真空舱

文档序号:33964899发布日期:2023-04-26 17:58阅读:70来源:国知局
真空舱

本申请涉及光学测试设备校准,具体涉及一种真空舱。


背景技术:

1、精确测量各个波段的真空紫外光谱辐射参数,可以对预测空间天气、太阳风暴形成、飞行器等航天器件的真空紫外波段测试提供很大的帮助,因此,对于真空紫外波段的研究成为了焦点。

2、现有技术中,用于真空紫外光谱辐射检测的真空舱通常将光源设置在真空舱外,通过在真空舱设置窗口,将光源所发射的光线通过窗口投射至真空舱内。为了避免光源至真空舱之间的光路受外界环境的影响,需要将光源通过法兰固定在真空舱的窗口处,然而,对于不同种类的光源,其提供的接口往往有所不同,这就导致了现有技术中对不同光源进行测量、标定时,光源的装卸操作繁琐,同时光源的频繁装卸也会影响设备的精度。

3、因此,有必要提供一种技术方案,解决真空舱与不同种类的光源不匹配的问题。


技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种真空舱,可以适配多种不同类型的光源。

2、基于以上目的,本申请提供一种真空舱,用于真空紫外光谱辐射检测,包括:

3、所述真空舱包括至少两个封闭的腔体以及真空泵组;

4、其中,第一腔体用于设置待测光源,第二腔体用于设置所述真空紫外光谱辐射计的光学系统和探测装置,所述第二腔体包括至少两个通孔,第一通孔与第一腔体连接,第二通孔与所述真空泵组连接,第一腔体包括与第一通孔连接的第三通孔。

5、进一步的,所述第一腔体和所述第二腔体通过铜隔板连接。

6、进一步的,所述真空泵组通过不锈钢波纹管与所述第二通孔连接。

7、进一步的,所述真空泵组包括至少两种真空泵,其中,第一真空泵为低真空泵,在真空泵组中用作前级泵,第二真空泵为超高真空泵,在真空泵组中用作后级泵。

8、进一步的,所述第一真空泵为机械泵,所述第二真空泵为分子泵。

9、进一步的,所述真空舱设置有第一真空度阈值,当所述第二腔体内的真空度低于所述第一真空度阈值时,所述机械泵工作,当所述第二腔体内的真空度高于所述第一真空度阈值时,启动分子泵;

10、所述真空舱还设置有第二真空度阈值,第二真空度阈值高于第一真空度阈值,当第二腔体内的真空度高于第二真空度阈值时,分子泵停止工作。

11、进一步的,真空舱还包括监控单元,用于监控第二腔体的真空度。

12、进一步的,所述第二腔体的任意腔体壁上设置有至少一个观察窗,所述观察窗采用三层结构,沿第二腔体内壁向外的方向,所述观察窗采用的三层结构分别为防污玻璃、石英玻璃、铅玻璃。

13、进一步的,所述第一腔体中设置有支撑组件,光源设置在支撑组件上,通过调节支撑组件实现调节光源的位置和角度。

14、进一步的,所述支撑组件通过光学积木搭建。

15、本申请提供了一种真空舱,提供了用于设置光源的第一腔体,在对光源进行测量、标定时,由于光源处于真空环境中,因此无需利用法兰将光源固定,解决了光源接口不同所导致的装卸操作繁琐的问题。



技术特征:

1.一种真空舱,用于紫外光谱辐射检测,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的真空舱,其特征在于,所述真空泵组通过不锈钢波纹管与所述第二通孔连接。

3.根据权利要求1所述的真空舱,其特征在于,所述真空泵组包括至少两种真空泵,其中,第一真空泵为低真空泵,在真空泵组中用作前级泵,第二真空泵为超高真空泵,在真空泵组中用作后级泵。

4.根据权利要求3所述的真空舱,其特征在于,所述第一真空泵为机械泵,所述第二真空泵为分子泵。

5.根据权利要求4所述的真空舱,其特征在于,所述真空舱设置有第一真空度阈值,当所述第二腔体内的真空度低于所述第一真空度阈值时,所述机械泵工作,当所述第二腔体内的真空度高于所述第一真空度阈值时,启动分子泵;

6.根据权利要求1所述的真空舱,其特征在于,真空舱还包括监控单元,用于监控第二腔体的真空度。

7.根据权利要求1所述的真空舱,其特征在于,所述第二腔体的任意腔体壁上设置有至少一个观察窗,所述观察窗采用三层结构,沿第二腔体内壁向外的方向,所述观察窗采用的三层结构分别为防污玻璃、石英玻璃、铅玻璃。

8.根据权利要求1所述的真空舱,其特征在于,所述第一腔体中设置有支撑组件,光源设置在支撑组件上,通过调节支撑组件实现调节光源的位置和角度。

9.根据权利要求8所述的真空舱,其特征在于,所述支撑组件通过光学积木搭建。


技术总结
本申请提供真空舱,用于真空紫外光谱辐射检测,包括:所述真空舱包括至少两个封闭的腔体以及真空泵组;其中,第一腔体用于设置待测光源,第二腔体用于设置所述真空紫外光谱辐射计,所述第二腔体包括至少两个通孔,第一通孔与第一腔体连接,第二通孔与所述真空泵组连接。本申请提供的真空舱包括用于设置光源的第一腔体,无需利用法兰将光源固定,解决了光源接口不同所导致的装卸操作繁琐的问题。

技术研发人员:方彬,赵天琦,金尚忠,占春连,邹艳霞
受保护的技术使用者:中国计量大学
技术研发日:20230207
技术公布日:2024/1/11
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