触控芯片的检测方法、装置和电子设备与流程

本申请属于电子，具体涉及一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备。

背景技术：

1、随着科技的发展，触摸屏也从之前的电阻屏发展为现在支持多指触摸的电容屏，电容屏是一种高灵敏度、高精度的触摸屏幕技术。因此，电容屏的生产制造过程需要高度的自动化和精密度，以确保产品的质量和稳定性。

2、其中，对于电容屏这一模组的测试，在模组端(即电容屏未安装到终端设备上之前)和整机端(即电容屏安装到终端设备上之后)均可以进行测试。主要包括如下几项：互容原始电容值、噪声检测、自容原始电容值、开路测试、短路测试等，其中，每个测试项的都存在一定的局限性，因此，现有技术中电容屏模组的误检测几率较高。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的是提供一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备，能够解决现有技术中电容屏模组的误检测几率较高的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测方法，所述方法包括：

3、对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；

4、根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。

5、第二方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测装置，所述装置包括：

6、采样模块，用于对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；

7、检测模块，用于根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。

8、第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器和存储器，所述存储器存储可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

9、第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

10、第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的方法。

11、第六方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如第一方面所述的方法。

12、在本申请实施例中，能够对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得目标接收通道的第一采样数据，从而根据目标接收通道的第一采样数据，检测触控芯片是否存在异常，其中，内部互容采样为在目标过程中采集数据，目标过程为触控芯片的发射通道发射的信号通过触控芯片的内部电路传导，并由触控芯片的接收通道接收的过程，目标接收通道包括触控芯片的至少一个接收通道，第一采样数据用于指示目标接收通道的噪声特征。

13、由此可见，在本申请实施例中，可以对电容屏的触控芯片的内部电路进行采样，从而基于内部电路的噪声特征来检测触控芯片是否存在异常，这样，可以避免连接触控芯片的触控面板(即外围电路)的干扰影响对触控芯片的检测，从而提升检测异常触控芯片的准确率，进而降低电容屏模组的误检测几率。

技术特征：

1.一种触控芯片的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常，包括：

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值相同，或者，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值中存在不同的值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值中存在不同的值，与边缘接收通道对应的第一卡控值，小于与中间接收通道对应的第一卡控值；

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述提升所述目标框对应的坐标对应的接收通道的报点阈值，包括：

9.一种触控芯片的检测装置，其特征在于，所述装置包括：

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述采样模块包括：

11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

13.根据权利要求11或12所述的装置，其特征在于，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值相同，或者，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值中存在不同的值。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值中存在不同的值，与边缘接收通道对应的第一卡控值，小于与中间接收通道对应的第一卡控值；

15.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述阈值提升模块具体用于：

17.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-8任一项所述的触控芯片的检测方法的步骤。

18.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1-8任一项所述的触控芯片的检测方法的步骤。

技术总结
本申请公开了一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备，属于电子技术领域。该触控芯片的检测方法包括：对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。

技术研发人员：张健
受保护的技术使用者：维沃移动通信有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14