IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质与流程

本发明涉及芯片测试，特别涉及一种ic老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术：

1、芯片在封装完毕后，可能存在潜在缺陷，这些会导致芯片性能不稳定或者功能上存在潜在缺陷，如果这些存在潜在缺陷的芯片被用在关键设备上，有可能发生故障。老化试验的目的就是在一定时间内，把芯片置于一定的温度下，再施于特定的电压，加速芯片老化，使芯片可靠性提前度过早期失效期，保证了交到顾客手中的芯片工作性能的稳定性和可靠性。

2、市场上的老化测试设备一般为给电版本,少数为有mcu或fpga控制和回报测试结果的做法，但是使用起来也不够智能方便。

技术实现思路

1、本发明提供一种ic老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，旨在提高ic老化测试的智能性和准确度。

2、第一方面，本发明提出一种ic老化测试方法，包括：

3、建立和ic老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述ic老化测试板上的每个ic测试单元为单独控制；

4、显示所述ic老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能；

5、根据所述测试控制界面上的功能控制所述ic老化测试板的老化测试过程。

6、在其中一个实施例中，所述根据所述测试控制界面上的功能控制所述ic老化测试板的老化测试过程包括，

7、根据所述参数设定功能设定老化测试炉的测试温度；

8、根据所述测试温度控制所述老化测试炉达到所述测试温度，对待测ic进行老化测试；

9、当测试时间到达，获取测试结果并控制老化测试炉回到设定常温。

10、在其中一个实施例中，所述遮罩功能具体为：

11、获取上料机的ic放置位图；

12、根据所述ic放置位图确定所述ic老化测试板上需要被遮罩的ic测试单元；

13、断开需要被遮罩的ic测试单元的电源信号，并对其余的ic测试单元供电，以对所述待测ic进行老化测试。

14、在其中一个实施例中，所述测试结果显示功能包括测试参数信息显示功能和合格性判断结果显示功能，所述测试参数信息包括所述ic老化测试板当前的电压信息和电流信息，所述合格性判断结果显示功能包括所述ic老化测试板上每个待测ic的老化测试合格性判断结果。

15、在其中一个实施例中，所述状态信息显示功能包括测试启停状态信息、测试炉温度信息、测试设备信息和测试进程信息。

16、在其中一个实施例中，所述启停控制功能包括可靠性开发测试功能和接触测试功能。

17、在其中一个实施例中，所述状态信息显示功能包括测试ic型号信息，所述ic测试单元为子母座结构，包括子座和母座，子座与母座可插拔连接，所述子座用于放置测试ic，当需要测试不同的测试ic时，更换子座并更改所述测试ic型号信息。

18、第二方面，本发明还提出一种ic老化测试装置，包括：

19、通信单元，用于建立和ic老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述ic老化测试板上的每个ic测试单元为单独控制；

20、界面显示单元，用于显示所述ic老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能；

21、功能控制单元，用于根据所述控制界面上的功能控制所述ic老化测试板的老化测试过程。

22、第三方面，本发明提出一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储其中存储有计算机程序，所述计算机程序在由所述处理器加载并执行时，实现如上述任意一项所述的方法。

23、第四方面，本发明提出一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时，实现如上述任意一项所述的方法。

24、本发明一种ic老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和ic老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述ic老化测试板上的每个ic测试单元为单独控制，显示所述ic老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能，根据所述测试控制界面上的功能控制所述ic老化测试板的老化测试过程；建立控制终端或pc端与ic老化测试板以及老化测试炉之间的信号通信连接，通过功能齐全的人机交互界面对ic老化测试过程进行控制，可以提高ic老化测试的智能性和准确度。

技术特征：

1.一种ic老化测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试控制界面上的功能控制所述ic老化测试板的老化测试过程包括，

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述遮罩功能具体为：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试结果显示功能包括测试参数信息显示功能和合格性判断结果显示功能，所述测试参数信息包括所述ic老化测试板当前的电压信息和电流信息，所述合格性判断结果显示功能包括所述ic老化测试板上每个待测ic的老化测试合格性判断结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述状态信息显示功能包括测试启停状态信息、测试炉温度信息、测试设备信息和测试进程信息。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述启停控制功能包括可靠性开发测试功能和接触测试功能。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述状态信息显示功能包括测试ic型号信息，所述ic测试单元为子母座结构，包括子座和母座，子座与母座可插拔连接，所述子座用于放置测试i c，当需要测试不同的测试i c时，更换子座并更改所述测试ic型号信息。

8.一种ic老化测试装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序在由所述处理器加载并执行时，实现如权利要求1至7任意一项所述的方法。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时，实现如权利要求1至7任意一项所述的方法。

技术总结
本发明提供一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能，根据所述控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程；建立控制终端或PC端与IC老化测试板以及老化测试炉之间的信号通信连接，通过功能齐全的人机交互界面对IC老化测试过程进行控制，可以提高IC老化测试的智能性和准确度。

技术研发人员：钟清水,王少花
受保护的技术使用者：优普士电子（深圳）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/11