功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明涉及功率半导体器件，尤其涉及一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、老化为功率半导体器件的正常失效现象，并且功率半导体器件的老化程度是随时间递增的。

2、目前，在功率半导体器件应用之前，会根据典型工况、恶性工况的发生概率来定义老化降额，但是该方式需要大量的数据支撑，并且还涉及到分解不同工况与老化程度的关系，方案实现难度高且数据处理量较大，无法适用于功率半导体器件老化程度的在线判断。

3、上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于提供了一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中无法对功率半导体器件的老化程度进行在线判断的技术问题。

2、为实现上述目的，本发明提供了一种功率半导体器件老化判定方法，该方法包括以下步骤：

3、获取功率半导体器件的结温采样值；

4、根据结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；

5、根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度。

6、可选的，根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度，包括：

7、判断结温差值是否大于或等于预设结温差阈值；

8、若判断结果为结温差值大于或等于预设结温差阈值，则根据结温差值和预设结温差区间确定功率半导体器件的老化程度。

9、可选的，根据结温差值和预设结温差区间确定功率半导体器件的老化程度，包括：

10、确定结温差值所属的预设结温差区间；

11、根据预设结温差区间确定功率半导体器件的老化程度。

12、可选的，判断结温差值是否大于或等于预设结温差阈值之后，还包括：

13、若判断结果为结温差值小于预设结温差阈值，则判定功率半导体器件未发生老化。

14、可选的，根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度之后，还包括；

15、根据老化程度在线下调功率半导体器件的输出电流。

16、可选的，根据老化程度在线下调功率半导体器件的输出电流，包括：

17、确定老化程度对应的降额区间；

18、根据降额区间在线下调功率半导体器件的输出电流。

19、可选的，获取功率半导体器件的结温采样值和在线结温估算值之前，还包括：

20、通过温度二极管和采样电路对功率半导体器件进行结温采样，获得功率半导体器件的结温采样值。

21、此外，为实现上述目的，本发明还提出一种功率半导体器件老化判定装置，该装置包括：

22、获取模块，用于获取功率半导体器件的结温采样值；

23、确定模块，用于根据结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；

24、判断模块，用于根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度。

25、此外，为实现上述目的，本发明还提出一种功率半导体器件老化判定设备，设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的功率半导体器件老化判定程序，功率半导体器件老化判定程序配置为实现如上文的功率半导体器件老化判定方法的步骤。

26、此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，存储介质上存储有功率半导体器件老化判定程序，功率半导体器件老化判定程序被处理器执行时实现如上文的功率半导体器件老化判定方法的步骤。

27、本实施例提供的功率半导体器件老化判定方法，通过获取功率半导体器件的结温采样值；根据结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度；能够根据结温采样值与在线结温估算值之间的结温差值判断功率半导体器件的老化程度，解决了目前判断功率半导体器件老化程序数据处理量大的问题，达到了不需要大量的数据支撑，能够适用于功率半导体器件老化程度在线判断，提高功率半导体器件的使用性能的效果。

技术特征：

1.一种功率半导体器件老化判定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述结温差值在线判断所述功率半导体器件的老化程度，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述结温差值和预设结温差区间确定所述功率半导体器件的老化程度，包括：

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断所述结温差值是否大于或等于预设结温差阈值之后，还包括：

5.如权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述结温差值在线判断所述功率半导体器件的老化程度之后，还包括；

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述老化程度在线下调功率半导体器件的输出电流，包括：

7.如权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述获取功率半导体器件的结温采样值和在线结温估算值之前，还包括：

8.一种功率半导体器件老化判定装置，其特征在于，所述装置包括：

9.一种功率半导体器件老化判定设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的功率半导体器件老化判定程序，所述功率半导体器件老化判定程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的功率半导体器件老化判定方法的步骤。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有功率半导体器件老化判定程序，所述功率半导体器件老化判定程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的功率半导体器件老化判定方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质，通过获取功率半导体器件的结温采样值；根据结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度；能够根据结温采样值与在线结温估算值之间的结温差值判断功率半导体器件的老化程度，不需要大量的数据支撑，能够适用于功率半导体器件老化程度在线判断的效果。

技术研发人员：宋辉,殷威,张太之,李锡鹏
受保护的技术使用者：汇川新能源汽车技术（常州）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12