一种集成电路测试用的线缆连接加固结构的制作方法

本发明涉及线缆连接，特别涉及一种集成电路测试用的线缆连接加固结构。

背景技术：

1、集成电路在遇到故障时需要进行测试，现在大多都是通过万用表对集成电路进行测试，测试时，将两个电笔的线缆与万用表连接，即可通过连个电笔对集成电路进行测试，但是现在的线缆在连接时就直接将插头插入插孔中，且是通过过盈配合的方式进行定位，若是电笔在使用过程中对线缆的造成的拉扯力较大时，会出现插头从插孔中拔出的现象，从而降低了线缆连接的稳定性。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，包括万用表主体，所述万用表主体的顶端设置有两个线缆，所述线缆的一端设置有连接座，所述连接座与万用表主体之间设置有连接机构；

3、连接座与万用表主体之间设置有加固机构；

4、所述加固机构包括固定套，所述固定套固定套接于连接座的外壁，所述固定套的底端固定连接有插环，所述万用表主体的顶端开设有插槽，所述插环的外壁与插槽的内壁活动穿插连接，所述插环的外壁开设有定位槽，所述插槽的内壁开设有两个第一活动孔，两个所述第一活动孔的内壁均活动穿插连接有定位杆，两个所述定位杆的一端均穿插设置于定位槽的内壁。

5、优选的，所述第一活动孔的内壁开设有第一活动腔，所述第一活动腔的内壁滑动连接有第一限位环，所述第一限位环固定套接于定位杆的外壁，所述第一弹簧设置于第一限位环远离插孔的一侧，所述第一弹簧套设于定位杆的外壁。

6、优选的，所述定位杆的顶端开设有第三斜面，所述插孔的底端开设有圆弧面。

7、优选的，所述定位杆的顶端开设有开槽，所述开槽的内壁开设有第二斜面，所述第一活动孔的内壁开设有第二活动孔，所述第二活动孔的内壁活动穿插连接有活动杆，所述活动杆的底端开设有第一斜面。

8、优选的，所述第二活动孔的内壁开设有第二活动腔，所述第二活动腔的内壁滑动连接有第二限位环，所述第二限位环固定套接于活动杆的外壁，所述第二限位环的底端设置有第二弹簧，所述第二弹簧套设于活动杆的外壁。

9、优选的，所述连接机构包括插孔，所述插孔固定连接于连接座的底端，所述万用表主体的顶端开设有插头，所述插孔穿插设置于插头的内壁。

10、优选的，所述定位槽为环形槽，所述定位槽的厚度与定位槽的深度相匹配。

11、优选的，所述万用表主体的顶端开设有连通孔，所述活动杆的顶端贯穿连通孔的内部并延伸至万用表主体的上方。

12、本发明的技术效果和优点：

13、(1)本发明通过连接机构将线缆与万用表主体进行连接时，此时插环也插入插槽内，然后将定位杆插入定位槽中，即可将插环在插槽内定位，使得电笔在使用过程中不会导致线缆与万用表主体分离，从而提高了线缆连接的稳定性；

14、(2)本发明利用圆弧面和第三斜面的设置，使得插环向插槽中插入时会出现圆弧面对第三斜面进行挤压的现象，从而使得定位杆移动，使得插环可以稳定下移，从而提高了插环操作的便捷性。

技术特征：

1.一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，包括万用表主体(101)，所述万用表主体(101)的顶端设置有两个线缆(102)，所述线缆(102)的一端设置有连接座(103)，所述连接座(103)与万用表主体(101)之间设置有连接机构；

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述第一活动孔(206)的内壁开设有第一活动腔(207)，所述第一活动腔(207)的内壁滑动连接有第一限位环(208)，所述第一限位环(208)固定套接于定位杆(205)的外壁，所述第一弹簧(209)设置于第一限位环(208)远离插孔(105)的一侧，所述第一弹簧(209)套设于定位杆(205)的外壁。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位杆(205)的顶端开设有第三斜面(401)，所述插孔(105)的底端开设有圆弧面(402)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位杆(205)的顶端开设有开槽(304)，所述开槽(304)的内壁开设有第二斜面(305)，所述第一活动孔(206)的内壁开设有第二活动孔(301)，所述第二活动孔(301)的内壁活动穿插连接有活动杆(302)，所述活动杆(302)的底端开设有第一斜面(303)。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述第二活动孔(301)的内壁开设有第二活动腔(306)，所述第二活动腔(306)的内壁滑动连接有第二限位环(307)，所述第二限位环(307)固定套接于活动杆(302)的外壁，所述第二限位环(307)的底端设置有第二弹簧(308)，所述第二弹簧(308)套设于活动杆(302)的外壁。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述连接机构包括插孔(105)，所述插孔(105)固定连接于连接座(103)的底端，所述万用表主体(101)的顶端开设有插头(104)，所述插孔(105)穿插设置于插头(104)的内壁。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位槽(204)为环形槽，所述定位槽(204)的厚度与定位槽(204)的深度相匹配。

8.根据权利要求4所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述万用表主体(101)的顶端开设有连通孔，所述活动杆(302)的顶端贯穿连通孔的内部并延伸至万用表主体(101)的上方。

技术总结
本发明公开了一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，包括万用表主体，万用表主体的顶端设置有两个线缆，线缆的一端设置有连接座，连接座与万用表主体之间设置有加固机构，加固机构包括固定套，固定套固定套接于连接座的外壁，固定套的底端固定连接有插环，万用表主体的顶端开设有插槽，插环的外壁开设有定位槽，插槽的内壁开设有两个第一活动孔，两个第一活动孔的内壁均活动穿插连接有定位杆。本发明通过连接机构将线缆与万用表主体进行连接时，此时插环也插入插槽内，然后将定位杆插入定位槽中，即可将插环在插槽内定位，使得电笔在使用过程中不会导致线缆与万用表主体分离，从而提高了线缆连接的稳定性。

技术研发人员：史伟,钦礼辉,梁天宇
受保护的技术使用者：徐州领测半导体科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/21