晶振抽检装置的制作方法

本发明涉及晶振测试，尤其涉及一种晶振抽检装置。

背景技术：

1、晶振是一种石英压电元件，晶振在生产后，需要对其进行电气性能检测，目前的检测手段是由后段测试设备进行整体产品检测，对上段工序生产的该批次产品无法及时监测，同时抽检方式为人工抽检，该方式抽检数量少且耗时，测试时间长效率低，不适合大批量抽检。

技术实现思路

1、本发明旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提供一种晶振抽检装置，提高了对晶振的检测效率，节约了晶振的检测时间，提高了对晶振生产时的工序控制效果。

2、本发明提供一种晶振抽检装置，包括：

3、底座；

4、载料机构，所述载料机构包括位置可调地安装于所述底座的载盘以及安装于所述载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，所述晶振放置于所述载盘；

5、测试机构，所述测试机构包括位置可调地安装于所述底座的第一移动板以及高度可调地安装于所述第一移动板的测试件，通过所述载盘沿所述底座的第一方向移动且所述第一移动板沿所述底座的第二方向移动，以使得所述测试件对应于所述载盘，进而所述测试件向下移动以检测所述晶振并判断为合格晶振或次品晶振；

6、吸取机构，所述吸取机构包括位置可调地安装于所述底座的第二移动板以及高度可调地安装于所述第二移动板的吸取件，通过所述第二移动板沿所述底座的第二方向移动，以带动所述吸取件对应于所述次品晶振，进而所述吸取件向下移动并吸取所述晶振，进而所述吸取件将所述次品晶振移动至回收盒。

7、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，所述测试件包括连接于所述第一移动板的侧面且沿竖直向延伸的第一滑轨、滑设于所述第一滑轨的第一滑板、连接于所述第一滑板远离所述第一滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第二滑轨、滑设于所述第二滑轨的第二滑板以及连接于所述第二滑板的探针，所述探针用于检测所述晶振。

8、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，所述第二滑轨间隔设置有多个，所述第二滑板和所述第二滑轨一一对应设置，所述探针和所述第二滑板一一对应设置。

9、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括开设有于所述第二滑板的第一限位孔以及穿设于所述第一限位孔的限位栓，所述第一滑板上开设有第二限位孔；

10、通过按压所述限位栓，以使得所述限位栓卡设于所述第二限位孔，以固定连接所述第一滑板和所述第二滑板。

11、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，所述吸取件包括连接于所述第二移动板的侧面且沿竖直向延伸的第三滑轨、滑设于所述第三滑轨的第三滑板、连接于所述第三滑板远离所述第三滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第四滑轨、滑设于所述第四滑轨的第四滑板以及连接于所述第四滑板的吸头，所述底座上设置有真空泵，所述吸头的第一端和所述真空泵连通，所述吸头的第二端用于吸取所述晶振。

12、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括设置于所述载盘的侧部的料盘检测装置，所述料盘检测装置包括固定于所述底座的第一安装架以及设置于所述第一安装架的第一传感器，所述第一传感器用以检测所述载盘的位置。

13、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括设置于所述底座且对应于所述测试件的校准机构，所述校准机构包括固定于所述底座的第二安装架、安装于所述第二安装架的校正板以及安装于所述第二安装架的标准晶振，通过所述测试件接通所述校正板，以校准所述测试件，进而所述测试件接通所述标准晶振以获得检测标准值。

14、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括沿所述第一方向设置于所述底座的第一驱动机构，所述第一驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第一方向延伸的第一导轨、安装于所述第一导轨的第一电机以及滑设于所述第一导轨且驱动连接于所述第一电机的托板，所述载盘可拆卸地安装于所述托板，所述回收盒连接于所述托板的侧部；

15、通过所述第一电机驱动所述托板沿所述第一导轨移动，以带动所述托板沿第一方向移动。

16、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括：

17、固定于所述托板的侧部的壳体，所述壳体的侧部开设有第一开口，所述壳体的顶部开设有第二开口；

18、自所述第一开口滑设于所述壳体内的抽板，所述回收盒放置于所述抽板且位于所述壳体内，所述次品晶振能够自所述第二开口掉落至所述回收盒内；

19、旋拧于所述壳体的侧壁的限位旋钮，通过旋拧所述限位旋钮以对应于所述第一开口，以使得所述限位旋钮挡住所述抽板。

20、本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括沿所述第二方向设置于所述底座的第二驱动机构，所述第二驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第二方向延伸的第二导轨、安装于所述第二导轨的第二电机以及滑设于所述第二导轨且驱动连接于所述第二电机的安装板，所述第一移动板和所述第二移动板连接于所述安装板的侧部且沿竖直向设置；

