检测装置以及检测方法与流程

本公开涉及检测装置以及检测方法。

背景技术：

1、如专利文献1所示那样，公知有使用电磁波来对检测对象物的状态进行检测的检测装置。专利文献1所记载的检测装置对检测对象物照射作为电磁波的太赫兹电磁波，通过对由该检测对象物反射的太赫兹电磁波进行检测，来对检测对象物的状态进行检测。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本专利第5144175号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的课题

2、在如上述那样对从检测对象物反射的电磁波进行检测的检测装置中，存在从检测对象物反射的电磁波的强度变小的情况。该情况下，噪声的影响容易变大，担心检测精度下降。

3、用于解决课题的方案

4、作为本公开的一个方案的检测装置具备：发送部，其产生电磁波，且朝向检测对象区域照射该电磁波；反射部，其设于从上述发送部照射的电磁波的光路上，对通过了上述检测对象区域至少一部分的电磁波进行反射；以及接收部，其接收由上述反射部反射的电磁波，上述发送部经由将上述发送部以及上述接收部与上述检测对象区域分隔的分隔部件朝向上述检测对象区域照射电磁波，上述接收部接收由上述反射部反射并且经由上述分隔部件从上述检测对象区域输入的电磁波。

5、作为本公开的一个方案的检测方法是使用具备产生电磁波的发送部和接收电磁波的接收部的检测装置对检测对象区域内的检测对象物进行检测的检测方法，其包括：上述发送部经由将上述发送部以及上述接收部与上述检测对象区域分隔的分隔部件，朝向上述检测对象区域照射电磁波；设置在从上述发送部照射的电磁波的光路上的反射部对通过了上述检测对象区域至少一部分的电磁波进行反射；以及上述接收部接收由上述反射部反射并且经由上述分隔部件从上述检测对象区域输入的电磁波。

6、发明的效果

7、根据上述检测装置以及检测方法，能够抑制检测精度的下降。

技术特征：

1.一种检测装置，其特征在于，具备：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，

7.根据权利要求5或6所述的检测装置，其特征在于，

8.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，

9.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

10.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，

11.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，

12.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

13.根据权利要求12所述的检测装置，其特征在于，

14.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

15.根据权利要求14所述的检测装置，其特征在于，

16.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

17.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

18.根据权利要求1～17中任一项所述的检测装置，其特征在于，

19.根据权利要求1～18中任一项所述的检测装置，其特征在于，

20.一种检测方法，是使用具备产生电磁波的发送部和接收电磁波的接收部的检测装置对检测对象区域内的检测对象物进行检测的检测方法，其特征在于，包括：

技术总结
检测装置具备产生电磁波的发送部、反射电磁波的划分底部、以及接收电磁波的接收部。发送部经由将发送部以及接收部与检测对象区域分隔的分隔部件朝向检测对象区域照射电磁波。划分底部设置在从发送部照射的电磁波的光路上，对通过了检测对象区域至少一部分的电磁波进行反射。接收部接收由划分底部反射而且经由分隔部件从检测对象区域输入的电磁波。

技术研发人员：鹤田一魁
受保护的技术使用者：罗姆股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/25