显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置与流程

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置。

背景技术：

1、显示面板大板的生产过程中，需要经过多道工艺，每道工艺完成后需要对整个大板进行检测，若以人工进行检测，因人工检测的效率低，有超过一半的面板无法及时得到检测，存在缺陷面板流至后续制程的风险。随着科技的发展，自动化生产的程度越来越高，aoi(automatedopticalinspection，自动光学检测)为常用的对显示面板进行缺陷检测的方法，但在实际应用中，使用aoi进行聚集性缺陷检测仍然存在问题。例如，当机台操作参数没有根据当前产品及时调整时，可能出现aoi检测结果显示异常，但实际上显示面板为正常点。此外，由于显示面板在生产过程中出现的缺陷都是非预期性的、间歇性的，即使在不同时间段发生了同类型的聚集性缺陷，因一般无系统整理，需要依赖生产人员的记忆力及敏锐度来判断先前是否存在类似的聚集性缺陷，遗漏风险大且查找确认需要耗费的时间较长，从而无法实现对同类型聚集性缺陷的系统性整理，不利于后期对数据进行统计管理。

2、因此，如何提高检测准确性的同时，实现对聚集性缺陷类型的归纳整理是亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本发明提供一种显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置，以解决上述技术问题。

2、为了达到上述目的，本发明提出一种显示面板聚集性缺陷的检测方法，该检测方法包含：

3、步骤a：获取当前显示面板的缺陷点分布图像，该缺陷点分布图像上分布有至少一类缺陷的缺陷点；

4、步骤b：对该缺陷点分布图像进行dbscan聚类处理，根据预设的聚集条件判断该缺陷点分布图像上针对该至少一类缺陷是否存在聚集区域，若是，则执行步骤c；

5、步骤c：至少将该聚集区域划分为第一数量个子区域，根据每一子区域内的该至少一类缺陷的缺陷点得到对应每一子区域的聚集参数，判断每一子区域的聚集参数是否大于第一预设值，若是，则存储缺陷点分布图像，执行步骤d；

6、步骤d：记录聚集参数大于该第一预设值的子区域位置并定义为当前感兴趣区域，将该当前感兴趣区域的缺陷点特征与过往存储的缺陷点分布图像所对应的过往感兴趣区域的缺陷点特征进行比对，得到该当前感兴趣区域的相似参数，判断该相似参数是否大于第二预设值，若是，则执行步骤e；

7、步骤e：通报出现相似的聚集性缺陷。

8、作为可选的技术方案，该聚集参数包含第一参数及第二参数，该第一参数为该每一子区域内的缺陷点数量，该第二参数为该每一子区域内的该缺陷点数量与对应子区域的面积之比。

9、作为可选的技术方案，该第一预设值包括第一阈值及第二阈值，若一子区域的该第一参数大于该第一阈值及该第二参数大于该第二阈值时，则该子区域的聚集参数大于该第一预设值，判定该缺陷点分布图像存在聚集性缺陷。

10、作为可选的技术方案，步骤c包括根据该缺陷点分布图像绘制对应的热力图，该热力图包括第二数量个子区域，该第二数量不小于该第一数量。

11、作为可选的技术方案，该缺陷点分布图像包含多条第一分割线与多条第二分割线，该多条第一分割线沿第一方向延伸，该多条第二分割线沿第二方向延伸，该第一方向不与该第二方向平行，该多条第一分割线与该多条第二分割线定义出多个单元格，每一子区域包含至少一个单元格，感兴趣区域包含至少一个子区域。

12、作为可选的技术方案，该缺陷点特征包含第一特征、第二特征及第三特征，其中，该第一特征为该感兴趣区域内聚集的缺陷点数量与该缺陷点分布图像中的总缺陷点数量之比；该第二特征为该感兴趣区域内的缺陷点数量；该第三特征为该感兴趣区域内存在缺陷点的单元格数量与该感兴趣区域内总单元格数量之比。

13、作为可选的技术方案，该第二预设值包括第三阈值、第四阈值及第五阈值，若该第一特征大于该第三阈值，该第二特征大于该第四阈值及该第三特征大于该第五阈值时，则确认该相似参数大于该第二预设值，判定出现相似聚集性缺陷。

