带厚度测量的激光透过率测量仪的制作方法

本发明涉及一种测量机构，尤其涉及一种针对产品样片的带厚度测量的激光透过率测量仪。

背景技术：

1、在进行激光焊接之前，精确测量产品至关重要。为了方便测量，通常会采用一小部分样片来进行测量和评估。这些样片用于在焊接前试验和调整焊接参数，以确保焊接过程的质量和可靠性。需要对样片进行测量和评估，以确定最佳的焊接参数和工艺，并将这些参数应用于大规模的生产过程中。样片的主要作用是提供焊接参数的参考，以确保生产出的产品具有所需的焊接质量和精度。目前，许多厂商通常使用千分尺等工具来测量样片的厚度，以便确定激光焊接的参数。然而，这种测量过程较为繁琐、费时且效率较低。

2、此外，激光焊接通过激光束产生的热量使塑料接触面熔化，从而将热塑性片材、薄膜或模塑零部件粘结在一起。在利用激光焊接对塑料焊件进行焊接时，塑料的透过率对焊接质量起着至关重要的作用。目前，各厂家对透过率的测量一般按照以下步骤进行：

3、s1：准备测量环境，确保测量场地和设备清洁、无尘，避免干扰光线的影响；

4、s2：安装测量样品，选择符合规范的测量样品，并将其安装在测量设备上；

5、s3：设定测量条件，选择合适的测量波长、角度、时间等条件，并确保测量条件的准确性和一致性；

6、s4：进行测量，在设定条件下进行多次测量，并记录每个样品的透过率数据；

7、s5：数据分析，对透过率数据进行统计、分析和比较，以评估样品的性能和差异；

8、最后，结果呈现，将透过率数据以图表或报告的形式呈现，以便客户或相关部门理解和使用。

9、上述步骤可能因不同的测量设备和样片而略有不同，但总体来说，透过率测量都需要确保测量环境、样品选择、测量条件设定和数据分析的准确性，以便获得可靠的结果。现有的方法测量步骤极其繁琐、费时又费力、成本较高，在量产时效率较低。

10、所以，有必要设计一种新的测量装置以解决上述技术问题。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供了一种结构紧凑、测量简便的带厚度测量的激光透过率测量仪。

2、为实现前述目的，本发明采用如下技术方案：一种带厚度测量的激光透过率测量仪，其包括机壳、厚度测量组件、透过率测量组件及活动架；所述机壳包括第一安装区及位于所述第一安装区下方的放置区，所述厚度测量组件及所述透过率测量组件至少部分地安装于所述第一安装区；所述厚度测量组件包括角度传感器及测距轴，所述角度传感器包括电阻器及旋转的电极，所述测距轴竖直的安装于所述机壳，跟随所述活动架同步上下移动，所述测距轴与所述电极摩擦配合以触动所述电极旋转；所述透过率测量组件包括激光器、反射镜及光电探测器，所述放置区介于所述反射镜与所述光电探测器之间，所述激光器发出的激光经所述反射镜反射后，穿过所述放置区中的产品样片并照射在所述光电探测器上；所述活动架安装于所述放置区，能够上下移动以便所述产品样片放入所述放置区，所述活动架向上的位移等于所述产品样片的厚度。

3、进一步的改进，所述活动架包括位于所述放置区中的底板及从所述底板左右两端向上弯折延伸的操作板，所述操作板暴露于所述机壳外侧，用以供手动抬放所述活动架。

4、进一步的改进，所述第一安装区包括第一底壁及从所述第一底壁四周向上延伸的若干第一侧壁，所述放置区位于所述第一底壁下方，所述测距轴穿设所述第一底壁，向下抵靠所述活动架，所述激光器及所述反射镜位于所述第一安装区。

5、进一步的改进，所述透过率测量组件还包括安装于所述第一底壁上的底座，所述激光器和所述反射镜安装于所述底座，所述激光器相当于所述激光器倾斜设置。

6、进一步的改进，所述透过率测量组件还包括布置在所述激光器和所述反射镜之间的透镜，用于将发散的光线调整为平行的光线。

7、进一步的改进，所述透过率测量组件还还包括遮盖所述光电探测器的衰减片，激光是先穿过所述衰减片后照射于所述光电探测器，所述衰减片安装于所述机壳。

8、进一步的改进，所述机壳包括位于所述放置区下方的第二安装区，所述第二安装区包括第二底壁及从所述第二底壁四周向下延伸的若干第二侧壁，所述光电探测器安装于所述第二安装区。

9、进一步的改进，所述机壳包括底座、遮盖在所述底座顶部的顶盖及固定于所述底座外侧面的u形定位片，所述第一安装区和所述放置区设于所述底座；所述第一侧壁设有左右相对的两第一外侧面及连接该两第一外侧面的第二外侧面，所述第一外侧面设有向下延伸至所述放置区的第一凹槽，所述第一外侧面设有向下延伸至所述放置区的第二凹槽；所述活动架设有向上伸入所述第一凹槽的操作板；所述定位片包括左右相对的两第一侧端部及垂直连接在该两第一端部之间的第二侧端部，所述第一侧端部固定于所述第一凹槽，所述第二侧端部位于所述第二凹槽，并且与所述第二凹槽的内壁面之间形成一限位空间；所述活动架还包括向上弯折延伸入所述限位空间的限位板。

