成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置的制作方法

本发明提出的是电力领域的成组电容型电流互感器，具体地说是成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置。

背景技术：

1、介质损耗因数tanδ是反映高电压电气设备绝缘性能的一项重要指标，通过测试tanδ可以反映出绝缘的一系列缺陷。电力设备在运行过程中，要定期对tanδ进行测试，若达不到一定标准将不能继续使用该电力设备。长期以来，tanδ的测量是通过介质损耗测试仪实现的，但它的测试程序复杂操作量大测试时间长，并易受人为因素的影响，这些都限制了介质损耗测试仪在电力系统中的应用。

技术实现思路

1、本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提供成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置。该装置通过改进介质损耗测试仪，将其电阻r4的阻值减小，将10000/π改为1000/π，迫使a、b两点都处在地电位，消除ia0和ib0的影响，解决介质损耗因数tanδ测量的技术问题。

2、本发明解决技术问题所采用的方案是：

3、成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置，包括介质损耗测试仪、高压挡位选择开关s2和继电器k2；左侧为待测成组电容型电流互感等效模型，右侧为介质损耗测试仪，中间通过高压挡位选择开关s2进行连接，继电器k2是控制端接入介质损耗测试仪并由介质损耗测试仪控制；高压挡位选择开关s2的挡位分4挡，从下到上分别为0、1、2、3；0挡位为接地挡位，测试前各仪器接地放电，并保护人员不受高压伤害，开始测测量时，高压挡位选择开关s2挡位依次向0-1-0-2-0-3-0变化，别对成组三台成组电容型电流互感器进行测量，并接地放电；其中，改进介质损耗测试仪，将介质损耗测试仪中电阻r4的阻值减小，由10000/π改进为1000/π。

4、进一步的，介质损耗测试仪的改进措施还有：

5、①正确选择接线方式，若试品的两个电极都不接地，正接法比较简单准确；若有一极固定接地，则必须采用反接法；

6、②试品尺寸较大，各部分可以分别测试时，单独测量各部分的介质损耗，以提高发现缺陷的灵敏度；

7、③现场测试时，若没有高压标准电容器，可用介质损耗角正切值tanδ1较小，数值已知，电容量合适的其他高压设备来代替，则被试品的介质损耗为：tanδ＝tanδ1+tanδ2其中，tanδ2为电桥上的读数；

8、④外界有电场干扰时，将使电桥无法平衡或带来严重误差，可采用以下方法消除：

9、1)屏蔽法：用金属网将试品屏蔽起来，使干扰电流只经屏蔽，不经测量元件；

10、2)倒相法：轮流由a、b、c三相选取试验电源，每相又在正、反两种极性下测出介损值tanδ1和tanδ2，取差值最小的一相，再求平均值即可得被试品的tanδ近似值：

11、

12、此时的测量误差为：

13、

14、3)移相法：用移相器改变试验电压的相位,在试验回路的电流与干扰电流同相和反相下测试tanδ；在现场测试时,应尽量远离漏磁大的设备；检流计要注意磁屏蔽,必要时可将检流计的极性转换开关倒换一下,取两次读数的平均值；

15、⑤被试品和标准电容器的高压连接线不应出现电晕,否则tanδ增高；被试品的测量电极的外部绝缘有脏污或受潮,将分流流过桥体的电流,导致tanδ偏小甚至出现负值。

16、积极效果，由于本发明对介质损耗测试仪测试作了一定的改进，解决了测试时对绝缘和抗干扰能力的要求。将介质损耗测试仪电阻r4的阻值减小，将10000/π改为1000/π，迫使a、b两点都处在地电位，消除ia0和ib0的影响。可以在不变更接线的前提现对成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ进行测量，本发明在介质损耗测试仪连线部分做了改进，只需要一次连线，就可以测出三相的介质损耗因数。适宜作为成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置应用。

17、附图说明

18、图1为介质两端施加交流电压的电路图；

19、图2为将介质看成一个电阻和一个无损电容并联组成的等值电路图；

20、图3为根据图2等值电路图作出的向量图；

21、图4为介质损耗测试仪原理图；

22、图5为寄生电容电路图；

23、图6为保护电压电路图；

24、图7为实施例电路原理图。

技术特征：

1.成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置，其特征是：

2.根据权利要求1所述的成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置，其特征是：

技术总结
本发明提出的是电力领域的成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置。包括介质损耗测试仪、高压挡位选择开关S2和继电器K2；左侧为待测成组电容型电流互感等效模型，右侧为介质损耗测试仪，中间通过高压挡位选择开关S2进行连接，继电器K2是控制端接入介质损耗测试仪并由介质损耗测试仪控制；高压挡位选择开关S2的挡位分4挡，介质损耗测试仪中电阻R4的阻值减小，将10000/π改为1000/π。本发明对介质损耗测试仪测试作了改进，解决了测试时对绝缘和抗干扰能力的要求。在不变更接线的前提现对成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ进行测量。适宜作为成组电容型电流互感器介质损耗因数tanδ测量装置应用。

技术研发人员：张立武,朱家正,张一,朱秉权,孟祥柱,郭玉琢,徐胜,左越,常亮,姜苏珈,张弦弦,于浩然,姚佳彤,才佳玉,赵航,曹雨辰
受保护的技术使用者：国网辽宁省电力有限公司葫芦岛供电公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/17