一种辐射监测校准系统的制作方法

文档序号:36996448发布日期:2024-02-09 12:37阅读:16来源:国知局
一种辐射监测校准系统的制作方法

本发明属于辐射监测校准的,具体涉及一种辐射监测校准系统。


背景技术:

1、辐射监测校准是检验辐射监测设备是否具备合格监测能力的重要手段,这种检验通常是采用专业实验室内的精密校准设备进行;但有部分辐射监测设备是固定设置在野外的,定期运回专业实验室进行检验较为困难;因此,针对部分野外固定的辐射监测设备,目前多采用简易、便携的室外辐射监测校准系统进行现场检验,该校准系统是利用放射源发出的射线经过准直器后将注量减小到有用射线的千分之一时产生的参考辐射场对待检验辐射监测设备进行检验校准;但放射源在使用时容易出现辐射泄漏,意外丢失会对周围生物持续造成伤害,安全性较差。

2、对此,申请人选择x光机发出的x射线来代替放射源发出的射线,以提高安全性,但对于x光机发出的x射线,需要经过过滤才能得到接近参考辐射的辐射场;具体原理是利用x光机发出x射线,x射线经过准直器准直,然后经过过滤装置进行衰减过滤,最后射向待检验辐射监测设备,待检验辐射监测设备的探测器对衰减过滤的x射线作出响应;通过切换过滤装置的衰减片组、x光机的管电压和管电流实现该校准系统射出x射线的剂量率变化,以提供待检验辐射监测设备的校准点。但在试验后发现,x射线在经过过滤装置衰减过滤后,x射线的散射辐射会增加,导致辐射场的均匀性及散射辐射难以满足对待检验辐射监测设备进行检验校准的要求,因此,需要对目前基于x光机的辐射监测校准系统作进一步改进。


技术实现思路

1、针对现有技术的上述不足,本发明的目的在于提供一种辐射监测校准系统,解决目前基于x光机的辐射监测校准系统难以满足检验校准要求的技术问题,取得检验校准更方便、安全的效果。

2、为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:

3、一种辐射监测校准系统,包括竖向设置的x光机,x光机的发射端朝上,x光机的上方自下而上依次竖向设有下准直器、过滤装置和上准直器,下准直器的下端与x光机的发射端对接,过滤装置的两端分别与下准直器的上端和上准直器的下端对接。

4、进一步地,上准直器包括呈圆筒状并由外到内依次同轴设置的外壳、栅筒和支撑筒,外壳、栅筒和支撑筒的长度均相同且端面平齐;栅筒的外径与外壳的内径相匹配,栅筒和支撑筒之间竖向交替层叠多个支撑环和多个栅环,支撑环和栅环均与栅筒同轴,支撑环和栅环的外径均与栅筒的内径相匹配,支撑环和栅环的内径均与支撑筒的外径相匹配,栅筒和所述多个栅环组成光栅,支撑筒和支撑环组成支撑体;下准直器与上准直器结构相同。

5、进一步地,栅筒和栅环的材质为铅,外壳的材质为铝合金。

6、进一步地,支撑筒和支撑环的材质为塑料。

7、进一步地,下准直器中,壳体下端沿径向向内凸起形成有一圈外收缩部,栅筒的下端和位于最下端的栅环分别与外收缩部抵接,外收缩部的内缘向下凸起形成有圆筒状的外对接部;所述位于最下端的栅环下端沿径向向内凸起形成有一圈内收缩部,支撑筒的下端与内收缩部抵接,内收缩部的内缘向下凸起形成有圆筒状的内对接部,内对接部的外径与外收缩部的内径相匹配,内收缩部和外收缩部的自由端平齐。

8、进一步地,外收缩部的外径自上而下依次递减并包括大径段、锥度段和小径段。

9、相比现有技术,本发明具有如下有益效果:

10、本发明所述辐射监测校准系统,起准直作用的包括下准直器和上准直器,由于x光机射出的x射线呈发散状,为保证人员安全,需要减少散射,因此,设置下准直器位于过滤装置和x光机之间,用于准直从x光机发射端射出的x射线;设置上准直器位于过滤装置的上方,用于准直经过衰减过滤后的辐射,可以准直并减少散射辐射,从而使辐射场的均匀性及散射辐射可以较好地满足对待检验辐射监测设备进行检验校准的要求。



技术特征:

1.一种辐射监测校准系统,其特征在于:包括竖向设置的x光机,x光机的发射端朝上,x光机的上方自下而上依次竖向设有下准直器、过滤装置和上准直器,下准直器的下端与x光机的发射端对接,过滤装置的两端分别与下准直器的上端和上准直器的下端对接。

2.根据权利要求1所述一种辐射监测校准系统,其特征在于:上准直器包括呈圆筒状并由外到内依次同轴设置的外壳、栅筒和支撑筒,外壳、栅筒和支撑筒的长度均相同且端面平齐;栅筒的外径与外壳的内径相匹配,栅筒和支撑筒之间竖向交替层叠多个支撑环和多个栅环,支撑环和栅环均与栅筒同轴,支撑环和栅环的外径均与栅筒的内径相匹配,支撑环和栅环的内径均与支撑筒的外径相匹配,栅筒和所述多个栅环组成光栅,支撑筒和支撑环组成支撑体;下准直器与上准直器结构相同。

3.根据权利要求2所述一种辐射监测校准系统,其特征在于:栅筒和栅环的材质为铅,外壳的材质为铝合金。

4.根据权利要求2所述一种辐射监测校准系统,其特征在于:支撑筒和支撑环的材质为塑料。

5.根据权利要求2所述一种辐射监测校准系统,其特征在于:下准直器中,壳体下端沿径向向内凸起形成有一圈外收缩部,栅筒的下端和位于最下端的栅环分别与外收缩部抵接,外收缩部的内缘向下凸起形成有圆筒状的外对接部;所述位于最下端的栅环下端沿径向向内凸起形成有一圈内收缩部,支撑筒的下端与内收缩部抵接,内收缩部的内缘向下凸起形成有圆筒状的内对接部,内对接部的外径与外收缩部的内径相匹配,内收缩部和外收缩部的自由端平齐。

6.根据权利要求5所述一种辐射监测校准系统,其特征在于:外收缩部的外径自上而下依次递减并包括大径段、锥度段和小径段。


技术总结
本发明公开了一种辐射监测校准系统,包括竖向设置的X光机,X光机的发射端朝上,X光机的上方自下而上依次竖向设有下准直器、过滤装置和上准直器,下准直器的下端与X光机的发射端对接,过滤装置的两端分别与下准直器的上端和上准直器的下端对接。由于X光机射出的X射线呈发散状,为保证人员安全,需要减少散射,因此,设置下准直器位于过滤装置和X光机之间,用于准直从X光机发射端射出的X射线;设置上准直器位于过滤装置的上方,用于准直经过衰减过滤后的辐射,可以准直并减少散射辐射,从而使辐射场的均匀性及散射辐射可以较好地满足对待检验辐射监测设备进行检验校准的要求。

技术研发人员:李佳,刘海峰,赵永鹏,詹鑫欣,廖威龙,余杨
受保护的技术使用者:重庆建安仪器有限责任公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/8
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