一种变形测量装置的制作方法

本技术涉及工程质量检测，特别涉及一种变形测量装置。

背景技术：

1、目前建筑工程上，在测量水平结构构件施加荷载后的挠度变化时，一般采用以下两种方法测量，方法一是在待测水平结构构件的底部架设多个支架，支架距离待测水平结构构件的底部约20cm左右，然后再在支架顶部布设测量表，且测量表指针垂直顶紧待测水平结构构件的底部，测量表读取读数，然后在待测水平结构构件上逐级施加载荷，测量表逐次读取读数，根据多个测量表的逐次读数的差值判断待测水平结构构件的挠度变形情况；方法二是在待测水平结构构件的底部相应位置钻孔并埋入膨胀螺栓，然后将悬挂圆柱形金属重物的钢丝绳系在膨胀螺栓上且使得圆柱形重物底部距待测水平结构构件下方楼地面的顶部约20cm左右，然后再布置测量表并使得测量表指针垂直顶紧圆柱体重物底部，测量表读取读数，然后在待测水平结构构件上逐级施加载荷，测量表逐次读取读数，根据多个测量表的逐次读数的差值判断待测水平结构构件的挠度变形情况。

2、但是，上述方法一，需要架设多个高大的测量表支架，以保证测量表指针能够垂直顶紧待测水平结构构件的底部，并且在测量过程中需要反复攀爬梯子读取测量表读数，费时费力，而且无意碰到测量表支架将导致试验失败；上述方法二，在有风的环境下，构件底部悬挂的圆柱体可能会发生晃动影响测量精度，且在构件底部钻孔埋深膨胀螺栓对其造成损伤且影响美观。此外，上述两种方法在光线不好的环境这不便于读取测量表读数，需要借助辅助光源。

技术实现思路

1、基于此，本实用新型的主要目的是提供一种省时省力、方便快捷，以及在有风或光线条件不好的环境下能够完成准确测量的变形测量装置。

2、为实现上述目的，本实用新型提供一种变形测量装置，包括多个间隔设置的测量组件，所述测量组件包括：

3、激光测距仪，用于测量所述激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离；

4、底座，所述激光测距仪设置于所述底座上，且所述激光测距仪的轴线与所述底座垂直；及

5、支架，用于支撑所述底座。

6、优选地，测量时第一个所述测量组件的轴线对准待测水平结构构件的中心，其余的所述测量组件相对第一个所述测量组件对称设置。

7、优选地，所述测量组件还包括激光笔，所述激光笔与所述激光测距仪连接，所述激光测距仪的轴线与所述激光笔的轴线重合，所述激光测距仪的朝向与所述激光笔的朝向相反。

8、优选地，所述测量组件还包括磁铁块，所述激光笔与所述激光测距仪通过磁铁块连接，所述激光笔及所述激光测距仪连接所述磁铁块的一端均由金属材质制成，所述底座由金属材质制成，所述底座上开设有通孔，所述磁铁块设置于所述通孔内，所述磁铁块与所述通孔相适配。

9、优选地，所述测量组件还包括水平仪，所述水平仪设置于所述底座上，所述水平仪用于判断所述底座是否处于水平状态。

10、优选地，所述测量组件还包括调节结构，所述底座通过所述调节结构设置于所述支架上，所述调节结构的数量为多个，多个调节结构间隔设置于所述支架上，所述调节结构用于调节所述底座与所述调节结构相连接的区域的高度。

11、优选地，所述调节结构包括相螺合的螺钉和螺母，所述螺钉远离所述螺母的一端与所述支架连接，所述螺母远离所述螺钉的一端与所述底座连接，所述螺母能够相对所述底座转动，转动所述螺母，以使所述螺母与所述螺钉的螺合长度变长或变短，从而使得所述螺母带动所述底座与所述调节结构相连接的区域升降。

