电磁波检测装置以及信息获取系统的制作方法

本发明涉及一种电磁波检测装置以及信息获取系统。

背景技术：

1、已知有一种装置，该装置具有如dmd(digital micro mirror device：数字微镜器件)那样的对入射至每个像素的电磁波的行进方向进行切换的元件。例如，已知一种装置，该装置使物体的像暂时一次成像在dmd表面，使在该dmd表面上一次成像的像进一步通过透镜而在ccd表面上二次成像(参照专利文献1)。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本专利3507865号公报

技术实现思路

1、第一观点的电磁波检测装置具有：

2、第一行进部，沿着基准面配置有多个像素，使入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；

3、第二行进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述第二方向行进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三面，将向所述第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行进的电磁波向所述基准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第六方向行进；第五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进；以及第六面，将向所述第七方向行进的电磁波射出；

4、第一检测部，检测从所述第三面射出的电磁波；以及

5、第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波。

6、另外，第二观点的信息获取系统包括：

7、电磁波检测装置，具有：第一行进部，沿着基准面配置有多个像素，使入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进；第二行进部，包括：第一面，使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进；第二面，分离向所述第二方向行进的电磁波而使其向所述第三方向以及第五方向行进；第三面，将向所述第四方向行进的电磁波射出；第四面，将向所述第五方向行进的电磁波向所述基准面射出且使从所述基准面再次入射的电磁波向第六方向行进；第五面，使向所述第六方向行进的电磁波向第七方向行进；以及第六面，将向所述第七方向行进的电磁波射出；第一检测部，检测从所述第三面射出的电磁波；以及第二检测部，检测从所述第六面射出的电磁波；以及

8、控制部，基于由所述第一检测部以及所述第二检测部检测的电磁波的检测结果来获取与周围相关的信息。

技术特征：

1.一种电磁波检测装置，具有：

2.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其中，

3.如权利要求2所述的电磁波检测装置，其中，

4.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其中，

5.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其中，

技术总结
电磁波检测装置(10)具有第一行进部(16)、第二行进部(17)、第一检测部(19)、以及第二检测部(20)。第一行进部(16)使入射至基准面(ss)的电磁波按每个像素(px)向特定的方向行进。第二行进部(17)具有第一面(s1)、第二面(s2)、第三面(s3)、第四面(s4)、第五面(s5)、以及第六面(s6)。第一面(s1)使从第一方向入射的电磁波向第二方向行进且使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进。第二面(s2)分离向第二方向(d2)行进的电磁波而使其向第三方向(d3)以及第五方向(d5)行进。第一检测部(19)检测从第三面(s3)射出的电磁波。第二检测部(20)检测从第六面(s6)射出的电磁波。

技术研发人员：竹内绘梨
受保护的技术使用者：京瓷株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15