用于饱和校正与动态增益配置的方法及执行该方法的装置与流程

文档序号:35062307发布日期:2023-08-09 01:08阅读:34来源:国知局
用于饱和校正与动态增益配置的方法及执行该方法的装置与流程

本公开涉及利用低能辐射(例如,千伏(kv))和高能辐射(例如,兆伏(mv))组合的成像,以用于改进的成像,包括用于计算机断层摄影(ct)扫描。


背景技术:

1、在双能量ct扫描中,使用具有不同能量的辐射束进行扫描。在千伏(kv)切换采集协议中,在交替视图中,辐射电压在低能量(例如,80kv)与高能量(例如,140kv)之间快速交替。结果是几乎同时配准(register)的双能量数据,其使得能够进行分解并且能够生成高质量图像。

2、各种双能量ct系统包括平板探测器,其被配置成探测辐射束。然而,这种平板探测器在其动态范围方面可能受到限制。例如,传统的平板探测器具有16位,而相比较地,在ct探测器中通常采用20或24位。由于有限的动态范围,探测器可能在低衰减路径被高能量脉冲或甚至被低能量脉冲饱和。

3、因此,可能需要用于操作双能量ct系统的替代系统和方法,以克服平板探测器的有限动态范围。


技术实现思路

1、在第一实施例中,一种用于校正至少一个饱和射线中的饱和的方法包括:识别饱和射线,该饱和射线对应于在辐射探测器的当前视图期间,在穿过参考点之后在所述辐射探测器处接收的辐射源的第一射线;识别至少一个非饱和射线,该至少一个非饱和射线对应于在所述辐射探测器的前一视图期间,在穿过所述参考点之后在所述辐射探测器处接收的所述辐射源的第二射线,或者在所述辐射探测器的下一视图期间,在穿过所述参考点之后在所述辐射探测器处接收的所述辐射源的第三射线;以及响应于所述识别,基于所述至少一个非饱和射线的值来调整所述饱和射线的值。所述辐射探测器的所述前一视图和所述辐射探测器的所述下一视图中的每一者与所述当前视图相邻;并且所述辐射源具有用于所述当前视图的第一能量和用于所述前一视图和所述下一视图的第二能量,所述第二能量不同于所述第一能量。

2、在另一实施例中,一种用于校正至少一个饱和射线中的饱和的方法包括:识别饱和射线,该饱和射线对应于在辐射探测器的当前视图期间,在穿过参考点之后在所述辐射探测器处接收的辐射源的第一射线;识别至少一个非饱和射线,该至少一个非饱和射线对应于在共轭视图期间,穿过所述参考点之后在所述辐射探测器处接收的所述辐射源的第二射线;以及响应于所述识别,基于所述至少一个非饱和射线的值来调整所述饱和射线的值。所述第二射线与相对于所述第一射线旋转180°的第三射线相邻;以及

3、根据另一实施例,一种操作双能量成像系统的方法包括:从辐射源以第一能级(energy level)发射第一多个光子;在辐射探测器处接收所述第一多个光子中的至少一些光子;从所述辐射探测器输出第一信号,该第一信号指示在所述辐射探测器处接收到的所述第一多个光子中的所述至少一些光子的第一量(quantity),所述第一量被放大所述辐射探测器的第一增益级(gain level);从所述辐射源以第二能级发射第二多个光子;在所述辐射探测器处接收所述第二多个光子中的至少一些光子;以及从所述辐射探测器输出第二信号,该第二信号指示在所述辐射探测器处接收到的所述第二多个光子中的所述至少一些光子的量,该量被放大所述辐射探测器的第二增益级。所述第一增益级和所述第二增益级被选择以避免对应于所述第一多个光子的第一信号和对应于所述第二多个光子的第二信号的饱和。

4、关于一个实施例描述和/或示出的特征可以以相同的方式或类似的方式用于一个或多个其他实施例和/或与其他实施例的特征组合或代替其他实施例的特征。

5、本发明的描述不以任何方式限制权利要求中使用的词语或权利要求或发明的范围。权利要求中使用的词语具有其全部普通含义。



技术特征:

1.一种用于校正至少一个饱和射线中的饱和的方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述非饱和射线在所述辐射源的当前旋转期间被发射。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述非饱和射线在所述辐射源的旋转期间被发射,该旋转不同于在所述饱和射线被发射的期间的所述辐射源的旋转。

4.根据权利要求1所述的方法,其中调整所述饱和射线的所述值包括基于所述至少一个非饱和射线的所述值和关于所述当前视图的信息来调整所述饱和射线的所述值。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述非饱和射线对应于所述第二射线。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述非饱和射线对应于所述第三射线。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述饱和射线的所述值基于对应于所述第二射线的非饱和射线的值和对应于所述第三射线的非饱和射线的值而被调整。

8.根据权利要求1所述的方法,其中所述调整所述饱和射线的所述值包括基于所述非饱和射线的值和与来自所述辐射探测器的所述当前视图的所述饱和射线相邻的非饱和射线的值来调整所述饱和射线的所述值。

9.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一射线穿过具有短的路径长度的被扫描对象的区域。

10.一种用于校正至少一个饱和射线中的饱和的方法,包括:

11.根据权利要求10所述的方法,其中所述辐射源具有用于所述当前视图的第一能量和用于所述共轭视图的第二能量,所述第二能量不同于所述第一能量。

12.根据权利要求10所述的方法,其中所述饱和射线的所述值基于所述非饱和射线的所述值和关于所述当前视图的信息而被调整。

13.根据权利要求10所述的方法,其中所述饱和射线的所述值基于对应于所述第二射线的非饱和射线的值和所述饱和射线的帧中的非饱和射线的值而被调整。

14.根据权利要求10所述的方法,其中所述饱和射线的所述值基于对应于所述第二射线的非饱和射线的值和在前一次旋转或下一次旋转中具有与所述饱和射线的旋转相似的方位角的非饱和射线的值而被调整。

15.根据权利要求10所述的方法,其中所述第一射线穿过具有短的路径长度的被扫描对象的区域。

16.一种操作双能量成像系统的方法,包括:

17.根据权利要求16所述的方法,其中所述第一能级不同于所述第二能级。

18.根据权利要求16所述的方法,其中所述第一增益级不同于所述第二增益级。

19.根据权利要求16所述的方法,其中所述第一增益级和所述第二增益级基于前一扫描的能级和增益级被选择以避免饱和,其中至少一个饱和信号在所述前一扫描期间被输出。


技术总结
至少一个饱和射线中的饱和是在一种方法中,该方法包括:识别饱和射线,该饱和射线对应于在辐射探测器的当前视图期间、在穿过参考点之后在所述辐射探测器处接收的辐射源的第一射线;识别至少一个非饱和射线,该至少一个非饱和射线对应于在所述辐射探测器处接收的所述辐射源的第二射线;以及响应于所述识别,基于所述至少一个非饱和射线的值来调整所述饱和射线的值。非饱和射线可以是来自当前旋转的相邻视图、前一或后续旋转的相邻视图的射线,或者是共轭射线。还公开了选择增益级以避免饱和的方法。

技术研发人员:喻智聪,A·贾恩,D·加农,C·白,M·卡伯
受保护的技术使用者:爱可瑞公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/14
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