一种检测方法、装置、电子设备和存储介质与流程

文档序号:35102089发布日期:2023-08-10 09:21阅读:27来源:国知局
一种检测方法、装置、电子设备和存储介质与流程

本申请涉及自动化,尤其涉及一种检测方法、装置、电子设备和存储介质。


背景技术:

1、随着技术的发展,越来越多的厂商采用自动化的方案进行产品的生产制造。在产品生产的整个流程中,质量检测环节尤为重要。采用自动化的方式对产品进行质量的检测和缺陷的识别等,是当前厂商们较为重视的产业升级内容之一。

2、当前,对于产品的外观质检,相关技术采用机器视觉和计算机视觉等方法,通过对产品外观进行拍照并分析图像的方法,对产品是否符合生产要求进行检测。但是视觉识别的效果较差、检测效率较低。


技术实现思路

1、本申请提供了一种检测方法、装置、电子设备和存储介质,以提高检测效率和检测精度。

2、根据本申请的一方面,提供了一种检测方法,所述方法包括:

3、获取当前工位上待测物品的至少一项待测特征的图像坐标,以及当前工位在不同检测点位上与至少两个相机之间的相机仿射关系;

4、根据图像坐标和相机仿射关系,确定各待测特征在当前工位的平台坐标;

5、根据各待测特征的平台坐标,确定待测特征是否合格。

6、根据本申请的另一方面,提供了一种检测装置,包括:

7、图像坐标获取模块,用于获取当前工位上待测物品的至少一项待测特征的图像坐标,以及当前工位在不同检测点位上与至少两个相机之间的相机仿射关系;

8、平台坐标确定模块,用于根据图像坐标和相机仿射关系,确定各待测特征在当前工位的平台坐标;

9、待测特征检测模块,用于根据各待测特征的平台坐标,确定待测特征是否合格。

10、根据本申请的另一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括:

11、至少一个处理器;以及

12、与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,

13、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行本申请任一实施例所述的检测方法。

14、根据本申请的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现本申请任一实施例所述的检测方法。

15、本申请实施例的技术方案,获取预先标定的不同相机在不同的检测点位与当前工位之间的相机仿射关系,在对待测物品进行检验的过程中,通过相机视觉识别待测物品上的待测特征的图像坐标,并根据相机仿射关系进一步确定这些待测特征在当前工位平台上的物理坐标,从而通过坐标变换的方式辅助进行待测物品的质量检验,提高了检验的准确性和检验效率。

16、应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本申请的范围。本申请的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。



技术特征:

1.一种检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测特征包括所述待测物品的边缘点特征和指标点特征;所述根据各所述待测特征的平台坐标,确定所述待测特征是否合格,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述指标点特征包括字唛点特征。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述指标点特征的指标平台坐标与所述边缘点特征的边缘平台坐标,确定所述指标点特征到所述待测物品边缘的距离,包括:

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述当前工位在不同检测点位上与至少两个相机之间的相机仿射关系,由以下方法确定:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述圆心图像坐标和所述圆心物理坐标,确定不同相机和所述当前工位在不同检测点位上的相机仿射关系,包括:

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述标定板图像中至少包括三个不共线的所述圆形特征点。

8.一种检测装置,其特征在于,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的检测方法。


技术总结
本申请公开了一种检测方法、装置、电子设备和存储介质。具体包括:获取当前工位上待测物品的至少一项待测特征的图像坐标,以及当前工位在不同检测点位上与至少两个相机之间的相机仿射关系;根据图像坐标和相机仿射关系,确定各待测特征在当前工位的平台坐标;根据各待测特征的平台坐标,确定待测特征是否合格。本申请实施例,获取预先标定的不同相机在不同的检测点位与当前工位之间的相机仿射关系,在对待测物品进行检验的过程中,通过相机视觉识别待测物品上的待测特征的图像坐标,并根据相机仿射关系进一步确定这些待测特征在当前工位平台上的物理坐标,从而通过坐标变换的方式辅助进行待测物品的质量检验,提高了检验的准确性和检验效率。

技术研发人员:曹康,罗小军,孙高磊,黎国栋,凌桂林,潘望,李静,党梓豪,姚屏,吴丰礼
受保护的技术使用者:广东拓斯达科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/14
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