电弧检测方法、放电装置以及计算机可读存储介质与流程

本申请涉及电子电路保护领域，尤其涉及一种电弧检测方法、放电装置以及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、电弧是一种气体放电现象，电流通过某些绝缘介质(例如空气)所产生的瞬间火花。电弧管理功能是中频和射频电源的重要功能。从辉光放电曲线可知，异常辉光会产生弧光，电流剧烈上升，电压减小，类似于短路，会导致溅射的电路损坏、沉积膜损伤等问题。因此，在电弧产生后怎么快速检测到电弧就显得非常重要。

2、现有的电弧检测方法是通过采集上一个周期的电压电流波形，并将上一个周期的电压电流波形存储起来，再将上一个周期的波形跟本周期的电压电流波形比较，前后周期波形差异较大则认为有电弧产生。然而，现有的电弧检测方法会漏检一些微电弧，检测的准确性较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的主要目的在于提出电弧检测方法、放电装置以及计算机可读存储介质，旨在解决现有的电弧检测方法会漏检一些微电弧，检测的准确性较低的问题。

2、为实现上述目的，本申请的第一方面提供一种电弧检测方法，应用于一放电装置，所述放电装置包括相互电连接的检测电路和放电电路，所述电弧检测方法用于检测所述放电装置的是否产生电弧，所述电弧检测方法包括：获取检测信号；其中，所述检测信号是所述检测电路检测所述放电电路的放电电压或者放电电流而输出的信号，所述检测信号包括电压信号或者电流信号；确定所述检测信号在至少一个周期中每个周期的正半周期的正半周特征值以及负半周期的负半周特征值；以及，根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧。

3、本申请提供的电弧检测方法，通过确定检测信号在至少一个周期中每个周期的正半周期的正半周特征值以及负半周期的负半周特征值，并根据所述至少一个周期中每个周期的正半周特征值与负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定放电装置是否产生电弧，即利用电弧会导致电流或电压出现正半周期和负半周期不对称的特性，将同一个周期中的正半周特征值与负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值进行比较就能够检测出微电弧，而不需要以前一个周期的波形作为比较基准，如此，即使前后两个周期的波形差异不大，也能够精准地检测出微电弧，可以提升电弧检测的成功率、提升设备的安全性。

4、可选地，所述至少一个周期为当前周期，所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧，包括：将所述检测信号在当前周期的所述正半周特征值减去当前周期的所述负半周特征值，得到当前周期的特征值差值；判断所述当前周期的特征值差值是否大于所述特征值阈值；若所述当前周期的特征值差值大于所述特征值阈值，则确定所述放电装置已产生电弧；以及，若所述当前周期的特征值差值小于或者等于所述特征值阈值，则确定所述放电装置未产生电弧。

5、可选地，所述至少一个周期为距离当前时刻最近的n个周期，n≥2；所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧，包括：对于所述至少一个周期中的每个周期，将所述检测信号在该周期的所述正半周特征值减去该周期的所述负半周特征值，得到所述至少一个周期中的每个周期的特征值差值；计算所述至少一个周期中所有周期的特征值差值的平均值，得到特征值差值平均值；判断所述特征值差值平均值是否大于所述特征值阈值；若所述特征值差值平均值大于所述特征值阈值，则确定所述放电装置已产生电弧；以及，若所述特征值差值平均值小于或者等于所述特征值阈值，则确定所述放电装置未产生电弧。

6、可选地，所述至少一个周期为一统计时段内的m个周期；其中，所述统计时段为起始时刻至当前时刻的时长为预设时长的时段，所述预设时长大于或者等于一个周期的时长的两倍，m≥2；所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧，包括：对于所述至少一个周期中的每个周期，将所述检测信号在该周期的所述正半周特征值减去该周期的所述负半周特征值，得到所述至少一个周期中的每个周期的特征值差值；将所述至少一个周期中的每个周期的特征值差值分别与所述特征值阈值进行比较，并判断所述至少一个周期中特征值差值大于所述特征值阈值的周期个数是否大于预设个数；若所述至少一个周期中特征值差值大于所述特征值阈值的周期个数大于预设个数，则确定所述放电装置已产生电弧；以及，若所述至少一个周期中特征值差值大于所述特征值阈值的周期个数小于或者等于所述预设个数，则确定所述放电装置未产生电弧。

