测光装置和分析装置的制作方法

本发明主要涉及分析样本与试剂的反应液的分析装置。

背景技术：

1、以往，已知有通过使样本与试剂反应来分析该样本的成分的分析装置。在这种分析装置中，将收容有样本及试剂的多个试管呈环状配置在试管工作台上，使试管工作台旋转，使试管经过测光位置，测光位置位于光源与分光检测器之间，光源与分光检出器隔着试管被配置。此时，从透过试管的光量测定吸光度，由此分析样本的成分。

2、根据分析装置中使用的试剂，有仅凭吸光度无法高灵敏度地测定的项目。因此，存在利用光照射试剂时光散射的特性的技术(例如，专利文献1)。在专利文献1中公开了一种自动分析装置，其具备：反应盘(试管工作台)，将反应容器(试管)保持在圆周上并反复旋转和停止；光源，配置在测光位置，并且向收容试样与试剂的混合液的反应容器照射光；以及检测器(受光元件)，检测来自混合液的散射光或透射光，该自动分析装置的特征在于，检测器在与由反应盘的旋转引起的反应容器的移动方向垂直的面内，以来自光源的照射光的光轴为中心等角度或等间隔地对称配置1组以上，将来自各检测器的光量数据平均化而得到的值和/或和用于混合液内的测定对象物质浓度的计算。即，在专利文献1中，由在上下方向上呈线状配置的受光元件接收散射光。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1：日本专利第5481402号

技术实现思路

1、发明所要解决的课题

2、粒子的散射光的强度与透射光相比非常小。另外，在粒子中产生基于水分子的热运动的波动(布朗运动)，由于该波动，散射光量的分布根据放射方向而存在较大的偏差。在专利文献1中，由于接收散射光的受光元件被配置为线状，因此存在无法利用短时间的测光(例如100us)测定准确的散射光的强度的问题。

3、本发明是为了解决上述问题而完成的，其课题在于提供一种能够在短时间内测定准确的散射光的强度的测光装置。

4、用于解决课题的手段

5、本发明的测光装置的特征在于，具备：光源，向被配置于测光位置的试管的被照射区域照射光；基座部件，与所述光源对置；以及多个第一受光元件，在所述基座部件上，被配置于以从所述测光位置的所述试管射出的透射光的光轴为中心的由第一放射方向和第二放射方向划分的面状区域，分别接收从所述试管散射的散射光。

6、发明效果

7、根据本发明，能够提供一种能够在短时间内测定准确的散射光的强度的测光装置。

技术特征：

1.一种测光装置，具备：

2.根据权利要求1所述的测光装置，

3.根据权利要求1或2所述的测定装置，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测光装置，

5.根据权利要求4所述的测光装置，

6.根据权利要求5所述的测光装置，

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测光装置，

8.根据权利要求1至7中任一项所述的测光装置，

9.根据权利要求5或6所述的测光装置，

10.根据权利要求1至9中任一项所述的测光装置，

11.根据权利要求1至10中任一项所述的测光装置，

12.一种分析装置，具备：

技术总结
本发明提供一种能够在短时间内测定准确的散射光的强度的测光装置。测光装置(5)包括：光源(51)，向被配置于测光位置(P)的试管(2)的被照射区域照射光；基座部件(52)，与光源(51)对置；以及多个第一受光元件(53)，在基座部件(52)上，被配置于以从测光位置(P)的试管(2)射出的透射光的光轴为中心的由第一放射方向和第二放射方向划分的面状区域，分别接收从测光位置(P)的试管(2)散射的散射光。

技术研发人员：米山坚志
受保护的技术使用者：古野电气株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/22