12、优选地，所述支架包括支架座和支脚，多个所述支脚间隔设置于所述支架座上，所述支架座用于支撑所述底座。

13、优选地，每个所述支脚均能够相对所述支架座摆动，以实现多个所述支脚的打开或闭合。

14、优选地，每个所述支脚均能够沿自身的轴向伸缩。

15、本实用新型技术方案的优点：需要测量水平结构构件施加荷载后的挠度变化时，先将多个测量组件的支架间隔设置于地上，调节支架的位置，以使底座保持水平，从而使得激光测距仪处于竖直状态；随后启动激光测距仪，测量激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离，然后在待测水平结构构件上施加载荷，再次启动激光测距仪测量激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离，根据多个激光测距仪的两次读数的差值判断待测水平结构构件的挠度变形情况。本申请利用高精度的激光测距仪远距离、非接触测距特点，无需搭设测量表支架及反复攀爬支架读取数据；此外本申请的变形测量装置不会对待测水平结构构件造成损伤，且环境适用性广，可在有风和光线不良的环境下工作，因此本申请能够省时省力、方便快捷的实现水平结构构件施加荷载后的挠度变化的测量。

技术特征：

1.一种变形测量装置，其特征在于，包括多个间隔设置的测量组件，所述测量组件包括：

2.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，测量时第一个所述测量组件的轴线对准待测水平结构构件的中心，其余的所述测量组件相对第一个所述测量组件对称设置。

3.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括激光笔，所述激光笔与所述激光测距仪连接，所述激光测距仪的轴线与所述激光笔的轴线重合，所述激光测距仪的朝向与所述激光笔的朝向相反。

4.如权利要求3所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括磁铁块，所述激光笔与所述激光测距仪通过磁铁块连接，所述激光笔及所述激光测距仪连接所述磁铁块的一端均由金属材质制成，所述底座由金属材质制成，所述底座上开设有通孔，所述磁铁块设置于所述通孔内，所述磁铁块与所述通孔相适配。

5.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括水平仪，所述水平仪设置于所述底座上，所述水平仪用于判断所述底座是否处于水平状态。

6.如权利要求5所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括调节结构，所述底座通过所述调节结构设置于所述支架上，所述调节结构的数量为多个，多个调节结构间隔设置于所述支架上，所述调节结构用于调节所述底座与所述调节结构相连接的区域的高度。

7.如权利要求6所述的变形测量装置，其特征在于，所述调节结构包括相螺合的螺钉和螺母，所述螺钉远离所述螺母的一端与所述支架连接，所述螺母远离所述螺钉的一端与所述底座连接，所述螺母能够相对所述底座转动，转动所述螺母，以使所述螺母与所述螺钉的螺合长度变长或变短，从而使得所述螺母带动所述底座与所述调节结构相连接的区域升降。

8.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，所述支架包括支架座和支脚，多个所述支脚间隔设置于所述支架座上，所述支架座用于支撑所述底座。

9.如权利要求8所述的变形测量装置，其特征在于，每个所述支脚均能够相对所述支架座摆动，以实现多个所述支脚的打开或闭合。

10.如权利要求8所述的变形测量装置，其特征在于，每个所述支脚均能够沿自身的轴向伸缩。

技术总结
本技术提供的一种变形测量装置及检测装置包括多个间隔设置的测量组件，测量组件包括激光测距仪、底座及支架，激光测距仪用于测量激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离，激光测距仪设置于底座上，且激光测距仪的轴线与底座垂直，支架用于支撑底座，本申请利用高精度的激光测距仪远距离、非接触测距特点，无需搭设测量表支架及反复攀爬支架读取数据；此外本申请的变形测量装置不会对待测水平结构构件造成损伤，且环境适用性广，可在有风和光线不良的环境下工作，因此本申请能够省时省力、方便快捷的实现水平结构构件施加荷载后的挠度变化。

技术研发人员：张飞,邱发强,林晓康
受保护的技术使用者：健研检测集团有限公司
技术研发日：20230114
技术公布日：2024/1/12