一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法与流程

文档序号:35209838发布日期:2023-08-24 03:30阅读:63来源:国知局
一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法与流程

本发明涉及吸波材料检测,尤其涉及一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法。


背景技术:

1、微波暗室用吸波材料是一类浸碳型软质聚氨酯吸波材料,其吸波材料具有优良的吸波性能和良好阻燃性能,随着被测件输入功率成倍增加,因此对吸波的材料阻燃性提出很高的要求。在实际生产吸波材料过程中,阻燃性能测试是一项必不可少的检测环节。其中氧指数测试是评估吸波材料耐燃性评价试验。

2、目前氧指数测试都是对生产后产品进行随机抽样,取样作氧指数测试,测试结果只能代表抽测产品氧指数的范围,无法全面、真实评估每块产品氧指数的情况。另外,产品氧指数测试是一项材料破坏型的测试,每次取样测试都会导致产品切割而破坏,其切割后产品就无法作为产品而发货,测试数量越多,测试产品浪费越多,不利于对吸波材料进行氧指数检测。


技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,旨在解决现有技术中的每次取样测试都会导致产品切割而破坏,不利于对吸波材料进行氧指数检测的技术问题。

2、为实现上述目的,本发明采用的一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,包括如下步骤:

3、采用对被测吸波材料底部不同位置,使用元素分析仪测量吸波材料底部横截面不同位置的铝、磷以及碳三种元素,得到图谱;

4、计算出被测吸波材料的铝和磷元素峰积分面积与碳元素峰积分面积比值;

5、结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试。

6、其中,在采用对被测吸波材料底部不同位置,使用元素分析仪测量吸波材料底部横截面不同位置的铝、磷以及碳三种元素,得到图谱的步骤之前:

7、通过氧指数仪,测试出不同氧指数数值的吸波材料,通过元素分析仪测量出吸波材料的元素图谱,计算吸波材料的铝、磷、碳三个峰的积分面积;

8、折算铝元素和磷元素峰面积总合,面积总合除以碳元素峰面积,得到铝和磷峰的积分面积比值与碳峰的积分面积比值;

9、以氧指数数值为纵坐标,以铝和磷峰的积分面积比值与碳峰的积分面积比值为横坐标,进行绘图,曲线拟合方式得到不同氧指数对应比值的曲线。

10、其中,在结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试的步骤中,得到不同氧指数与比值曲线的过程为:

11、通过氧指数仪测量一些吸波薄片,得到吸波薄片的氧指数数值,对吸波薄片进行元素分析测试,计算出吸波薄片中铝和磷元素峰积分面积与碳元素峰积分面积比值;

12、以氧指数为纵坐标,比值为横坐标作图,拟合曲线得到不同氧指数与比值曲线。

13、其中,在结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试的步骤中:

14、通过比值,结合不同氧指数对应比值曲线,确定被测吸波材料的氧指数数值。

15、本发明的一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,采用对被测吸波材料底部不同位置,使用元素分析仪测量吸波材料底部横截面不同位置的铝、磷以及碳三种元素,得到图谱;计算出被测吸波材料的铝和磷元素峰积分面积与碳元素峰积分面积比值;结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试;可无损伤、高效、迅速地筛分出氧指数不同的产品,有利于对吸波材料进行氧指数检测。



技术特征:

1.一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,其特征在于,在采用对被测吸波材料底部不同位置,使用元素分析仪测量吸波材料底部横截面不同位置的铝、磷以及碳三种元素,得到图谱的步骤之前:

3.如权利要求2所述的非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,其特征在于,在结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试的步骤中,得到不同氧指数与比值曲线的过程为:

4.如权利要求3所述的非损伤性检测吸波材料氧指数的方法,其特征在于,在结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试的步骤中:


技术总结
本发明涉及吸波材料检测技术领域,具体涉及一种非损伤性检测吸波材料氧指数的方法;采用对被测吸波材料底部不同位置,使用元素分析仪测量吸波材料底部横截面不同位置的铝、磷以及碳三种元素,得到图谱;计算出被测吸波材料的铝和磷元素峰积分面积与碳元素峰积分面积比值;结合不同氧指数与比值曲线,评估被测吸波材料底部不同位置的氧指数,实现吸波材料氧指数非破坏性测试,通过上述方式,可无损伤、高效、迅速地筛分出氧指数不同的产品,实现有利于对吸波材料进行氧指数检测。

技术研发人员:柳海莉,黄亮,胡益民,王青山
受保护的技术使用者:南京航天波平电子科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/14
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