一种IO口测试方法及系统与流程

文档序号:39303088发布日期:2024-09-06 01:17阅读:144来源:国知局

本发明涉及芯片测试,具体涉及一种io口测试方法及系统。


背景技术:

1、随着科技的发展,集成电路集成的功能越来越多,gpio引脚也很多,有些ic甚至有几百个脚。封装好的ic,要保证高质量地交给到客户手中,功能测试这一项就必不可少了。传统的io测试都是输出高低电平检测、输入电平检测。为了测试这些功能,需要为每个io口配一个高电平检测装置,低电平检测装置,高电平输入和低电平输入。但是如果ic的io口很多,如几十个,那这些检测电路就显得非常庞大和复杂了。


技术实现思路

1、因此,本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的io口检测方法过于复杂的缺陷,从而提供一种io口测试方法及系统。

2、为达到上述目的,本发明提供如下技术方案:

3、第一方面,本发明实施例提供一种io口测试方法,将芯片的io口分成两组,第一组的每个io口均通过一个测试电阻与第二组的一个io口对应连接,方法包括:设定第一组io口为输出io口、第二组io口为输入io口;对输出io口及输入io口进行电平测试;基于输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过;若本次电平测试通过,则设定第二组io口为输出io口、第一组io口为输入io口,并返回“对输出io口及输入io口进行电平测试”的步骤。

4、在一实施例中,对输出io口及输入io口进行电平测试,基于输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过的过程,包括:控制输出io口输出高电平信号;判断输入io口接收信号的电平是否均为高电平;当至少一个输入io口接收信号的电平为低电平,则输出不过通指令,测试停止。

5、在一实施例中,对输出io口及输入io口进行电平测试,基于输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过的过程,还包括:当输入io口接收信号的电平均为高电平,则控制输出io口输出低电平信号;判断输入io口接收信号的电平是否均为低电平;当至少一个输入io口接收信号的电平为高电平,则输出不过通指令,测试停止。

6、在一实施例中,io口测试方法还包括:当输入io口接收信号故障时,则判定该输入io口及与其连接的输出io口中至少一个io口故障。

7、在一实施例中,在设定第一组io口为输出io口、第二组io口为输入io口的过程之前,还包括:判断是否有芯片需要进行io口测试;当有芯片需要进行io口测试时,发出测试指令,开始进行测试。

8、在一实施例中,当第一组的io口数量与第二组的io口的数量不相等时,利用复用的方法,多余的每个io口通过一个测试电阻与第二组的一个io口对应连接。

9、第二方面,本发明实施例提供一种io口测试系统,将芯片的io口分成两组,第一组的每个io口均通过一个测试电阻与第二组的一个io口对应连接,系统包括:配置模块,用于设定第一组io口为输出io口、第二组io口为输入io口;测试模块,用于对输出io口及输入io口进行电平测试;基于输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过;循环模块,用于若本次电平测试通过,则设定第二组io口为输出io口、第一组io口为输入io口,并返回“对输出io口及输入io口进行电平测试”的步骤。

10、在一实施例中,测试模块包括:高电平测试单元,用于控制输出io口输出高电平信号;判断输入io口接收信号的电平是否均为高电平;当至少一个输入io口接收信号的电平为低电平,则输出不过通指令,测试停止;低电平测试单元,用于当输入io口接收信号的电平均为高电平,则控制输出io口输出低电平信号;判断输入io口接收信号的电平是否均为低电平;当至少一个输入io口接收信号的电平为高电平,则输出不过通指令,测试停止。

11、第三方面,本发明实施例提供一种计算机设备,包括:至少一个处理器,以及与至少一个处理器通信连接的存储器,其中,存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令,指令被至少一个处理器执行,以使至少一个处理器执行本发明实施例第一方面的io口测试方法。

12、第四方面,本发明实施例提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机指令,计算机指令用于使计算机执行本发明实施例第一方面的io口测试方法。

13、本发明技术方案,具有如下优点:

14、本发明提供的io口测试方法及系统,将芯片的io口分成两组,第一组的每个io口均通过一个测试电阻与第二组的一个io口对应连接,方法包括:设定第一组io口为输出io口、第二组io口为输入io口;对输出io口及输入io口进行电平测试;基于输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过;若本次电平测试通过,则设定第二组io口为输出io口、第一组io口为输入io口,并返回“对输出io口及输入io口进行电平测试”的步骤。本发明利用芯片自身的io口提供高低电平,省去了高低电平检测和发生装置,设计简单,后期的调试和维修都简单很多。



技术特征:

1.一种io口测试方法,其特征在于,将芯片的io口分成两组,第一组的每个io口均通过一个测试电阻与第二组的一个io口对应连接,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的io口测试方法,其特征在于,对所述输出io口及所述输入io口进行电平测试,基于所述输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过的过程,包括:

3.根据权利要求2所述的io口测试方法,其特征在于,对所述输出io口及所述输入io口进行电平测试,基于所述输入io口接收信号的电平,判断本次电平测试通过的过程,还包括:

4.根据权利要求3所述的io口测试方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1所述的io口测试方法,其特征在于,在所述设定第一组io口为输出io口、第二组io口为输入io口的过程之前,还包括:

6.根据权利要求1所述的io口测试方法,其特征在于,

7.一种io口测试系统,其特征在于,将芯片的io口分成两组,第一组的每个io口均通过一个测试电阻与第二组的一个io口对应连接,所述系统包括:

8.根据权利要求7所述的io口测试系统,其特征在于,所述测试模块包括:

9.一种计算机设备,其特征在于,包括:至少一个处理器,以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器,其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器执行权利要求1-6中任一所述的io口测试方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求1-6中任一所述的io口测试方法。


技术总结
本发明公开了一种IO口测试方法及系统,将芯片的IO口分成两组,第一组的每个IO口均通过一个测试电阻与第二组的一个IO口对应连接,方法包括:设定第一组IO口为输出IO口、第二组IO口为输入IO口;对输出IO口及输入IO口进行电平测试;基于输入IO口接收信号的电平,判断本次电平测试通过;若本次电平测试通过,则设定第二组IO口为输出IO口、第一组IO口为输入IO口,并返回“对输出IO口及输入IO口进行电平测试”的步骤。本发明利用芯片自身的IO口提供高低电平,省去了高低电平检测和发生装置,设计简单,后期的调试和维修都简单很多。

技术研发人员:鲁勇,程龙生
受保护的技术使用者:珠海探境科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/9/5
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