述第五焊孔与所述第一焊孔焊接,将所述第七焊孔与所述第三焊孔焊接,将所述第七焊孔与所述第三焊孔焊接,将所述第八焊孔与所述第四焊孔焊接,将所述pcb板和所述金属基座之间进行焊接固定。

12、本实用新型的一种抗振晶振振动相噪测试夹具,使用所述pcb板与所述金属插座作为媒介,来连接被测晶振与测试仪器,被测抗振晶振引脚插入至所述金属插座,测试电缆连接至所述sma射频头,通所述过sma射频头直接输出被测抗振晶振信号,获得提高抗振晶振振动相噪测试效率的效果。



技术特征:

1.一种抗振晶振振动相噪测试夹具,其特征在于,

2.如权利要求1所述的抗振晶振振动相噪测试夹具,其特征在于,

3.如权利要求1所述的抗振晶振振动相噪测试夹具,其特征在于,

4.如权利要求1所述的抗振晶振振动相噪测试夹具,其特征在于,

5.如权利要求1所述的抗振晶振振动相噪测试夹具,其特征在于,


技术总结
本技术涉及抗振晶振测试技术领域,具体涉及一种抗振晶振振动相噪测试夹具;包括PCB板、金属基座、多个SMA射频头、多个电容和多个金属插座,金属基座设置于PCB板的下方,每个SMA射频头分别与PCB板连接,PCB板上设置有电容,每个金属插座分别与PCB板连接,通过使用PCB板与金属插座作为媒介,来连接被测晶振与测试仪器,被测抗振晶振引脚插入至金属插座,测试电缆连接至SMA射频头,通过SMA射频头直接输出被测抗振晶振信号,获得提高抗振晶振振动相噪测试效率的效果。

技术研发人员:赵永春,李冬强,高志祥,孙刚,芮扬
受保护的技术使用者:南京中电熊猫晶体科技有限公司
技术研发日:20221212
技术公布日:2024/1/12
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