料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质与流程

文档序号:34547685发布日期:2023-06-27 21:55阅读:29来源:国知局
料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及图像显示,具体涉及一种料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术:

1、在笔记本电脑的生产过程中,需要对笔记本电脑(也即是待测料件)的两个外壳面以及键盘面进行缺陷检测,在缺陷检测后需要进行缺陷提示,以便操作人员进行复查。

2、现有的缺陷提示,仅仅是在检测到有缺陷时发出提示音,以提示操作人员本次检测的料件上存在缺陷,由于没有对缺陷进行定位,需要操作人员进行视觉检测,耗时较长,因此亟需一种料件缺陷显示方法。


技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本申请提供一种料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质,以解决上述技术问题。

2、本申请提供的一种料件缺陷显示方法,包括:

3、获取待测料件的检测图像;

4、确定所述检测图像的检测网格,所述检测网格包括多个检测单元格;

5、确定所述检测图像中各检测单元格内的缺陷;

6、将存在缺陷的所述检测单元格确定为目标检测单元格;

7、根据各所述检测单元格与显示面板上各显示单元之间的一一对应关系,在各显示单元中确定所述目标检测单元格对应的目标显示单元;

8、将所述目标显示单元进行高亮显示。

9、于本发明一实施例中,所述将所述目标显示单元进行高亮显示,包括:

10、当所述目标检测单元格内存在至少一个一级缺陷时,以第一颜色高亮显示所述目标检测单元格对应的所述目标显示单元;

11、当所述目标检测单元格内的缺陷均为二级缺陷时,以第二颜色高亮显示所述目标检测单元格对应的所述目标显示单元,所述一级缺陷对待测料件的损坏程度大于所述二级缺陷对待测料件的损坏程度。

12、于本发明一实施例中,所述将所述目标显示单元进行高亮显示之后,所述方法还包括:

13、确定所述显示面板上所述目标显示单元的数量;

14、在任一所述目标显示单元内显示所述目标显示单元的数量。

15、于本发明一实施例中,所述获取待测料件的检测图像,包括:

16、获取所述待测料件的正面图像以及四个侧面图像;

17、根据所述正面图像以及四个侧面图像确定所述检测图像。

18、于本发明一实施例中,所述确定所述检测图像的检测网格,包括:

19、确定所述待测料件的长和宽;

20、根据所述待测料件的长以及预设列数,确定所述正面图像以及第一侧面图像中各所述检测单元格的长,所述第一侧面图像的长与所述待测料件的长一致;

21、根据所述待测料件的宽以及预设行数,确定所述正面图像以及第二侧面图像中各所述检测单元格的宽,所述第二侧面图像的宽与所述待测料件的宽一致。

22、于本发明一实施例中,所述将所述目标显示单元进行高亮显示之后,所述方法还包括:

23、根据所述检测单元格与显示面板上显示位之间的一一对应关系,将所述目标检测单元格对应的显示位确定为目标显示位,并在所述目标显示位内显示所述目标检测单元格内缺陷的数量。

24、于本发明一实施例中,所述在所述目标显示位内显示所述目标检测单元格内缺陷的数量之后,所述方法还包括:

25、在所述目标显示单元内显示所述目标显示单元对应的所述目标检测单元格中缺陷的数量。

26、为实现上述目的及其他相关目的,本申请提供一种料件缺陷显示装置,包括:

27、图像获取模块,用于获取待测料件的检测图像;

28、检测网格确定模块,用于确定所述检测图像的检测网格,所述检测网格包括多个检测单元格;

29、缺陷确定模块,用于确定所述检测图像中各检测单元格内的缺陷;

30、第一目标确定模块,用于将存在缺陷的检测单元格确定为目标检测单元格;

31、第二目标确定模块,用于根据所述检测单元格与显示面板上显示单元之间的一一对应关系,在显示面板的各显示单元中确定目标检测单元格对应的目标显示单元;

32、显示模块,用于将所述目标显示单元进行高亮显示。

33、为实现上述目的及其他相关目的,本申请还提供一种电子设备,所述电子设备包括:

34、一个或多个处理器;

35、存储装置,用于存储一个或多个程序,当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时,使得所述电子设备实现前述的任一个实施例所述的料件缺陷显示方法。

36、为实现上述目的及其他相关目的,本申请还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,当所述计算机程序被计算机的处理器执行时,使计算机执行前述的任一个实施例所述的料件缺陷显示方法。

37、如上所述,本申请提供的一种料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质,具有以下有益效果:

38、本申请中的一种料件缺陷显示方法,该方法通过获取待测料件的检测图像,再确定包括多个检测单元格的检测网格,并确定检测图像中各检测单元格内的缺陷,之后将存在缺陷的检测单元格确定为目标检测单元格,并根据各检测单元格与显示面板上各显示单元之间的一一对应关系,在各显示单元中确定目标检测单元格对应的目标显示单元,最后将目标显示单元进行高亮显示。在检测到待测料件上的缺陷后,通过确定存在缺陷的目标检测单元格,并将该目标检测单元格对应的目标显示单元进行高亮显示,使操作人员可以较为便捷地确定料件上存在缺陷的位置,进而进行复查,提高了缺陷显示方法的实用性。

39、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。



技术特征:

1.一种料件缺陷显示方法,其特征在于,所述料件缺陷显示方法包括:

2.根据权利要求1所述的料件缺陷显示方法,其特征在于,所述将所述目标显示单元进行高亮显示,包括:

3.根据权利要求1所述的料件缺陷显示方法,其特征在于,所述将所述目标显示单元进行高亮显示之后,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的料件缺陷显示方法,其特征在于,所述获取待测料件的检测图像,包括:

5.根据权利要求4所述的料件缺陷显示方法,其特征在于,所述确定所述检测图像的检测网格,包括:

6.根据权利要求1所述的料件缺陷显示方法,其特征在于,所述将所述目标显示单元进行高亮显示之后,所述方法还包括:

7.根据权利要求6所述的料件缺陷显示方法,其特征在于,所述在所述目标显示位内显示所述目标检测单元格内缺陷的数量之后,所述方法还包括:

8.一种料件缺陷显示装置,其特征在于,所述料件缺陷显示装置包括:

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,当所述计算机程序被计算机的处理器执行时,使计算机执行权利要求1至7中任一项所述的料件缺陷显示方法。


技术总结
本申请提供一种料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质,涉及图像显示技术领域,该方法通过获取待测料件的检测图像,再确定包括多个检测单元格的检测网格,并确定检测图像中各检测单元格内的缺陷,之后将存在缺陷的检测单元格确定为目标检测单元格,并根据各检测单元格与显示面板上各显示单元之间的一一对应关系,在各显示单元中确定目标检测单元格对应的目标显示单元,最后将目标显示单元进行高亮显示。可以使操作人员较为便捷地确定料件上存在缺陷的位置,进而进行复查,提高了缺陷显示方法的实用性。

技术研发人员:何星海,赵明
受保护的技术使用者:英业达(重庆)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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