电阻封装器件可靠性循环测试装置的制作方法

本发明涉及电阻封装器件可靠性测试，尤其涉及电阻封装器件可靠性循环测试装置。

背景技术：

1、元器件的可靠性可由固有的可靠性与使用的可靠性组成，封装制造均有可靠度的要求，业界tct测试上下限通常分别定在150℃及-50℃，每次温度停留时间与转变温度的过渡时间均有要求，并进行上百次的温度循环测试。

2、现有技术中电阻封装器件温度循环测试装置运行过程中，高、低温度环境切换时，易对高、低温环境造成破坏，在上百次的温度循环测试中，加大维持高、低温环境的耗能。

技术实现思路

1、本发明的目的是解决现有技术中存在的电阻封装器件温度循环测试装置运行过程中，高、低温度环境切换时，易对高、低温环境造成破坏，加大维持高、低温环境的耗能的缺点。

2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：电阻封装器件可靠性循环测试装置，包括安装筒、料盒和测试线缆，所述安装筒的内侧壁上固接有支撑外筒，所述安装筒的外侧壁上固接有螺旋分布的若干组温差室，所述温差室的侧壁共同螺旋传动连接有螺旋传动管，所述支撑外筒的两端均固接有支架，所述支撑外筒的内侧壁上转动连接有驱动杆，所述驱动杆的两端均设置有多棱柱体，且均滑动套接有滑筒，所述螺旋传动管的两端均固接有连体端盖，所述连体端盖与滑筒之间均设置有行星传动齿轮组件，所述行星传动齿轮组件安装支架上；

3、所述温差室包括依次固接在安装筒外侧壁上的高温箱、常温箱、低温箱，所述高温箱、低温箱和常温箱均与螺旋传动管螺旋传动连接，所述低温箱的顶端之间和底端之间均通过连体管道固定连通，所述连体管道的外侧壁上均固定连通有供能管道；

4、所述螺旋传动管的侧壁上开设有若干个等距分布的放置室，所述料盒卡接在放置室的内部。

5、进一步的，所述放置室的内顶壁和内底壁上均开设有热辐射窗口，所述热辐射窗口的内侧壁上均固接有封板，所述封板为导热材料。

6、进一步的，所述测试线缆安装在螺旋传动管的内部，所述放置室的内侧壁上均设置有电性连接在测试线缆上的线路接头。

7、进一步的，所述支架包括支撑环和导向杆，所述支撑环设置有两个，所述支撑环分别与支撑外筒的外侧壁固接、与驱动杆的外侧壁转动连接，所述导向杆固接在两个支撑环之间。

8、进一步的，所述支撑环的内径均大于连体端盖的外径。

9、进一步的，所述行星传动齿轮组件包括三角支撑板、附加环、从动齿轮、驱动齿环和传动齿环，所述三角支撑板滑动连接在支架上，所述三角支撑板和附加环均转动套接在滑筒的外侧壁上，所述附加环固接在连体端盖的一端，所述从动齿轮设置有三个并安装在三角支撑板上，所述驱动齿环固接在滑筒的外侧壁上，所述传动齿环固接在附加环的内侧壁上，所述驱动齿环通过从动齿轮与传动齿环啮合连接。

10、进一步的，若干个所述高温箱通过两端的供能管道连通热风管道，若干个所述低温箱通过两端的供能管道连通制冷管道，若干个所述常温箱通过两端的供能管道连通冷却风管道。

11、进一步的，所述螺旋传动管的外侧壁上均固接有若干个隔温密封垫，所述隔温密封垫分别位于高温箱、低温箱、常温箱与螺旋传动管的连接处。

12、进一步的，所述常温箱的外侧壁上均开设有若干个取料窗，用于在所述常温箱的内部向放置室中取放料盒。

13、与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于：

14、1、本发明中，高温箱的首、尾之间分别相互连通，低温箱、常温箱也均如此，若干组温差室螺旋分布，螺旋传动管与温差室螺旋传动连接，使螺旋传动管在连体端盖、支架、行星传动齿轮组件、支撑外筒和驱动杆的作用下，能够螺旋传动放置室内的料盒在高温箱、常温箱、低温箱之间自由切换位置，料盒隐藏在螺旋传动管中，且切换过程中，螺旋传动管穿过高温箱、低温箱时的螺旋传动通道，高温箱、低温箱始终保持封堵状态，能够减少切换过程中高温箱内部热量大量外泄对高温环境造成的破坏，减少外部热量进入低温箱的内部对低温环境造成的破坏，减少维持高、低温环境的高耗能。

