一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法

文档序号:34587742发布日期:2023-06-28 15:46阅读:43来源:国知局
一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法

本发明涉及地质勘探,特别涉及一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法。


背景技术:

1、页岩属于细粒沉积体系,页岩的孔隙中普遍含有束缚水,束缚水作为页岩孔隙中的一种束缚流体,流动性弱于油气,在孔隙壁上基本保持不变。由于束缚水会挤占页岩中油气的存储空间,因此容易对页岩油气量的预测准确性产生影响;并且束缚水的存在还会降低页岩中油气的流动能力,影响油气的开发效率。

2、然而由于页岩的孔隙的孔径较小,其孔隙的孔径主要为纳米级别,并且页岩通常包含较多孔径小于2nm的孔隙,导致对页岩中束缚水水膜的研究存在困难。


技术实现思路

1、本发明提供一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法,该确定方法能够准确测试出页岩孔隙中束缚水水膜的厚度,为页岩油气勘探过程中资源预测及页岩油气开发过程中产能预测提供更加直接的技术支持。

2、本发明提供一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法,其中,根据式1确定;

3、

4、式1中,hibw为所述束缚水水膜的厚度,m;

5、vibw为所述束缚水水膜的体积,m3/g;

6、si为孔隙的表面积,m2/g。

7、如上所述的确定方法,其中,所述束缚水水膜的体积根据所述束缚水水膜的核磁信号强度确定。

8、如上所述的确定方法,其中,所述束缚水水膜的核磁信号强度通过包括以下步骤的方法得到:

9、对页岩样品进行干燥处理,得到干燥页岩样品,获取所述干燥页岩样品的核磁信号强度t1;

10、对所述干燥页岩样品进行饱和水处理,得到饱和页岩样品;

11、对所述饱和页岩样品进行离心处理,得到束缚页岩样品,获取所述束缚页岩样品的核磁信号强度t2;

12、所述束缚水水膜的核磁信号强度tibw=t2-t1。

13、如上所述的确定方法,其中,si通过式2确定;

14、

15、式2中,si为孔隙的表面积,m2/g;

16、vi为孔隙的体积,m3/g;

17、ri为孔隙的孔径,m。

18、如上所述的确定方法,其中,所述孔隙的孔径为0.33-10000nm。

19、如上所述的确定方法,其中,通过氮气吸附仪获得孔径大于等于2nm的孔隙的体积。

20、如上所述的确定方法,其中,通过二氧化碳吸附仪获得孔径小于2nm的孔隙的体积。

21、如上所述的确定方法,其中,所述干燥处理中,温度为150~200℃,时间为8~10h。

22、如上所述的确定方法,其中,使用加压饱和仪对所述干燥页岩样品进行饱和水处理;

23、所述饱和水处理中,时间为3-5d。

24、如上所述的确定方法,其中,所述离心处理中,转速为90000~120000rpm,时间为2~3h。

25、本发明提供一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法,该确定方法根据束缚水水膜的体积与页岩的孔隙表面确定束缚水水膜的厚度,该确定方法准确度高,为页岩油气勘探过程中资源预测及页岩油气开发过程中产能预测提供更加直接的技术支持。



技术特征:

1.一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法,其特征在于,根据式1确定;

2.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述束缚水水膜的体积根据所述束缚水水膜的核磁信号强度确定。

3.根据权利要求2所述的确定方法,其特征在于,所述束缚水水膜的核磁信号强度通过包括以下步骤的方法得到:

4.根据权利要求1-3任一项所述的确定方法,其特征在于,si通过式2确定;

5.根据权利要求4所述的确定方法,其特征在于,所述孔隙的孔径为0.33-10000nm。

6.根据权利要求5所述的确定方法,其特征在于,通过氮气吸附仪获得孔径大于等于2nm的孔隙的体积。

7.根据权利要求5所述的确定方法,其特征在于,通过二氧化碳吸附仪获得孔径小于2nm的孔隙的体积。

8.根据权利要求3所述的确定方法,其特征在于,所述干燥处理中,温度为150~200℃,时间为8~10h。

9.根据权利要求3或8所述的确定方法,其特征在于,使用加压饱和仪对所述干燥页岩样品进行饱和水处理;

10.根据权利要求3、8或9所述的确定方法,其特征在于,所述离心处理中,转速为90000~120000rpm,时间为2~3h。


技术总结
本发明提供一种页岩孔隙中束缚水水膜厚度的确定方法,根据式1确定;式1中,h<subgt;ibw</subgt;为所述束缚水水膜的厚度,m;V<subgt;ibw</subgt;为所述束缚水水膜的体积,m<supgt;3</supgt;/g;S<subgt;i</subgt;为孔隙的表面积,m<supgt;2</supgt;/g。该确定方法能够准确测试出页岩孔隙中束缚水水膜的厚度,为页岩油气勘探过程中资源预测及页岩油气开发过程中产能预测提供更加直接的技术支持。

技术研发人员:唐相路,姜振学,杨磊磊,杨再权,吴永辉,刘格
受保护的技术使用者:中国石油大学(北京)
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1