21、通过所述第二电机驱动所述安装板沿所述第二导轨移动，以带动所述第一移动板和所述第二移动板沿所述第二方向移动。

22、本发明晶振抽检装置通过将上一道工序生产的晶振放置在载盘上，通过移动载盘以将晶振移动至对应测试件和戏曲进的移动路径的位置，通过校准机构以校准测试件，进而通过测试件抽测放置于载盘上的晶振，当检测到次品晶振时，通过吸取件将次品晶振转移至回收盒进行回收，并根据抽测结果以方便调整上一道工序的生产参数，从而提高了晶振的合格率，且该方式为全自动检测方式，能够对每一道工序生产后的晶振进行检测，提高了晶振的生产效率，且全自动检测方式大幅度提高了晶振的检测效率，从而提高了晶振的生产效率。

23、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

技术特征：

1.一种晶振抽检装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，所述测试件包括连接于所述第一移动板的侧面且沿竖直向延伸的第一滑轨、滑设于所述第一滑轨的第一滑板、连接于所述第一滑板远离所述第一滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第二滑轨、滑设于所述第二滑轨的第二滑板以及连接于所述第二滑板的探针，所述探针用于检测所述晶振。

3.根据权利要求2所述的晶振抽检装置，其特征在于，所述第二滑轨间隔设置有多个，所述第二滑板和所述第二滑轨一一对应设置，所述探针和所述第二滑板一一对应设置。

4.根据权利要求3所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括开设于所述第二滑板的第一限位孔以及穿设于所述第一限位孔的限位栓，所述第一滑板上开设有第二限位孔；

5.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，所述吸取件包括连接于所述第二移动板的侧面且沿竖直向延伸的第三滑轨、滑设于所述第三滑轨的第三滑板、连接于所述第三滑板远离所述第三滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第四滑轨、滑设于所述第四滑轨的第四滑板以及连接于所述第四滑板的吸头，所述底座上设置有真空泵，所述吸头的第一端和所述真空泵连通，所述吸头的第二端用于吸取所述晶振。

6.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括设置于所述载盘的侧部的料盘检测装置，所述料盘检测装置包括固定于所述底座的第一安装架以及设置于所述第一安装架的第一传感器，所述第一传感器用以检测所述载盘的位置。

7.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括设置于所述底座且对应于所述测试件的校准机构，所述校准机构包括固定于所述底座的第二安装架、安装于所述第二安装架的校正板以及安装于所述第二安装架的标准晶振，通过所述测试件接通所述校正板，以校准所述测试件，进而所述测试件接通所述标准晶振以获得检测标准值。

8.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括沿所述第一方向设置于所述底座的第一驱动机构，所述第一驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第一方向延伸的第一导轨、安装于所述第一导轨的第一电机以及滑设于所述第一导轨且驱动连接于所述第一电机的托板，所述载盘可拆卸地安装于所述托板，所述回收盒连接于所述托板的侧部；

9.根据权利要求8所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括：

10.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括沿所述第二方向设置于所述底座的第二驱动机构，所述第二驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第二方向延伸的第二导轨、安装于所述第二导轨的第二电机以及滑设于所述第二导轨且驱动连接于所述第二电机的安装板，所述第一移动板和所述第二移动板连接于所述安装板的侧部且沿竖直向设置；

技术总结
本发明涉及晶振测试技术领域，尤其涉及一种晶振抽检装置，包括：底座；载料机构，载料机构包括位置可调地安装于底座的载盘以及安装于载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，晶振放置于载盘；测试机构，测试机构包括位置可调地安装于底座的第一移动板以及高度可调地安装于第一移动板的测试件；吸取机构，吸取机构包括位置可调地安装于底座的第二移动板以及高度可调地安装于第二移动板的吸取件。本发明提供一种晶振抽检装置，提高了对晶振的检测效率，节约了晶振的检测时间，提高了对晶振生产时的工序控制效果。

技术研发人员：李磊,王宇升,张旭,付廷喜,李向前
受保护的技术使用者：天津伍嘉联创科技发展股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15