10、进一步的改进，所述厚度测量组件还包括安装于所述第一安装区中的轴承，所述轴承上设有与所述测距轴接触在一起的转轴，所述转轴和所述电极位于所述测距轴的相对两侧。

11、进一步的改进，所述厚度测量组件还包括向下抵压于所述测距轴上的第一弹簧及向下抵压于所述活动架的第二弹簧。

12、本发明带厚度测量的激光透过率测量仪在放置待测产品样片后，活动架驱动测距轴发生位置变化，当测距轴向上移动时，带动角度传感器的电极旋转一定角度，根据电极旋转的角度，即可计算出测距轴的位移，该位移等于产品样片的厚度；利用反射镜的反射作用，可以缩短光路。如此设计，减小测量仪的尺寸，使其结构紧凑，便于携带，同时实现简便、高效且可靠对产品样片的激光透过率和厚度的同步测量，降低成本。

技术特征：

1.一种带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：包括机壳、厚度测量组件、透过率测量组件及活动架；所述机壳包括第一安装区及位于所述第一安装区下方的放置区，所述厚度测量组件及所述透过率测量组件至少部分地安装于所述第一安装区；所述厚度测量组件包括角度传感器及测距轴，所述角度传感器包括电阻器及旋转的电极，所述测距轴竖直的安装于所述机壳，跟随所述活动架同步上下移动，所述测距轴与所述电极摩擦配合以触动所述电极旋转；所述透过率测量组件包括激光器、反射镜及光电探测器，所述放置区介于所述反射镜与所述光电探测器之间，所述激光器发出的激光经所述反射镜反射后，穿过所述放置区中的产品样片并照射在所述光电探测器上；所述活动架安装于所述放置区，能够上下移动以便所述产品样片放入所述放置区，所述活动架向上的位移等于所述产品样片的厚度。

2.根据权利要求1所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述活动架包括位于所述放置区中的底板及从所述底板左右两端向上弯折延伸的操作板，所述操作板暴露于所述机壳外侧，用以供手动抬放所述活动架。

3.根据权利要求1所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述第一安装区包括第一底壁及从所述第一底壁四周向上延伸的若干第一侧壁，所述放置区位于所述第一底壁下方，所述测距轴穿设所述第一底壁，向下抵靠所述活动架，所述激光器及所述反射镜位于所述第一安装区。

4.根据权利要求3所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述透过率测量组件还包括安装于所述第一底壁上的底座，所述激光器和所述反射镜安装于所述底座，所述激光器相当于所述激光器倾斜设置。

5.根据权利要求1所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述透过率测量组件还包括布置在所述激光器和所述反射镜之间的透镜，用于将发散的光线调整为平行的光线。

6.根据权利要求1所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述透过率测量组件还还包括遮盖所述光电探测器的衰减片，激光是先穿过所述衰减片后照射于所述光电探测器，所述衰减片安装于所述机壳。

7.根据权利要求1所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述机壳包括位于所述放置区下方的第二安装区，所述第二安装区包括第二底壁及从所述第二底壁四周向下延伸的若干第二侧壁，所述光电探测器安装于所述第二安装区。

8.根据权利要求3所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述机壳包括底座、遮盖在所述底座顶部的顶盖及固定于所述底座外侧面的u形定位片，所述第一安装区和所述放置区设于所述底座；所述第一侧壁设有左右相对的两第一外侧面及连接该两第一外侧面的第二外侧面，所述第一外侧面设有向下延伸至所述放置区的第一凹槽，所述第一外侧面设有向下延伸至所述放置区的第二凹槽；所述活动架设有向上伸入所述第一凹槽的操作板；所述定位片包括左右相对的两第一侧端部及垂直连接在该两第一端部之间的第二侧端部，所述第一侧端部固定于所述第一凹槽，所述第二侧端部位于所述第二凹槽，并且与所述第二凹槽的内壁面之间形成一限位空间；所述活动架还包括向上弯折延伸入所述限位空间的限位板。

9.根据权利要求1所述的带厚度测量的激光透过率测量仪，其特征在于：所述厚度测量组件还包括安装于所述第一安装区中的轴承，所述轴承上设有与所述测距轴接触在一起的转轴，所述转轴和所述电极位于所述测距轴的相对两侧。

10.根据权利要求1所述的厚度测量机构，其特征在于：所述厚度测量组件还包括向下抵压于所述测距轴上的第一弹簧及向下抵压于所述活动架的第二弹簧。

技术总结
本发明公开一种带厚度测量的激光透过率测量仪，其包括机壳、厚度测量组件、透过率测量组件及活动架；所述厚度测量组件包括角度传感器及测距轴，所述角度传感器包括电阻器及旋转的电极，所述测距轴竖直的安装于所述机壳，跟随所述活动架同步上下移动；所述透过率测量组件包括激光器、反射镜及光电探测器，所述激光器发出的激光经所述反射镜反射后，穿过所述放置区中的产品样片并照射在所述光电探测器上；所述活动架安装于所述放置区，能够上下移动，所述活动架向上的位移等于所述产品样片的厚度，该测量仪能够同步进行激光透过率和厚度的测量，结构紧凑，便于携带，同时实现简便、高效的测量，降低成本。

技术研发人员：汪飞
受保护的技术使用者：北京蓝溪华兴光电科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/22