校正装置、系统、方法以及程序与流程

本发明涉及对伪像进行校正的校正装置、系统、方法以及程序。

背景技术：

1、ct装置从在使试样或机架旋转的同时取得的多个投影像重构ct图像。在ct装置中使用连续x射线，由于每种物质在各能量时的线吸收系数不同，因此在重构的ct图像中产生由射束硬化效应引起的伪像。

2、为了减少这样的由射束硬化效应引起的伪像，以往是利用硬件、软件进行校正。作为利用软件的校正方法，例如，专利文献1公开了通过进行重构图像的分段(segmentation)确定出物质，利用该物质的线吸收系数反复进行重构来减少伪像的技术。另外，专利文献2公开了一种技术，其为了使得产生有金属伪像的原始ct图像与进行考虑了物质的x射线吸收系数的能量依赖性的正向投影计算和使用了单一波长用图像重构算法的反向投影计算而得到的ct图像的差异变小，通过反复进行正向投影计算和反向投影计算来减少伪像。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1：日本特开2010-068832号公报

6、专利文献2：日本特开2017-221339号公报

技术实现思路

1、发明要解决的问题

2、然而，专利文献1所述的技术需要事先知道试样的质量密度、质量吸收系数这样的物性值。另外，需要反复进行分段和重构，因此花费计算成本。专利文献2所述的技术需要反复进行正向投影计算和反向投影计算，因此花费计算成本。

3、本发明是鉴于这种情况而完成的，其目的在于提供能够降低用于对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的计算成本的校正装置、系统、方法以及程序。

4、用于解决问题的方案

5、(1)为了达到上述的目的，本发明的校正装置是对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的校正装置，其特征在于，具备：入射x射线分布取得部，其取得入射x射线分布；线吸收系数模型取得部，其取得用包含参数的比例因子表示出线吸收系数的能量依赖性的线吸收系数模型；投影像取得部，其取得投影像；以及校正部，其使用所述入射x射线分布和所述线吸收系数模型对所述投影像进行校正。

6、(2)另外，在本发明的校正装置中，其特征在于，所述线吸收系数模型由基准能量时的线吸收系数与所述比例因子的乘积来表示。

7、(3)另外，在本发明的校正装置中，其特征在于，所述线吸收系数模型的所述参数是1个参数。

8、(4)另外，在本发明的校正装置中，其特征在于，所述比例因子由以幂指数为所述参数的幂函数来表示。

9、(5)另外，在本发明的校正装置中，其特征在于，所述线吸收系数模型的所述参数基于所述入射x射线分布的能量范围来决定。

10、(6)另外，在本发明的校正装置中，其特征在于，所述线吸收系数模型的所述参数根据代表性的元素组的线吸收系数来决定。

11、(7)另外，在本发明的校正装置中，其特征在于，所述入射x射线分布取得部基于单色x射线的条数、强度以及能量值取得所述入射x射线分布。

12、(8)另外，本发明的校正装置的特征在于，具备：重构部，其基于由所述校正部校正后的所述投影像进行重构，生成ct图像；以及显示部，其使显示装置显示所述ct图像。

13、(9)另外，本发明的系统的特征在于，具备：ct装置，其具备：x射线源，其产生x射线；检测器，其检测x射线；以及旋转控制单元，其控制所述x射线源和所述检测器、或者试样的旋转；以及上述(1)至(8)中的任意一项所述的校正装置。

14、(10)另外，本发明的方法是对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的方法，其特征在于，包含：取得入射x射线分布的步骤；取得用包含参数的比例因子表示出线吸收系数的能量依赖性的线吸收系数模型的步骤；取得投影像的步骤；以及使用所述入射x射线分布和所述线吸收系数模型对所述投影像进行校正的步骤。

15、(11)另外，本发明的程序是对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的程序，其特征在于，使计算机执行如下处理：取得入射x射线分布的处理；取得用包含参数的比例因子表示出线吸收系数的能量依赖性的线吸收系数模型的处理；取得投影像的处理；以及使用所述入射x射线分布和所述线吸收系数模型对所述投影像进行校正的处理。

技术特征：

1.一种校正装置，是对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的校正装置，其特征在于，具备：

2.根据权利要求1所述的校正装置，其特征在于，

3.根据权利要求1或权利要求2所述的校正装置，其特征在于，

4.根据权利要求1至权利要求3中的任意一项所述的校正装置，其特征在于，

5.根据权利要求1至权利要求4中的任意一项所述的校正装置，其特征在于，

6.根据权利要求1至权利要求5中的任意一项所述的校正装置，其特征在于，

7.根据权利要求1至权利要求6中的任意一项所述的校正装置，其特征在于，

8.根据权利要求1至权利要求7中的任意一项所述的校正装置，其特征在于，具备：

9.一种系统，其特征在于，具备：

10.一种方法，是对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的方法，其特征在于，包含：

11.一种程序，是对ct图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的程序，其特征在于，使计算机执行如下处理：

技术总结
提供能够降低用于对CT图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的计算成本的校正装置、系统、方法以及程序。一种对CT图像的重构中的由射束硬化效应引起的伪像进行校正的校正装置(400)，具备：入射X射线分布取得部(410)，其取得入射X射线分布；线吸收系数模型取得部(420)，其取得用包含参数的比例因子表示出线吸收系数的能量依赖性的线吸收系数模型；投影像取得部(430)，其取得投影像；以及校正部(440)，其使用所述入射X射线分布和所述线吸收系数模型对所述投影像进行校正。

技术研发人员：太田卓见
受保护的技术使用者：株式会社理学
技术研发日：
技术公布日：2024/3/17