偏光片光学性能测量方法与流程

本申请涉及光学，更具体地说，是涉及一种偏光片光学性能测量方法。

背景技术：

1、对偏光片的测量是将光源发出的光穿过偏光片，而后进入到接收器，通过测量透过率等参数来判断偏光片的光学性能。

2、一般的偏光片具有一定的雾度，雾度是指偏离入射光2.5°以上的透射光强占总透射光强的百分数，雾度越大意味着散射越大，透射光越发散。

3、一般偏光片的雾度很低，在1％左右，此时可以认为透射光是没有散射的，和入射光的方向一致，后端的光学传感器可以接收到全部的光能。在雾度偏大时，透射光的发散会导致后端的光学传感器接收不全，导致测量结果偏小，严重者会导致无法测量。

4、在传统测量仪器中基台和光学传感器的距离l太远，一旦测量样品的雾度过大，绝大部分光就会散射到光学传感器探测不到的地方，从而影响测量结果。

技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种偏光片光学性能测量方法，旨在解决现有技术中存在的由于传统测量仪的缺陷以及偏光片的雾度原因而造成的对偏光片的光学性能测量结果不准确的技术问题。

2、为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：提供一种偏光片光学性能测量方法，利用光谱仪进行测量，

3、制作支架，所述支架安装于光谱仪的接收器处；

4、选择三种形式的偏光片测量，分别为单体偏光片、第一双体偏光片且吸收轴平行、第二双偏光片且吸收轴垂直，所述偏光片放置于支架上并贴合接收器的接收窗；

5、测量，分别测量三种形式的偏光片的透过率；

6、计算，通过所述透过率计算相应的色度和偏振度。

7、在其中一个实施例中，所述光谱仪的光源在第一方向上不同波长光线的光强占比均匀，所述单体偏光片的吸收轴平行于所述第一方向，所述第一双体偏光片的吸收轴平行于所述第一方向，所述第二双偏光片的其中一个吸收轴平行于第一方向。

8、在其中一个实施例中，

9、测量所述单体偏光片时得到单体光通量透过率ys；

10、测量所述第一双体偏光片时得到平行光通量透过率yp；

11、测量所述第二双体偏光片时得到正交光通量透过率yc。

12、在其中一个实施例中，

13、通过所述ys、yp、yc分别计算对应的x、y、z三刺激值，得到三组x、y、z三刺激值，并在x、y、z的基础上，计算相应的色度。

14、在其中一个实施例中，通过所述ys、yp、yc分别计算对应的x、y、z三刺激值的计算公式为：

15、

16、其中，τ(λ)依次采用ys、yp、yc值；

17、s(λ)为照明体或照明体的相对光谱功率分布；

18、为标准色度观察者色匹配函数；

19、δλ为波长间隔，λ的范围是380～780nm，k为归一化系数，计算公式如下

20、

21、在其中一个实施例中，所述色度包括l*、a*、b*；

22、所述色度的计算公式为：

23、其中，x、y、z为得到的三组所述三刺激值，xn、yn、zn为所计算使用的光源的三刺激值，得到三组l*、a*、b*值，f(x)为计算函数，如下：

24、

25、在其中一个实施例中，所述偏振度为vy，所述vy的计算公式为：

26、

27、在其中一个实施例中，所述支架包括：

28、容置部，所述容置部包括容置腔，所述容置腔用于放置所述偏光片；以及

29、弹性部，所述弹性部位于所述容置腔内，所述弹性部用于挤压所述偏光片以使所述偏光片贴合所述接收器的接收窗。

30、在其中一个实施例中，所述容置部包括形成所述容置腔的多个板状结构，所述弹性部包括呈夹角形式连接的第一板体和第二板体，所述弹性部的一端为开放端，另一端连接所述容置部。

31、在其中一个实施例中，所述光谱仪的光源发出的光线用于穿过所述容置部、弹性部以及偏光片以进入到接收器的接收窗内。

32、本申请所提供的偏光片光学性能测量方法的有益效果在于，本方法利用光谱仪进行测量，其设置了支架代替了传统的仪器基台，支架用来定位偏光片，能够使偏光片放置在支架上的时候使偏光片贴合接收器的接收窗，这样所有经过偏光片的光线能够完全进入到接收器，从而保证测量的准确度，本申请还通过三种形式的偏光片测量，能够得到透过率、色度以及偏振度等参数，测量准确全面。

技术特征：

1.偏光片光学性能测量方法，利用光谱仪进行测量，其特征在于：

2.如权利要求1所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，所述光谱仪的光源在第一方向上不同波长光线的光强占比均匀，所述单体偏光片的吸收轴平行于所述第一方向，所述第一双体偏光片的吸收轴平行于所述第一方向，所述第二双偏光片的其中一个吸收轴平行于第一方向。

3.如权利要求1所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，

4.如权利要求3所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，

5.如权利要求4所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，通过所述ys、yp、yc分别计算对应的x、y、z三刺激值的计算公式为：

6.如权利要求5所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，所述色度包括l*、a*、b*；

7.如权利要求3-6任一项所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，所述偏振度为vy，所述vy的计算公式为：

8.如权利要求1所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，所述支架包括：

9.如权利要求8所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，所述容置部包括形成所述容置腔的多个板状结构，所述弹性部包括呈夹角形式连接的第一板体和第二板体，所述弹性部的一端为开放端，另一端连接所述容置部。

10.如权利要求8所述的偏光片光学性能测量方法，其特征在于，所述光谱仪的光源发出的光线用于穿过所述容置部、弹性部以及偏光片以进入到接收器的接收窗内。

技术总结
本申请适用于光学技术领域，具体涉及一种偏光片光学性能测量方法，利用光谱仪进行测量，包括制作支架，支架安装于光谱仪的接收器处，选择三种形式的偏光片测量，分别为单体偏光片、第一双体偏光片且吸收轴平行、第二双偏光片且吸收轴垂直，偏光片放置于支架上并贴合接收器的接收窗；测量，分别测量三种形式的偏光片的透过率；计算，通过透过率计算相应的色度和偏振度。旨在解决现有技术中存在的由于传统测量仪的缺陷以及偏光片的雾度原因而造成的对偏光片的光学性能测量结果不准确的技术问题。

技术研发人员：洪溢凡,张琦,邱大任,陈怡元
受保护的技术使用者：深圳怡钛积科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15