自动化测试辅助设备及自动化测试辅助系统的制作方法

本发明涉及一种测试设备及测试系统，特别是涉及一种自动化测试辅助设备及自动化测试辅助系统。

背景技术：

1、随着集成电路尺寸的微小化，电子元件的异常点分析有分破坏性分析与非破坏性分析。关于破坏性分析，举例来说，先将样品进行研磨去层，并使用扫描式电子显微镜(scanning electron microscope，sem)来寻找异常点，但此方法费工又费时。

2、至于非破坏性分析，举例来说，利用电源测量单元(source measurement unit,smu)的直流探针去测量样品的功能引脚，以得到每个功能引脚的电压/电流特性曲线。

3、目前对于电压/电流特性曲线的测量，常用的方式是利用治具夹住电源测量单元(source measurement unit,smu)的直流探针，接着以人工的方式依序对待测的样品的每个功能引脚进行下针，以得知每一功能引脚是否有短路、断路或漏电流的现象。然而，当需要测试的功能引脚数量众多时，相对地耗时，且长时间的人工操作也容易发生失误。

技术实现思路

1、本发明所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种自动化测试辅助设备，其包括基板、多个继电器、多个电源开关及控制器。多个继电器设置于基板，多个继电器中的一个接收测试信号，而多个继电器的一部分电性连接于待测装置的多个功能引脚。多个电源开关设置于基板且分别连接于多个继电器及电源之间。控制器，针对目标测试引脚产生多个控制信号，而多个控制信号分别控制多个电源开关，当每一电源开关于导通状态下时，使对应的继电器由电源供电以提供第一导电路径，且当每一电源开关于截止状态下时，停止供电以使对应的继电器提供第二导电路径。测试信号经由多个继电器所形成的目标导电路径传送至目标测试引脚以产生测试结果。

2、优选地，每个所述继电器包含一共用接点、一常开接点以及一常闭接点，多个所述继电器分类为第1阶层至第n阶层，n为大于或等于3的正整数，所述第1阶层的所述继电器的共用接点接收所述测试信号，所述第n-1阶层的所述继电器的数量为2n-3个，第n阶层的所述继电器的数量为2n-2个，所述第n-1阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别连接于第n阶层的两个所述继电器的两个所述共用接点，所述第n阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别电性连接二个所述功能引脚。

3、优选地，所述基板设有一信号传输接口以及一电源连接接口，所述信号传输接口连接所述控制器以接收多个所述控制信号，而所述电源连接接口连接所述电源。

4、优选地，每一所述电源开关包含一输入端、一输出端以及一控制端，多个所述输入端连接所述电源，多个所述输出端分别连接于多个所述继电器，而多个所述控制端分别接收多个所述控制信号。

5、优选地，所述测试结果为所述功能引脚的电压/电流特性曲线。

6、本发明所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种自动化测试辅助系统，其包括控制器、电源以及多个依序串接的自动化测试辅助设备，而多个所述自动化测试辅助设备之一连接控制器及电源。每个自动化测试辅助设备包含基板、多个继电器以及多个电源开关。多个继电器设置于基板，多个继电器中的一个接收测试信号，而多个继电器的一部分电性连接于待测装置的多个功能引脚。多个电源开关设置于基板且分别连接于多个继电器及电源之间。多个电源开关分别由控制器针对目标测试引脚产生的多个控制信号所控制，当每一电源开关于导通状态下时，使对应的继电器由电源供电以提供第一导电路径，且当每一电源开关于截止状态下时，停止供电以使对应的继电器提供第二导电路径。测试信号经由多个继电器所形成的目标导电路径传送至目标测试引脚以产生测试结果。

7、优选地，每个所述继电器包含一共用接点、一常开接点以及一常闭接点，多个所述继电器分类为第1阶层至第n阶层，n为大于或等于3的正整数，所述第1阶层的所述继电器的共用接点接收所述测试信号，所述第n-1阶层的所述继电器的数量为2n-3个，第n阶层的所述继电器的数量为2n-2个，所述第n-1阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别连接于第n阶层的两个所述继电器的两个所述共用接点，所述第n阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别电性连接二个所述功能引脚。

