一种IC芯片温度测量夹具的制作方法

本技术属于温度测量夹具，具体涉及一种ic芯片温度测量夹具。

背景技术：

1、随着ic芯片尺寸小型化的发展趋势，ic芯片测试治具制作规格同步小型化变革，ic芯片在出厂前需要对芯片进行温度测试，以得出ic芯片在高温下的电性参数，现有技术中一般是使用加热设备对测试治具施与高温，从而加热测试治具内的ic芯片，这时就需要在温度测试过程中使用温度测量仪器准确测试ic芯片的温度，从而使ic芯片的温度和ic芯片的电性参数相匹配，但现有的手持式温度测量仪器，在芯片温度类测试过程中，无法对测试治具中的小ic芯片进行准确的温度测量。

2、因此，针对上述技术问题，有必要提供一种ic芯片温度测量夹具。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种ic芯片温度测量夹具，以解决上述的问题。

2、为了实现上述目的，本实用新型一实施例提供的技术方案如下：

3、一种ic芯片温度测量夹具，包括温度测量夹具主体，所述温度测量夹具主体内固定连接有温度传感器，所述温度传感器的底面与温度测量夹具主体的底面在同一水平线上，所述温度传感器上固定连接有连接线，所述温度测量夹具主体的下端固定连接有测试治具，所述测试治具内开设有若干个与待测ic芯片相匹配的放置槽。

4、作为本实用新型的进一步改进，所述温度测量夹具主体内开设有导向槽，所述温度测量夹具主体内开设有与连接线相匹配的导向孔，所述导向孔与导向槽相通，所述连接线依次穿过导向槽和导向孔。

5、作为本实用新型的进一步改进，所述温度测量夹具主体为电木治具。

6、作为本实用新型的进一步改进，所述测试治具上固定连接有若干个限位柱。

7、作为本实用新型的进一步改进，所述温度测量夹具主体上开设有与限位柱相匹配的限位孔。

8、作为本实用新型的进一步改进，所述内开设有防护槽，所述温度测量夹具主体内开设有第二螺纹孔，所述第二螺纹孔位于防护槽内。

9、作为本实用新型的进一步改进，所述测试治具上开设有与第二螺纹孔相匹配的第一螺纹孔，所述第一螺纹孔与第二螺纹孔之间螺纹连接有螺栓。

10、作为本实用新型的进一步改进，所述螺栓不突出防护槽。

11、与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

12、本实用新型能够对测试治具内的小ic芯片进行准确的温度测量，结构简单，使用方便。

技术特征：

1.一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，包括温度测量夹具主体，所述温度测量夹具主体内固定连接有温度传感器，所述温度传感器的底面与温度测量夹具主体的底面在同一水平线上，所述温度传感器上固定连接有连接线，所述温度测量夹具主体的下端固定连接有测试治具，所述测试治具内开设有若干个与待测ic芯片相匹配的放置槽。

2.根据权利要求1所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述温度测量夹具主体内开设有导向槽，所述温度测量夹具主体内开设有与连接线相匹配的导向孔，所述导向孔与导向槽相通，所述连接线依次穿过导向槽和导向孔。

3.根据权利要求1所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述温度测量夹具主体为电木治具。

4.根据权利要求1所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述测试治具上固定连接有若干个限位柱。

5.根据权利要求4所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述温度测量夹具主体上开设有与限位柱相匹配的限位孔。

6.根据权利要求1所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述温度测量夹具主体内开设有防护槽，所述温度测量夹具主体内开设有第二螺纹孔，所述第二螺纹孔位于防护槽内。

7.根据权利要求6所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述测试治具上开设有与第二螺纹孔相匹配的第一螺纹孔，所述第一螺纹孔与第二螺纹孔之间螺纹连接有螺栓。

8.根据权利要求7所述的一种ic芯片温度测量夹具，其特征在于，所述螺栓不突出防护槽。

技术总结
本技术揭示了一种IC芯片温度测量夹具，属于温度测量夹具技术领域，包括温度测量夹具主体，所述温度测量夹具主体内固定连接有温度传感器，所述温度传感器的底面与温度测量夹具主体的底面在同一水平线上，所述温度传感器上固定连接有连接线，所述温度测量夹具主体的下端固定连接有测试治具，所述测试治具内开设有若干个与待测IC芯片相匹配的放置槽，所述温度测量夹具主体内开设有导向槽，所述温度测量夹具主体内开设有与连接线相匹配的导向孔，所述导向孔与导向槽相通，所述连接线依次穿过导向槽和导向孔，所述温度测量夹具主体为电木治具。本技术能够对测试治具内的小IC芯片进行准确的温度测量，结构简单，使用方便。

技术研发人员：陈连军
受保护的技术使用者：京隆科技（苏州）有限公司
技术研发日：20230207
技术公布日：2024/1/12