7、可选地，所述检测信号为电流信号，在所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧之前，所述电弧检测方法还包括：计算所述检测信号在距离当前时刻最近的l个周期中各个周期的有效值，并求得所述各个周期的有效值的平均值，l≥1；以及，根据所述各个周期的有效值的平均值确定对应的特征值阈值。

8、可选地，所述根据所述各个周期的有效值的平均值确定对应的特征值阈值，包括：获取预设特征值阈值标定表；其中，所述预设特征值阈值标定表中记录有多个有效值区间与多个特征值阈值之间的一一映射关系；以及，根据所述预设特征值阈值标定表确定所述各个周期的有效值的平均值对应的特征值阈值。

9、可选地，所述检测信号的特征值为峰值、有效值以及平均值中的一种。

10、可选地，在所述获取检测信号之前，所述电弧检测方法还包括：获取放电电流设定指令；以及，基于所述放电电流设定指令，控制所述放电电路输出对应的放电电流，以及确定对应的特征值阈值；其中，不同的放电电流设定指令对应不同的特征值阈值。

11、本申请的第二方面还提供一种放电装置，所述放电装置包括放电电路、检测电路、存储器以及控制器。所述放电电路用于放电。所述检测电路与所述放电电路电连接，所述检测电路用于检测所述放电电路的放电电流或者放电电压，并输出对应的检测信号，所述检测信号包括电压信号或者电流信号。所述存储器用于存储程序。所述控制器与所述检测电路和所处存储器分别电连接，所述控制器用于获取所述检测电路输出的所述检测信号，并基于所述检测信号执行所述存储器中存储的程序，以实现上述第一方面所述的电弧检测方法，并在检测到电弧时控制所述放电电路降低放电功率或者停止放电。

12、本申请的第三方面还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行时，实现上述第一方面所述的电弧检测方法。

13、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

技术特征：

1.一种电弧检测方法，应用于一放电装置，所述放电装置包括相互电连接的检测电路和放电电路，所述电弧检测方法用于检测所述放电装置的是否产生电弧，其特征在于，所述电弧检测方法包括：

2.如权利要求1所述的电弧检测方法，其特征在于，所述至少一个周期为当前周期；所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧，包括：

3.如权利要求1所述的电弧检测方法，其特征在于，所述至少一个周期为距离当前时刻最近的n个周期，n≥2；所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧，包括：

4.如权利要求1所述的电弧检测方法，其特征在于，所述至少一个周期为一统计时段内的m个周期，其中，所述统计时段为起始时刻至当前时刻的时长为预设时长的时段，所述预设时长大于或者等于一个周期的时长的两倍，m≥2；所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧，包括：

5.如权利要求1所述的电弧检测方法，其特征在于，所述检测信号为电流信号，在所述根据所述至少一个周期中每个周期的所述正半周特征值与所述负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定所述放电装置是否产生电弧之前，所述电弧检测方法还包括：

6.如权利要求5所述的电弧检测方法，其特征在于，所述根据所述各个周期的有效值的平均值确定对应的特征值阈值，包括：

7.如权利要求1所述的电弧检测方法，其特征在于，所述检测信号的特征值为峰值、有效值以及平均值中的一种。

8.如权利要求1所述的电弧检测方法，其特征在于，在所述获取检测信号之前，所述电弧检测方法还包括：

9.一种放电装置，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有程序，所述程序被处理器执行时，实现权利要求1至8任意一项所述的电弧检测方法。

技术总结
本申请提供一种电弧检测方法、放电装置以及计算机可读存储介质，所述电弧检测方法用于检测放电装置的是否产生电弧，电弧检测方法包括：获取检测信号；其中，检测信号是检测电路检测放电电路的放电电压或者放电电流而输出的信号，检测信号包括电压信号或者电流信号；确定检测信号在至少一个周期中每个周期的正半周期的正半周特征值以及负半周期的负半周特征值；以及，根据所述至少一个周期中每个周期的正半周特征值与负半周特征值之间的特征值差值与一特征值阈值之间的大小关系确定放电装置是否产生电弧。本申请提供的电弧检测方法可以提升电弧检测的成功率、提升设备的安全性。

技术研发人员：杨明钢,陈亚梯,韩帅,潘盛和
受保护的技术使用者：深圳市瀚强科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/22