一种优化DC参数准确性且缩短测试时间的方法与流程

本发明涉及芯片dc(direct current，直流)参数测试，具体而言，涉及一种优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法。

背景技术：

1、随着芯片工艺能力越来越先进，芯片中集成的晶体管越来越多，芯片的功能也越来越多、越来越复杂。如此情况下，一方面，ate(automatic test equipment，自动化测试设备)程序开发会变得更加复杂；另一方面，传统的技术方案一般采用awg(arbitrarywaveform generator，任意波形发生器)扫描来测试芯片dc参数，使得测试时间相对较长，这样会增加芯片的成本。

技术实现思路

1、本发明旨在提供一种优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，以解决采用awg扫描方法测试芯片dc参数时测试时间长的问题。

2、本发明提供的一种优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，采用awg扫描来测试芯片dc参数；其中，进行awg扫描时，通过二分法和芯片输出电压检测，来设置awg扫描的扫描区间。

3、进一步的，所述优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，包括如下步骤：

4、s1，确定awg扫描的扫描区间，初始为测试芯片dc参数的电压区间；

5、s2，进行二分法和芯片输出电压检测：

6、s21，根据当前awg扫描的扫描区间，设置芯片输入电压和芯片输出电压；

7、s22，取扫描区间的中间值作为芯片输入电压，并检测芯片输出电压是否发生电平翻转；然后根据检测结果，以中间值为基础重新设置扫描区间；

8、s23，以重新设置的扫描区域，返回重新执行步骤s21～s22，执行n次步骤s21～s22后，得到所需的awg扫描的扫描区间，n≥1；

9、s3，以步骤s23得到的扫描区间进行awg扫描，测试芯片dc参数。

10、进一步的，步骤s21中，需要根据测试的芯片dc参数，来设置芯片输入电压和芯片输出电压。

11、进一步的，所述测试的芯片dc参数包括芯片的输入高电平vih和输入低电平vil。

12、进一步的，步骤s21中，若测试的芯片dc参数为芯片的输入高电平vih时，设置芯片输入电压为0，保证芯片输出电压为低电平。

13、进一步的，若测试的芯片dc参数为芯片的输入高电平vih时，步骤s22中，根据检测结果，以中间值为基础重新设置扫描区间包括：

14、若芯片输出电压发生电平翻转，则重新设置扫描区间为原扫描区间最小值到中间值；

15、若芯片输出电压未发生电平翻转，则重新设置扫描区间为中间值到原扫描区间最大值。

16、进一步的，步骤s21中，若测试的芯片dc参数为芯片的输入低电平vil时，设置芯片输入电压为测试芯片dc参数的电压区间最大值，保证芯片输出电压为高电平。

17、进一步的，若测试的芯片dc参数为芯片的输入低电平vil时，步骤s22中，根据检测结果，以中间值为基础重新设置扫描区间包括：

18、若芯片输出电压发生电平翻转，则重新设置扫描区间为原扫描区间最大值到中间值；

19、若芯片输出电压未发生电平翻转，则重新设置扫描区间为中间值到原扫描区间最小值。

20、综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

21、1、本发明的方法在进行awg扫描时，通过二分法和芯片输出电压检测，来设置awg扫描的扫描区间，能够将扫描区间压缩到1/2n，也即是将测试时间缩短至1/2n，n为根据实际需要进行二分的次数。

22、2、本发明的方法通过压缩awg扫描的扫描区间，能够使得测试得到的芯片dc参数(芯片的输入高电平vih和输入低电平vil)在很小的区间波动，从而提高了测试准确性。

技术特征：

1.一种优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，该方法采用awg扫描来测试芯片dc参数，其特征在于，进行awg扫描时，通过二分法和芯片输出电压检测，来设置awg扫描的扫描区间。

2.根据权利要求1所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，包括如下步骤：

3.根据权利要求2所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，步骤s21中，需要根据测试的芯片dc参数，来设置芯片输入电压和芯片输出电压。

4.根据权利要求3所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，所述测试的芯片dc参数包括芯片的输入高电平vih和输入低电平vil。

5.根据权利要求4所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，步骤s21中，若测试的芯片dc参数为芯片的输入高电平vih时，设置芯片输入电压为0，保证芯片输出电压为低电平。

6.根据权利要求5所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，若测试的芯片dc参数为芯片的输入高电平vih时，步骤s22中，根据检测结果，以中间值为基础重新设置扫描区间包括：

7.根据权利要求4所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，步骤s21中，若测试的芯片dc参数为芯片的输入低电平vil时，设置芯片输入电压为测试芯片dc参数的电压区间最大值，保证芯片输出电压为高电平。

8.根据权利要求7所述的优化dc参数准确性且缩短测试时间的方法，其特征在于，若测试的芯片dc参数为芯片的输入低电平vil时，步骤s22中，根据检测结果，以中间值为基础重新设置扫描区间包括：

技术总结
本发明提供一种优化DC参数准确性且缩短测试时间的方法，该方法采用AWG扫描来测试芯片DC参数，并在进行AWG扫描时，通过二分法和芯片输出电压检测，来设置AWG扫描的扫描区间。一方面，本发明的方法能够将扫描区间压缩到1/2N，也即是将测试时间缩短至1/2N，N为根据实际需要进行二分的次数。另一方面，本发明的方法通过压缩AWG扫描的扫描区间，能够使得测试得到的芯片DC参数(芯片的输入高电平VIH和输入低电平VIL)在很小的区间波动，从而提高了测试准确性。

技术研发人员：赵玉成,范世容,李龙杰
受保护的技术使用者：珠海电科星拓科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/6