一种继电器过零通断参数的检测方法与流程

本发明涉及电路检测，具体涉及一种继电器过零通断参数的检测方法。

背景技术：

1、继电器触点的接通、断开，距离过零点越近，触点的电压就越低，产生的电弧就越小，继电器触点的寿命就越长。为了延长继电器触点的稳定性，可靠性，需要在控制逻辑上让触点在交流电源过零附近的位置接通，断开。这个时间参数，一般用示波器进行测量。现在的继电器触点接通，断开的测试方法：用双通道示波器，分别监测ac输入波形，继电器触点两端波形。接线方法，如图1所示。继电器触点断开的时间参数测试:继电器触点接通时，两端电压为0，当继电器触点断开，触点两端电压，与ac输入电压重合，此时，示波器光标分别定位在触点断开位置，ac的中间过零位置，即可测试出继电器断开点与过零点的时间参数，测试结果如图2所示。然后对继电器触点接通的时间参数进行测试，继电器触点接通，两端电压为0，示波器光标分别定位在触点接通位置，ac的中间过零位置，即可测试出继电器接通点与过零点的时间参数，测试结果如图3所示。但是示波器测试继电器的触点通、断与过零的时间差，优点是分辨率高，准确。缺点是测试效率低，速度慢，需要人工读取参数，定位测试光标，测试成本高。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本发明提出了一种继电器过零通断参数的检测方法，可以实现继电器过零通断参数的自动测试，读取继电器过零通断参数，预置参数范围，将继电器触点通、断与过零点时间不符合要求的产品快速筛选出来，降低测试成本，提高生产效率。

2、为实现上述技术方案，本发明提供了一种继电器过零通断参数的检测方法，具体包括如下步骤：

3、s1、把继电器触点的波形和ac过零的波形通过整流光耦隔离电路输入mcu，然后通过mcu进行逻辑检测，直接换算为具体直观的时间参数值；

4、s2、mcu逻辑检测继电器触点的导通点时间和断开点时间，并与过零点的时间参数进行对比，筛选出超范围的产品。

5、优选的，所述整流光耦隔离电路包括整流器1、整流器2、电阻r1、r2、光耦合器1、光耦合器2、负载l1和继电器s1，整流器1的正极与电阻r1的一端连接，电阻r1的另外一端与光耦合器1的第一引脚连接，整流器1的负极与光耦合器1的第二引脚连接，光耦合器1的第三引脚与mcu连接，光耦合器1的第四引脚接地，所述整流器1的第一引脚与负载l1的一端及ac220v电源n线连接，所述负载l1的另外一端与继电器s1的第二触点连接，继电器s1的第一触点与ac220v电源l线连接，所述整流器1的第二引脚与继电器s1的第一触点及ac220v电源l线连接；所述整流器2的正极与电阻r2的一端连接，电阻r2的另外一端与光耦合器2的第一引脚连接，整流器2的负极与光耦合器2的第二引脚连接，光耦合器2的第三引脚与mcu连接，光耦合器2的第四引脚接地，所述整流器2的第一引脚与继电器s1的第一触点及ac220v电源l线连接，所述整流器2的第二引脚与继电器s1的第二触点连接。

6、优选的，所述示波器的第三接头通过导线分别与继电器s1的第一触点和第二触点连接，示波器的第二接头通过导线连接到光耦合器1第三引脚与mcu连接的线路上。

7、优选的，触点接通后，通过mcu程序逻辑检测光耦合器2触点下降沿与光耦合器1的上升沿，得到继电器s1触点的导通点与过零点的时间；通过mcu程序逻辑检测光耦合器2触点上升沿与光耦合器1的上升沿，得到继电器s1触点的断开点与过零点的时间；程序逻辑的显示运算后，计算出继电器导通时间，筛选出超范围的产品。

8、本发明提供的一种继电器过零通断参数的检测方法的有益效果在于：本发明把继电器触点的波形，通过整流，光耦隔离的方法，输入mcu，经mcu进行逻检测，直接换算为具体直观的时间参数值，可以预置判定范围，实现自动检测，把触点接通与过零点的时间参数进行对比，筛选出超范围的产品，测试装置成本低，测试速度快，数值显示快，便于实现生产的批量检测。

技术特征：

1.一种继电器过零通断参数的检测方法，其特征在于具体包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的继电器过零通断参数的检测方法，其特征在于：所述整流光耦隔离电路包括整流器1、整流器2、电阻r1、r2、光耦合器1、光耦合器2、负载l1和继电器s1，整流器1的正极与电阻r1的一端连接，电阻r1的另外一端与光耦合器1的第一引脚连接，整流器1的负极与光耦合器1的第二引脚连接，光耦合器1的第三引脚与mcu连接，光耦合器1的第四引脚接地，所述整流器1的第一引脚与负载l1的一端及ac220v电源n线连接，所述负载l1的另外一端与继电器s1的第二触点连接，继电器s1的第一触点与ac220v电源l线连接，所述整流器1的第二引脚与继电器s1的第一触点及ac220v电源l线连接；所述整流器2的正极与电阻r2的一端连接，电阻r2的另外一端与光耦合器2的第一引脚连接，整流器2的负极与光耦合器2的第二引脚连接，光耦合器2的第三引脚与mcu连接，光耦合器2的第四引脚接地，所述整流器2的第一引脚与继电器s1的第一触点及ac220v电源n线连接，所述整流器2的第二引脚与继电器s1的第二触点连接。

3.如权利要求2所述的继电器过零通断参数的检测方法，其特征在于：,触点接通后，通过mcu程序逻辑检测光耦合器2触点下降沿与光耦合器1的上升沿，得到继电器s1触点的导通点与过零点的时间；通过mcu程序逻辑检测光耦合器2触点上升沿与光耦合器1的上升沿，得到继电器s1触点的断开点与过零点的时间；程序逻辑的显示运算后，计算出继电器导通时间，然后与示波器实测的时间进行对比，筛选出超范围的产品。

技术总结
本发明提供了一种继电器过零通断参数的检测方法，具体包括如下步骤：S1、继电器触点的波形和AC过零的波形通过整流光耦隔离电路输入MCU，然后通过MCU进行逻辑检测，直接换算为具体直观的时间参数值；S2、MCU逻辑检测，计算继电器触点的导通点时间和断开点时间，并与过零点的时间参数进行对比，筛选出超范围的产品。本发明可以实现继电器过零通断参数的自动测试，读取继电器过零通断参数，预置参数范围，将继电器触点通、断与过零点时间不符合要求的产品快速筛选出来，降低测试成本，提高生产效率。

技术研发人员：钟学连,卢鉴恩,梁建峰,潘杰和,郭启福
受保护的技术使用者：中山市科卓尔电器有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15