14、作为可选的技术方案，步骤a包括，该至少一类缺陷至少包括该当前显示面板上的第一类缺陷，该第一类缺陷为根据当前生产数据所统计的当前所生产的产品的第一大缺陷。

15、作为可选的技术方案，该检测方法还包括步骤f，间隔预设时间后，根据当前生产数据更新当前所生产的产品的该第一大缺陷，返回步骤a。

16、此外，本发明还提出一种显示面板聚集性缺陷的检测装置，该检测装置包含获取模块、处理模块以及提示模块。该获取模块用于获取当前显示面板的缺陷点分布图像，该缺陷点分布图像上分布有至少一类缺陷的缺陷点；该处理模块用于对该缺陷点分布图像进行处理得到处理结果，该处理模块与该获取模块电性连接；该提示模块用于获取并通报该处理结果，该提示模块与该处理模块电性连接，其中，该处理模块对该缺陷点分布图像进行dbscan聚类处理，根据预设的聚集条件判断该缺陷点分布图像上针对该至少一类缺陷是否存在聚集区域，若是，则至少将该聚集区域划分为第一数量个子区域，根据每一子区域内的该至少一类缺陷的缺陷点得到对应每一子区域的聚集参数，判断每一子区域的聚集参数是否大于第一预设值，若是，则存储该缺陷点分布图像，记录聚集参数大于该第一预设值的子区域位置并定义为当前感兴趣区域，将该当前感兴趣区域的缺陷点特征与过往存储的缺陷点分布图案所对应的过往感兴趣区域的缺陷点特征进行比对，得到该当前感兴趣区域的相似参数，判断该相似参数是否大于第二预设值，若是，则传送该处理结果至该提示模块。

17、本发明提供一种显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置，首先获取当前显示面板的缺陷点分布图像后进行dbscan聚类处理，初步判断缺陷点分布图像是否存在聚集区域，接着至少将聚集区域划分为第一数量个子区域，根据每一子区域的缺陷点得到对应每一子区域的聚集参数以判断是否为真聚集，提高检测聚集性缺陷的准确率；进一步的，存储存在聚集性缺陷的缺陷点分布图像，记录对应的子区域位置为当前感兴趣区域，将当前感兴趣区域的缺陷点特征与过往感兴趣区域的缺陷点特征进行比对，以判断是否存在相似聚集性缺陷，从而实现对聚集性缺陷类型的归纳整理，以便对显示面板的制造环境、制造机台、制造参数等等进行分析、改进，提升显示面板的良品率。

技术特征：

1.一种显示面板聚集性缺陷的检测方法，其特征在于，该检测方法包含：

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该聚集参数包含第一参数及第二参数，该第一参数为该每一子区域内的缺陷点数量，该第二参数为该每一子区域内的该缺陷点数量与对应子区域的面积之比。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，该第一预设值包括第一阈值及第二阈值，若一子区域的该第一参数大于该第一阈值及该第二参数大于该第二阈值时，则该子区域的聚集参数大于该第一预设值，判定该缺陷点分布图像存在聚集性缺陷。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，步骤c包括根据该缺陷点分布图像绘制对应的热力图，该热力图包括第二数量个子区域，该第二数量不小于该第一数量。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，该缺陷点分布图像包含多条第一分割线与多条第二分割线，该多条第一分割线沿第一方向延伸，该多条第二分割线沿第二方向延伸，该第一方向不与该第二方向平行，该多条第一分割线与该多条第二分割线定义出多个单元格，每一子区域包含至少一个单元格，感兴趣区域包含至少一个子区域。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，该缺陷点特征包含第一特征、第二特征及第三特征，其中，该第一特征为该感兴趣区域内聚集的缺陷点数量与该缺陷点分布图像中的总缺陷点数量之比；该第二特征为该感兴趣区域内的缺陷点数量；该第三特征为该感兴趣区域内存在缺陷点的单元格数量与该感兴趣区域内总单元格数量之比。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，该第二预设值包括第三阈值、第四阈值及第五阈值，若该第一特征大于该第三阈值，该第二特征大于该第四阈值及该第三特征大于该第五阈值时，则确认该相似参数大于该第二预设值，判定出现相似聚集性缺陷。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，步骤a包括，该至少一类缺陷至少包括该当前显示面板上的第一类缺陷，该第一类缺陷为根据当前生产数据所统计的当前所生产的产品的第一大缺陷。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，该检测方法还包括步骤f，间隔预设时间后，根据当前生产数据更新当前所生产的产品的该第一大缺陷，返回步骤a。

10.一种显示面板聚集性缺陷的检测装置，其特征在于，该检测装置包含：

技术总结
本发明提供一种显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置，该检测方法包含：获取当前显示面板的缺陷点分布图像；对该缺陷点分布图像进行DBSCAN聚类处理，判断是否存在聚集区域；至少将该聚集区域划分为第一数量个子区域，根据每一子区域内的缺陷点得到对应每一子区域的聚集参数，判断每一子区域的聚集参数是否大于第一预设值并存储该缺陷点分布图像；记录聚集参数大于该第一预设值的子区域为当前感兴趣区域，将该当前感兴趣区域的缺陷点特征与过往感兴趣区域的缺陷点特征进行比对得到该当前感兴趣区域的相似参数，判断该相似参数是否大于第二预设值；通报出现相似的聚集性缺陷。本发明可提高检测准确性的同时，实现对聚集性缺陷类型的归纳整理。

技术研发人员：陈熠,黄冠纶
受保护的技术使用者：友达光电（昆山）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15