本技术涉及一种校准装置,具体为射频芯片测试夹具校准装置,属于校准装置。
背景技术:
1、目前的射频芯片是没有标准的同轴连接器测试接口的,因此需要使用测试夹具将芯片的点状接口转成同轴接口,以便对射频芯片进行测试。使用微波测试仪表的工程师都知道,仪表使用前都需要进行外部附件校准,而目前校准件只有标准同轴接口的,意味着无法对射频芯片的测试装置校准,未校准的夹具带来的测试误差是在射频测试系统无法接受的。
2、现有的射频测试夹具为单端接口,一边是同轴连接器仪表,一边是非同轴连接芯片,所以导致校准件无法与非同轴连接,测试夹具在整个测试系统无法校准,进而测试夹具的损耗无法补偿到系统中,造成测试指标不准确,测试出的指标无法反映被测产品的真实情况,为此,提出一种射频芯片测试夹具校准装置。
技术实现思路
1、有鉴于此,本实用新型希望提供一种射频芯片测试夹具校准装置,以解决或缓解现有技术中存在的技术问题,至少提供一种有益的选择。
2、本实用新型实施例的技术方案是这样实现的:一种射频芯片测试夹具校准装置,包括校准组件,所述校准组件包括安装板、连接线、通孔、接触端子、凹槽、避让槽、盖板、同轴连接器、同轴转接板和四个定位销;
3、所述凹槽开设于所述安装板的上表面,所述通孔开设于所述凹槽的内底壁,所述接触端子外侧壁滑动连接于所述通孔的内侧壁,所述盖板的下表面贴合于所述凹槽的内底壁,所述避让槽开设于所述盖板的上表面,所述连接线的一端固定连接于所述接触端子的上表面,所述连接线的另一端与所述同轴连接器固定连接,四个所述定位销对称固定连接于所述安装板的下表面,所述同轴转接板固定连接于四个所述定位销的外侧壁底部,所述接触端子的下表面贴合于所述同轴转接板的上表面。
4、进一步优选的,所述连接线靠近所述盖板的一端位于所述避让槽的内部,所述盖板通过四个螺栓固定连接于所述凹槽的内底壁。
5、进一步优选的,所述盖板的下表面贴合于所述接触端子的上表面。
6、进一步优选的,所述同轴转接板的下表面安装有测试夹具组件,所述测试夹具组件包括安装座、安装槽、测试夹具接口、底板、底座和旋转座;
7、所述安装槽开设于所述安装座的上表面,所述测试夹具接口安装于所述安装槽的内底壁。
8、进一步优选的,所述同轴转接板的下表面贴合于所述测试夹具接口的上表面。
9、进一步优选的,所述安装板通过四个螺栓安装于所述安装槽的内底壁。
10、进一步优选的,所述安装座安装于所述底座的上表面,所述底座安装于所述底板的上表面。
11、进一步优选的,所述旋转座转动连接于所述底座的上表面后部。
12、本实用新型实施例由于采用以上技术方案,其具有以下优点:本实用新型通过安装板压紧同轴转接板与测试夹具接口接触,可以保证同轴转接板与测试夹具接口接触良好,通过盖板压紧接触端子,可以使接触端子保持与同轴转接板紧密接触,将同轴连接器与外部测量仪表连接,进而实现了测试仪表与测试夹具接口的连通,此时通过仪表可以对测试夹具的驻波和损耗进行校准,解决了测试夹具芯片端口到测试仪表端校准连接的问题,可以将产品最真实的指标测试出来,达到了工程师精确测量产品的目的。
13、上述概述仅仅是为了说明书的目的,并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外,通过参考附图和以下的详细描述,本实用新型进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。
1.一种射频芯片测试夹具校准装置,包括校准组件(101),其特征在于:所述校准组件(101)包括安装板(11)、连接线(12)、通孔(13)、接触端子(14)、凹槽(15)、避让槽(16)、盖板(17)、同轴连接器(18)、同轴转接板(20)和四个定位销(23);
2.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述连接线(12)靠近所述盖板(17)的一端位于所述避让槽(16)的内部,所述盖板(17)通过四个螺栓固定连接于所述凹槽(15)的内底壁。
3.根据权利要求2所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述盖板(17)的下表面贴合于所述接触端子(14)的上表面。
4.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述同轴转接板(20)的下表面安装有测试夹具组件(301),所述测试夹具组件(301)包括安装座(19)、安装槽(21)、测试夹具接口(22)、底板(31)、底座(32)和旋转座(34);
5.根据权利要求4所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述同轴转接板(20)的下表面贴合于所述测试夹具接口(22)的上表面。
6.根据权利要求4所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述安装板(11)通过四个螺栓安装于所述安装槽(21)的内底壁。
7.根据权利要求4所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述安装座(19)安装于所述底座(32)的上表面,所述底座(32)安装于所述底板(31)的上表面。
8.根据权利要求4所述的一种射频芯片测试夹具校准装置,其特征在于:所述旋转座(34)转动连接于所述底座(32)的上表面后部。