一种简易电阻率测试装置的制作方法

本技术涉及电阻测量，具体涉及一种简易电阻率测试装置。

背景技术：

1、四探针测试仪是在薄膜电阻生产过程中用来测试薄膜电阻率的测试仪器，如图1所示，现有技术，薄膜电阻一般采用四探针测试仪进行测试，测试时将四探针测试仪的测试探针以一定的力度按压在测试膜面并保持相对静止，待测试数据稳定后测试仪器记录下测试数据。但在实际使用过程中存在一定的不便：1、探针较尖，容易刺穿薄膜；2探针间距离太近，测试误差大；3、测试成本较高。因此，有待于开发一款新的测试设备来解决现有测试仪存在的缺陷。

技术实现思路

1、为了克服现有技术中存在的缺点和不足，本实用新型的目的在于提供一种简易电阻率测试装置，该测试装置结构简单，操作方便，测试精度高，通过设置升降定位组件可控制探针受到的按压力度，避免因压力不同造成的测试误差，同时增加了探针与薄膜接触面积，避免刺穿薄膜，控制探针间距离，可减小测试误差，提高了工作效率，降低测试成本。

2、本实用新型的目的通过下述技术方案实现：一种简易电阻率测试装置，包括底座、固定架、升降机构、升降定位组件、显示器和若干探针，所述固定架设置于所述底座的上端面，所述升降机构架设于所述固定架内，所述升降定位组件套设于所述升降机构的上端，升降定位组件位于固定架的上端面，所述探针间隔固定于所述升降机构的下端部，所述探针与所述显示器电连接。

3、进一步的，所述升降机构包括升降杆、定位杆、升降架和一组定位杆，所述定位杆设置于所述固定架内，所述定位杆的上端固定于固定架上端，定位杆的下一端固定于底座的上端面，所述升降架设置于两个定位杆之间，且的升降架两端均套设于所述定位杆，所述升降杆自上而下贯穿固定架，且升降杆的下端与所述升降架固定连接，所述升降定位组件套设于所述升降杆的上端，升降定位组件位于固定架的上端面。

4、进一步的，所述升降定位组件包括升降齿轮组件和旋钮，所述升降齿轮组件套设于所述升降杆，所述固定件的下端与所述固定架的上端面固定，所述旋钮设置于所述升降齿轮组件一侧能驱动升降杆上下移动。

5、进一步的，所述升降齿轮组件包括固定件和螺钉齿轮，所述升降杆的表面对应于所述螺钉齿轮设有齿槽，所述固定件套设于所述升降杆，所述螺钉齿轮贯穿所述固定件，且所述螺钉齿轮的一端与所述齿槽齿合，所述螺钉齿轮的另一端与所述旋钮连接。

6、进一步的，所述旋钮内设有测力组件。

7、进一步的，所述测力组件为棘轮。

8、进一步的，所述底座的上端面为测试台，测试台对应于所述探针位置凹设有定位槽。

9、进一步的，所述探针为长为10mm的铜块。

10、本实用新型的有益效果在于：本实用新型的测试装置结构简单，操作方便，测试精度高，通过设置升降定位组件可控制探针受到的按压力度，避免因压力不同造成的测试误差，同时增加了探针与薄膜接触面积，避免刺穿薄膜，控制探针间距离，可减小测试误差，提高了工作效率，降低测试成本。

技术特征：

1.一种简易电阻率测试装置，其特征在于：包括底座、固定架、升降机构、升降定位组件、显示器和若干探针，所述固定架设置于所述底座的上端面，所述升降机构架设于所述固定架内，所述升降定位组件套设于所述升降机构的上端，升降定位组件位于固定架的上端面，所述探针间隔固定于所述升降机构的下端部，所述探针与所述显示器电连接。

2.根据权利要求1所述的一种简易电阻率测试装置，其特征在于：所述升降机构包括升降杆、定位杆、升降架和一组定位杆，所述定位杆设置于所述固定架内，所述定位杆的上端固定于固定架上端，定位杆的下一端固定于底座的上端面，所述升降架设置于两个定位杆之间，且的升降架两端均套设于所述定位杆，所述升降杆自上而下贯穿固定架，且升降杆的下端与所述升降架固定连接，所述升降定位组件套设于所述升降杆的上端。

3.根据权利要求2所述的一种简易电阻率测试装置，其特征在于：所述升降定位组件包括升降齿轮组件和旋钮，所述升降齿轮组件套设于所述升降杆，所述旋钮设置于所述升降齿轮组件一侧能驱动升降杆上下移动。

4.根据权利要求3所述的一种简易电阻率测试装置，其特征在于：所述升降齿轮组件包括固定件和螺钉齿轮，所述升降杆的表面对应于所述螺钉齿轮设有齿槽，所述固定件套设于所述升降杆，所述螺钉齿轮贯穿所述固定件，且所述螺钉齿轮的一端与所述齿槽齿合，所述螺钉齿轮的另一端与所述旋钮连接。

5.根据权利要求3所述的一种简易电阻率测试装置，其特征在于：所述旋钮内设有测力组件。

6.根据权利要求5所述的一种简易电阻率测试装置，其特征在于：所述测力组件为棘轮。

7.根据权利要求1所述的一种简易电阻率测试装置，其特征在于：所述底座的上端面为测试台，测试台对应于所述探针位置凹设有定位槽。

技术总结
本技术涉及电阻测量技术领域，具体涉及一种简易电阻率测试装置，包括底座、固定架、升降机构、升降定位组件、显示器和若干探针，所述固定架设置于所述底座的上端面，所述升降机构架设于所述固定架内，所述升降定位组件套设于所述升降机构的上端，升降定位组件位于固定架的上端面，所述探针间隔固定于所述升降机构的下端部，所述探针与所述显示器电连接。本技术的测试装置结构简单，操作方便，测试精度高，通过设置升降定位组件可控制探针受到的按压力度，避免因压力不同造成的测试误差，同时增加了探针与薄膜接触面积，避免刺穿薄膜，控制探针间距离，可减小测试误差，提高了工作效率，降低测试成本。

技术研发人员：赖德权,杨述腾,李召平
受保护的技术使用者：东莞瑞泰新材料科技有限公司
技术研发日：20221216
技术公布日：2024/1/15