一种覆晶薄膜检测设备及其遮光板的设计方法与流程

文档序号:37115371发布日期:2024-02-22 21:14阅读:13来源:国知局
一种覆晶薄膜检测设备及其遮光板的设计方法与流程

本公开的实施例属于覆晶薄膜检测,具体涉及一种覆晶薄膜检测设备及其遮光板的设计方法。


背景技术:

1、cof(覆晶薄模)产品检测设备通过镜头获取产品表面图像,再与母图对比色阶差判断是否有异常。随着芯片行业的蓬勃发展,cof制程也趋渐成熟,因此对外观品质的要求也更高。并且散热贴产品需求量逐步增大,外观检验设备对散热贴产品的检测面临了新的挑战。

2、cof制程中,出货检测设备在进行cof产品pi面或检测pi加散热贴产品时,会由于光线强度大,出现阴影强度不够,有些折损阴影不明显,导致检测机台较难通过色阶差检出异常的情况,造成漏检出货客户端。


技术实现思路

1、本公开的实施例旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种覆晶薄膜检测设备及其遮光板的设计方法。

2、本公开的一个方面提供一种覆晶薄膜检测设备用遮光板的设计方法,所述覆晶薄膜检测设备包括依次设置的检测台、检测光源和检测镜头,所述检测台用于放置覆晶薄膜,所述遮光板位于所述检测台和所述检测光源之间,所述遮光板具有可调节宽度的透光区,所述方法包括:

3、分别获取所述遮光板具有不同宽度透光区时所述覆晶薄膜表面的预定检测点的rgb值;

4、将不同宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值进行比较,根据比较结果确定所述遮光板的目标透光区宽度。

5、可选的,所述根据比较结果确定所述遮光板的目标透光区宽度,包括:

6、将最小的所述预定检测点的rgb值对应的透光区宽度作为所述遮光板的目标透光区宽度。

7、可选的,所述预定检测点为多个,所述将不同宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值进行比较,包括:

8、分别计算不同宽度透光区对应的所述多个预定检测点的rgb均值;

9、将不同宽度透光区对应的所述多个预定检测点的rgb均值进行比较。

10、可选的,所述多个预定检测点分别位于所述覆晶薄膜表面的边缘位置处。

11、可选的,将不同宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值进行比较,包括:

12、将任一宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值与其余宽度透光区对应的各所述预定检测点的rgb值进行比较,判断所述任一宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值是否为最小;或,

13、将任一宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值与其余各宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值逐个进行比较,每次比较后保留较小值。

14、可选的,所述遮光板包括相对间隔且可移动的第一遮光子板和第二遮光子板,两者之间的间隔形成透光区;所述方法还包括:

15、通过调整所述第一遮光子板和所述第二遮光子板之间的间隔,得到具有不同宽度透光区的遮光板。

16、可选的,所述第一遮光子板和第二遮光子板均具有调节通孔,所述遮光板还包括调节紧固件,所述第一遮光子板和所述第二遮光子板均通过穿设于所述调节通孔中的调节紧固件固定;

17、所述通过调整所述第一遮光子板和所述第二遮光子板之间的间隔,得到不同宽度透光区的遮光板,包括:

18、旋松所述调节紧固件,控制所述第一遮光子板和所述第二遮光子板向相对或相背的方向沿所述调节通孔移动,调整到预定位置后,旋紧所述调节紧固件。

19、可选的,所述目标透光区宽度范围为14mm~18mm。

20、本公开的另一方面提供一种覆晶薄膜检测设备,包括依次设置的检测台、检测光源和检测镜头,其特征在于,所述覆晶薄膜检测设备还包括位于所述检测台和所述检测光源之间的遮光板,所述遮光板采用上述的覆晶薄膜检测设备用遮光板的设计方法得到。

21、可选的,所述遮光板包括相对间隔且可移动的第一遮光子板和第二遮光子板,两者之间的间隔形成透光区。

22、本公开实施例的一种覆晶薄膜检测设备及其遮光板的设计方法,通过设计具有合适透光区宽度的遮光板,将其设置于覆晶薄膜产品检测设备中的检测台和检测光源之间,减小覆晶薄膜产品检测时受到的光线强度,获得足够大的色阶差,从而使检测设备更易检出产品的异常情况,减小了漏检的风险。



技术特征:

1.一种覆晶薄膜检测设备用遮光板的设计方法,所述覆晶薄膜检测设备包括依次设置的检测台、检测光源和检测镜头,所述检测台用于放置覆晶薄膜,其特征在于,所述遮光板位于所述检测台和所述检测光源之间,所述遮光板具有可调节宽度的透光区,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据比较结果确定所述遮光板的目标透光区宽度,包括:

3.根据权利要求1或2任一项所述的方法,其特征在于,所述预定检测点为多个,所述将不同宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值进行比较,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述多个预定检测点分别位于所述覆晶薄膜表面的边缘位置处。

5.根据权利要求1或2任一项所述的方法,其特征在于,将不同宽度透光区对应的所述预定检测点的rgb值进行比较,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一遮光子板和第二遮光子板均具有调节通孔,所述遮光板还包括调节紧固件,所述第一遮光子板和所述第二遮光子板均通过穿设于所述调节通孔中的调节紧固件固定;

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述目标透光区宽度范围为14mm~18mm。

9.一种覆晶薄膜检测设备,所述覆晶薄膜检测设备包括依次设置的检测台、检测光源和检测镜头,其特征在于,所述覆晶薄膜检测设备还包括位于所述检测台和所述检测光源之间的遮光板,所述遮光板采用权利要求1至8任一项所述的方法得到。

10.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述遮光板包括相对间隔且可移动的第一遮光子板和第二遮光子板,两者之间的间隔形成透光区。


技术总结
本公开的实施例提供一种覆晶薄膜检测设备及其遮光板的设计方法。覆晶薄膜检测设备包括依次设置的检测台、检测光源和检测镜头,检测台用于放置覆晶薄膜,遮光板位于检测台和检测光源之间,遮光板具有可调节宽度的透光区。方法包括:分别获取遮光板具有不同宽度透光区时覆晶薄膜表面的预定检测点的RGB值;将不同宽度透光区对应的预定检测点的RGB值进行比较,根据比较结果确定遮光板的目标透光区宽度。本公开的实施例通过设计具有合适透光区宽度的遮光板,将其设置于覆晶薄膜产品检测设备中的检测台和检测光源之间,减小覆晶薄膜产品检测时受到的光线强度,获得足够大的色阶差,从而使检测设备更易检出产品的异常情况,减小了漏检的风险。

技术研发人员:庄哲鑫
受保护的技术使用者:厦门通富微电子有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/21
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