8、优选地，所述基板设有一信号传输接口，所述基板通过所述信号传输接口与另一所述基板相连接。

9、优选地，每一所述电源开关包含一输入端、一输出端以及一控制端，多个所述输入端连接所述电源，多个所述输出端分别连接于多个所述继电器，而多个所述控制端分别接收多个所述控制信号。

10、优选地，所述测试结果为所述待测引脚的电压/电流特性曲线。

11、本发明的其中一有益效果在于，本发明所提供的自动化测试辅助设备及自动化测试辅助系统，通过控制器去控制电源开关的导通状态以及截止状态，使测试信号经由多个继电器所形成的目标导电路径传送至目标测试引脚。借此，可节省人力以及缩短测试时间，避免了人工操作的失误而使每次的测试结果更趋于一致。

12、为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与图式，然而所提供的图式仅用于提供参考与说明，并非用来对本发明加以限制。

技术特征：

1.一种自动化测试辅助设备，其特征在于，所述自动化测试辅助设备包括：

2.如权利要求1所述的自动化测试辅助设备，其特征在于，每个所述继电器包含一共用接点、一常开接点以及一常闭接点，多个所述继电器分类为第1阶层至第n阶层，n为大于或等于3的正整数，所述第1阶层的所述继电器的共用接点接收所述测试信号，第n-1阶层的所述继电器的数量为2n-个，所述第n阶层的所述继电器的数量为2n-2个，所述第n-1阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别连接于所述第n阶层的两个所述继电器的两个所述共用接点，所述第n阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别电性连接二个所述功能引脚。

3.如权利要求1所述的自动化测试辅助设备，其特征在于，所述基板设有一信号传输接口以及一电源连接接口，所述信号传输接口连接所述控制器以接收多个所述控制信号，而所述电源连接接口连接所述电源。

4.如权利要求1所述的自动化测试辅助设备，其特征在于，每一所述电源开关包含一输入端、一输出端以及一控制端，多个所述输入端连接所述电源，多个所述输出端分别连接于多个所述继电器，而多个所述控制端分别接收多个所述控制信号。

5.如权利要求1所述的自动化测试辅助设备，其特征在于，所述测试结果为所述功能引脚的电压/电流特性曲线。

6.一种自动化测试辅助系统，其特征在于，所述自动化测试辅助系统包括：

7.如权利要求6所述的自动化测试辅助系统，其特征在于，每个所述继电器包含一共用接点、一常开接点以及一常闭接点，多个所述继电器分类为第1阶层至第n阶层，n为大于或等于3的正整数，所述第1阶层的所述继电器的共用接点接收所述测试信号，所述第n-1阶层的所述继电器的数量为2n-3个，所述第n阶层的所述继电器的数量为2n-2个，第n-1阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别连接于第n阶层的两个所述继电器的两个所述共用接点，所述第n阶层的每一所述继电器的常开接点与常闭接点分别电性连接二个所述功能引脚。

8.如权利要求6所述的自动化测试辅助系统，其特征在于，所述基板设有一信号传输接口，所述基板通过所述信号传输接口与另一所述基板相连接。

9.如权利要求6所述的自动化测试辅助系统，其特征在于，每一所述电源开关包含一输入端、一输出端以及一控制端，多个所述输入端连接所述电源，多个所述输出端分别连接于多个所述继电器，而多个所述控制端分别接收多个所述控制信号。

10.如权利要求6所述的自动化测试辅助系统，其特征在于，所述测试结果为所述待测引脚的电压/电流特性曲线。

技术总结
本发明公开一种自动化测试辅助设备及自动化测试辅助系统，而自动化测试辅助设备包括基板、多个继电器、多个电源开关及控制器。多个继电器设置于基板，多个继电器中的一个接收测试信号，而多个继电器的一部分电性连接于待测装置的多个功能引脚。多个电源开关设置于基板且分别连接于多个继电器及电源之间。控制器针对目标测试引脚产生多个控制信号，而多个控制信号分别控制多个电源开关。当电源开关于导通状态下时，对应的继电器得到电源之供电以提供第一导电路径，当电源开关于截止状态下时，停止供电以使对应的继电器提供第二导电路径。测试信号经由多个继电器所形成的目标导电路径传送至目标测试引脚以产生测试结果。

技术研发人员：杨礼瑛,黄俊颖
受保护的技术使用者：环旭电子股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15