本申请涉及芯片,尤其涉及一种测试装置和测试设备。
背景技术:
1、储存卡一般是用于手机、数码相机、便携式电脑、mp3和其它数码产品上的独立存储介质,一般是卡片的形态。nm存储卡(nano memory card,简称nm卡)是华为自创的一种超微型存储卡,与micro sd存储卡相比,体积减小45%,和nano sim卡的规格几乎完全相同。华为nm存储卡的顺序读取速率可达90mb/s,顺序写入速率达70mb/s。需要使用手机中的一个nano sim卡槽,实现手机存储的扩展,增大手机存储容量。
2、储存卡在晶圆在封装过程中,进行打线(wire bonding)后需要对其进行一个检测,检测是否在使用时存在接触不良的情况,整个检测过程利用检测装置实现;但是目前的检测设备在检测时,由于插装nm卡的测试承载板中布线空间限制,导致布线过长,信号传输不稳定,导致有可能出现检测失误的情况。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种测试装置和测试设备,通过双面设置测试座的方式减少测试承载板的走线长度的方式,避免信号传输不稳定。
2、本申请公开了一种测试装置,用于测试nm储存卡大板,所述nm储存卡大板上设置有多个未切割的nm储存卡所述测试装置包括:测试承载板、测试座和测试板;所述测试承载板上设置有nm放置区和两个测试连接区,两个所述测试连接区分别设置在所述测试承载板的正反两面;所述nm储存卡大板设置在所述nm放置区,且与测试板的内部电路连通;所述测试座分别设置在所述测试连接区,所述测试座用于连接所述测试板,所述测试板用于检测nm储存卡大板并输出数据。
3、可选的,所述测试连接区设置有多个贴片,所述测试座采用贴片封装的方式固定在所述测试承载板上。
4、可选的,两个所述测试连接区分别为正面测试连接区和反面测试连接区,所述正面测试连接区设置在所述测试承载板的正面,所述反面测试连接区设置在所述测试承载板的反面;设置在所述正面测试连接区的测试座为正面测试座,设置在所述反面测试连接区的测试座为反面测试座;在所述测试承载板的投影上,多个所述正面测试座与多个所述反面测试座交错设置。
5、可选的,所述测试承载板上还设置有多个定位孔,多个所述定位孔围绕所述nm放置区设置;所述nm储存卡大板上设置有多个通孔,多个定位孔与多个所述通孔一一对应设置。
6、可选的,所述测试装置还包括多条排线,所述测试座上设置有排线接口,多条排线分别连接至多个所述测试座的排线接口上,多条排线的另一端连接至所述测试板上。
7、可选的,所述测试座上设置有插针接口,所述测试板上设置有插针,所述测试板的插针直接插入所述插针接口。
8、可选的,所述nm放置区设置有多个nm贴片接口,分别与nm储存卡大板上的多个nm储存卡的引脚对应设置。
9、可选的,所述测试装置还包括nm放置座,所述nm储存卡大板设置在所述nm放置座上,并与测试座,所述测试nm放置座的内部设置有多个顶针,所述顶针穿过所述nm放置座,多个所述顶针的一端与所述nm放置区中的多个nm贴片接口一一对应连接,多个所述顶针的一端与nm储存卡大板上的多个nm储存卡的引脚一一对应连接,所述nm储存卡大板固定在所述nm放置座上。
10、可选的,所述测试承载板内部设置有走线,所述走线连接于所述nm放置区和所述测试连接区。
11、本申请还公开了一种测试设备,其特征在于,包括上的测试装置。
12、本申请通过重新设计测试承载板上的电路布局,主要将测试座设置在测试承载板的两面,分别通过测试座连接到不同的测试板。而且通过将测试座两面设计后,各测试座与nm放置区之间的距离较为接近,且由于不需要在全部正面排布,节省了正面的布局空间,更缩短了测试座与nm放置区之间的走线距离,使得走线更短,更有利于信号传输,且信号传输更为稳定;也可以降低测试装置的功耗等。从另一方面来说,可减少测试承载板大小。需要理解的是,本申请针对的nm储存卡大板指的是还未切割成单个储存卡的大板。因而在测试过程中,需要对大板中的每一单个的储存卡进行测试,对于线路布局更为复杂,所需稳定性更高。
1.一种测试装置,用于测试nm储存卡大板,所述nm储存卡大板上设置有多个未切割的nm储存卡,其特征在于,所述测试装置包括:测试承载板、测试座和测试板;
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试连接区设置有多个贴片,所述测试座采用贴片封装的方式固定在所述测试承载板上。
3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,两个所述测试连接区分别为正面测试连接区和反面测试连接区,所述正面测试连接区设置在所述测试承载板的正面,所述反面测试连接区设置在所述测试承载板的反面;设置在所述正面测试连接区的测试座为正面测试座,设置在所述反面测试连接区的测试座为反面测试座;在所述测试承载板的投影上,多个所述正面测试座与多个所述反面测试座交错设置。
4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试承载板上还设置有多个定位孔,多个所述定位孔围绕所述nm放置区设置;
5.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括多条排线,所述测试座上设置有排线接口,多条排线分别连接至多个所述测试座的排线接口上,多条排线的另一端连接至所述测试板上。
6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试座上设置有插针接口,所述测试板上设置有插针,所述测试板的插针直接插入所述插针接口。
7.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述nm放置区设置有多个nm贴片接口,分别与nm储存卡大板上的多个nm储存卡的引脚对应设置。
8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括nm放置座,所述nm储存卡大板设置在所述nm放置座上,并与测试座,所述测试nm放置座的内部设置有多个顶针,所述顶针穿过所述nm放置座,多个所述顶针的一端与所述nm放置区中的多个nm贴片接口一一对应连接,多个所述顶针的一端与nm储存卡大板上的多个nm储存卡的引脚一一对应连接,所述nm储存卡大板固定在所述nm放置座上。
9.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试承载板内部设置有走线,所述走线连接于所述nm放置区和所述测试连接区。
10.一种测试设备,其特征在于,包括上述权利要求1-9任意一项所述的测试装置。