15、2、本发明中，通过设置常温箱，常温箱连接的供能管道通入常温风时，可加快转变温度时的停留时间，同时通过开启取料窗后可直接对放置室内的料盒进行更换，且不会对高、低温环境造成破坏。

技术特征：

1.电阻封装器件可靠性循环测试装置，包括安装筒(1)、料盒(32)和测试线缆，所述安装筒(1)的内侧壁上固接有支撑外筒(7)，其特征在于：所述安装筒(1)的外侧壁上固接有螺旋分布的若干组温差室，所述温差室的侧壁共同螺旋传动连接有螺旋传动管(3)，所述支撑外筒(7)的两端均固接有支架(5)，所述支撑外筒(7)的内侧壁上转动连接有驱动杆(8)，所述驱动杆(8)的两端均设置有多棱柱体，且均滑动套接有滑筒(81)，所述螺旋传动管(3)的两端均固接有连体端盖(4)，所述连体端盖(4)与滑筒(81)之间均设置有行星传动齿轮组件(6)，所述行星传动齿轮组件(6)安装支架(5)上；

2.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述放置室(31)的内顶壁和内底壁上均开设有热辐射窗口(33)，所述热辐射窗口(33)的内侧壁上均固接有封板(34)，所述封板(34)为导热材料。

3.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述测试线缆安装在螺旋传动管(3)的内部，所述放置室(31)的内侧壁上均设置有电性连接在测试线缆上的线路接头(35)。

4.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述支架(5)包括支撑环(51)和导向杆(52)，所述支撑环(51)设置有两个，所述支撑环(51)分别与支撑外筒(7)的外侧壁固接、与驱动杆(8)的外侧壁转动连接，所述导向杆(52)固接在两个支撑环(51)之间。

5.根据权利要求4所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述支撑环(51)的内径均大于连体端盖(4)的外径。

6.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述行星传动齿轮组件(6)包括三角支撑板(61)、附加环(62)、从动齿轮(63)、驱动齿环(64)和传动齿环(65)，所述三角支撑板(61)滑动连接在支架(5)上，所述三角支撑板(61)和附加环(62)均转动套接在滑筒(81)的外侧壁上，所述附加环(62)固接在连体端盖(4)的一端，所述从动齿轮(63)设置有三个并安装在三角支撑板(61)上，所述驱动齿环(64)固接在滑筒(81)的外侧壁上，所述传动齿环(65)固接在附加环(62)的内侧壁上，所述驱动齿环(64)通过从动齿轮(63)与传动齿环(65)啮合连接。

7.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：若干个所述高温箱(2)通过两端的供能管道(24)连通热风管道，若干个所述低温箱(21)通过两端的供能管道(24)连通制冷管道，若干个所述常温箱(22)通过两端的供能管道(24)连通冷却风管道。

8.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述螺旋传动管(3)的外侧壁上均固接有若干个隔温密封垫(36)，所述隔温密封垫(36)分别位于高温箱(2)、低温箱(21)、常温箱(22)与螺旋传动管(3)的连接处。

9.根据权利要求1所述的电阻封装器件可靠性循环测试装置，其特征在于：所述常温箱(22)的外侧壁上均开设有若干个取料窗(25)，用于在所述常温箱(22)的内部向放置室(31)中取放料盒(32)。

技术总结
本发明提供电阻封装器件可靠性循环测试装置，涉及电阻封装器件可靠性测试技术领域，包括安装筒、料盒和测试线缆，所述安装筒的内侧壁上固接有支撑外筒，所述安装筒的外侧壁上固接有螺旋分布的若干组温差室，所述温差室的侧壁共同螺旋传动连接有螺旋传动管，所述支撑外筒的两端均固接有支架，所述支撑外筒的内侧壁上转动连接有驱动杆，所述驱动杆的两端均设置有多棱柱体，通过上述技术方案，其目的在于，切换过程中螺旋传动管始终保持封堵穿过高温箱、低温箱时的螺旋传动通道，能够减少切换过程中高温箱内部热量大量外泄对高温环境造成的破坏，减少外部热量进入低温箱的内部对低温环境造成的破坏，减少维持高、低温环境的高耗能。

技术研发人员：严正
受保护的技术使用者：苏州贝赛检测技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/25