一种电源电流检测电路的制作方法

本技术主要涉及电源检测领域，尤其涉及一种电源电流检测电路。

背景技术：

1、随着科技的发展，电子产品越来越多，现有的电子产品一般都是采用固定电压的电源供电，不同的电子产品，其工作所需的固定电压不尽相同，因此通常需要输出一个固定电压值，在电源管理系统中，通常需要对输入电流或输出电流进行检测以形成恒流控制系统。在常规电源管理系统中，主要是通过对连接在端口电流检测电路中的电源管理系统的输入端口或输出端口和供电端口或负载端口之间的电流采样电阻上的电压进行检测，以对流经其的电流进行检测，然后将检测到的电流返回给主环路，从而建立稳定的电流输出。现有的电流检测电路通过检测采样电阻的输出电压来检测电流值，将采样电阻的输出电压分别与两个参考电压进行比较，从而输出两个指示信号，分别指示电流正常达到设定值，或者电流异常超过设定值。因此，传统的方法会对电流持续的采样，后续再对采样电流进行处理，从而得到峰值电流，因此后续处理电路复杂，并且会混杂噪声信号。

技术实现思路

1、本实用新型提供了一种电源电流检测电路，包括：第一驱动单元和第二驱动单元，在第一驱动单元导通，第二驱动单元关闭时，流经第一驱动单元的电流为第一电流；在第一驱动单元关闭，第二驱动单元导通时，流经第二驱动单元的电流为第二电流；第一检测单元，连接第一驱动单元，将第一电流转换为第一电压形式；第二检测单元，连接第二驱动单元，将第二电流转换为第二电压形式；电感，其中一端、第一驱动单元的第二端、第二驱动单元的第一端，三端相连，电感的另一端为电源电压输出端；采样单元，用于在第一驱动单元关闭时刻采样第一电压并存储；在第二驱动单元导通时刻，采样第二电压并存储；缓冲单元，用于将第一电压和第二电压缓冲后输出。

2、本实用新型的电源电流检测电路，通过电流峰值采样，从而简化了采样电路后的处理过程，是的电流信号的精确度更高。

3、在本实用新型的一个优选方案中，由于可以通过控制采样的时间，从而使两路电流采样共用一个缓冲单元，进一步简化了电路。

技术特征：

1.一种电源电流检测电路，其特征在于，包括第一驱动单元和第二驱动单元，在第一驱动单元导通，第二驱动单元关闭时，流经第一驱动单元的电流为第一电流；

2.根据权利要求1所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述第一驱动单元和第二驱动单元串联于高电平和低电平之间，其连接点为输出端，通过所述电感向外输出电源的供电电压。

3.根据权利要求2所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述采样单元包括第一采样单元和第二采样单元，第一采样单元连接第一驱动单元和第一检测单元，第二采样单元连接第二驱动单元和第二检测单元；

4.根据权利要求3所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述第一采样单元包括第一开关，第一电容，第二开关，所述第一开关的第一端、第一电容第一端、

5.根据权利要求4所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述第一开关为pmos晶体管，第二开关为nmos晶体管所述第三开关为nmos晶体管，第四开关为pmos晶体管。

6.根据权利要求4所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述第一pwm信号高电平时第一驱动单元断开，所述第一pwm信号低电平时，第一驱动单元导通；所述第二pwm信号低电平时第二驱动单元断开，所述第二pwm信号高电平时，第二驱动单元导通。

7.根据权利要求5所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述第一pwm信号高电平的脉冲宽度，大于第二pwm信号高电平脉冲宽度。

8.根据权利要求6所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述缓冲单元包括两个缓冲模块，第一采样单元连接第一缓冲模块，第二采样单元连接第二缓冲模块。

9.根据权利要求6所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述缓冲单元包括一个差分电路，第一采样单元和第二采样单元共同连接到差分电路的输入端。

10.根据权利要求5所述的电源电流检测电路，其特征在于，所述第一驱动单元包括pmos晶体管，第二驱动单元包括nmos晶体管。

技术总结
本技术公开了一种电源电流检测电路，包括：第一驱动单元和第二驱动单元，在第一驱动单元导通，第二驱动单元关闭时，流经第一驱动单元的电流为第一电流；在第一驱动单元关闭，第二驱动单元导通时，流经第二驱动单元的电流为第二电流；第一检测单元，连接第一驱动单元，将第一电流转换为第一电压形式；第二检测单元，连接第二驱动单元，将第二电流转换为第二电压形式；电感，其中一端、第一驱动单元的第二端、第二驱动单元的第一端，三端相连，电感的另一端为电源电压输出端；采样单元，用于在第一驱动单元关闭时刻采样第一电压并存储；在第二驱动单元导通时刻，采样第二电压并存储；缓冲单元，用于将第一电压和第二电压缓冲后输出，本技术的电源电流检测电路，通过电流峰值采样，从而简化了采样电路后的处理过程，是的电流信号的精确度更高。

技术研发人员：郑广伟
受保护的技术使用者：上海合利微半导体有限责任公司
技术研发日：20230113
技术公布日：2024/1/12