一种开关寿命检测设备的制作方法

文档序号:34414045发布日期:2023-06-08 16:53阅读:27来源:国知局
一种开关寿命检测设备的制作方法

本技术涉及检测设备,尤其涉及一种开关寿命检测设备。


背景技术:

1、例如船型开关等许多开关都可以前后按压以进行开关状态的切换,一般地,当开关的任一端被按下时,另一端都会翘起。

2、出厂前,常会对开关进行抽样检测,检测工人会反复按压开关的两端,检查开关是否可以正常按压指定次数,若达到指定次数之前开关就出现损坏或者按压手感明显变差,则说明该样品的寿命检测不合格。

3、然而,手动进行按压次数检测十分耗费人力,不仅人力成本较高,而且检测效率较低。因此,需要研发一种开关寿命检测设备,用于实现开关按压寿命的机械化检测,以降低人力成本和提高检测效率。

4、本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解,且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。


技术实现思路

1、本实用新型的一个目的在于,提供一种开关寿命检测设备,能实现开关按压寿命的机械化检测,以降低人力成本和提高检测效率。

2、为达以上目的,本实用新型提供一种开关寿命检测设备,包括:

3、测试平台,所述测试平台设有若干用于固定待测开关的检测工位;

4、拨杆组件,所述拨杆组件位于各所述检测工位的上方;

5、连杆驱动机构,所述连杆驱动机构安装于所述测试平台上,并与所述拨杆组件连接,用于驱使所述拨杆组件沿直线往复运动,使得所述拨杆组件反复按压各所述待测开关的两端。

6、可选的,所述连杆驱动机构包括:

7、第一连杆件,所述第一连杆件的一端与所述拨杆组件铰接;

8、第二连杆件,所述第二连杆件与所述第一连杆件的另一端铰接;

9、旋转驱动机构,所述旋转驱动机构的驱动轴与所述第二连杆件固接,用于驱使所述第二连杆件绕所述旋转驱动机构的驱动轴转动。

10、可选的,所述第二连杆件的边沿位置设有供所述旋转驱动机构的驱动轴插入的穿轴孔;

11、所述第二连杆件的侧面设有与所述穿轴孔连通的过件孔;

12、所述连杆驱动机构还包括经所述过件孔伸入所述穿轴孔内顶紧所述驱动轴的紧固件。

13、可选的,所述驱动轴上设有供所述紧固件插入并与所述紧固件紧固连接的紧固孔。

14、可选的,所述拨杆组件包括:

15、横梁板,所述横梁板横跨各所述检测工位的上方空间;

16、若干柔性按压块,各所述柔性按压块固设于所述横梁板的底部,用于与各所述待测开关直接接触。

17、可选的,所述第一连杆件与所述横梁板的正中间位置连接,各所述检测工位均匀分布于所述第一连杆件的两侧。

18、可选的,还包括与所述旋转驱动机构电连接的控制装置,

19、所述控制装置用于获取和/或设定所述旋转驱动机构的驱动轴的转动圈数。

20、可选的,所述拨杆组件和所述测试平台滑动连接。

21、可选的,还包括:

22、导轨,所述导轨固定于所述测试平台上;

23、滑块,所述滑块固定于所述拨杆组件的底部,并与所述导轨滑动连接。

24、本实用新型的有益效果在于:提供一种开关寿命检测设备,连杆驱动机构可以驱使拨杆组件反复按压各所述待测开关的两端,以代替人力按压,当按压次数达到指定次数时,取下待测开关进行观察,即可判断待测开关的寿命检测是否合格。



技术特征:

1.一种开关寿命检测设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的开关寿命检测设备,其特征在于,所述连杆驱动机构包括:

3.根据权利要求2所述的开关寿命检测设备,其特征在于,所述第二连杆件的边沿位置设有供所述旋转驱动机构的驱动轴插入的穿轴孔;

4.根据权利要求3所述的开关寿命检测设备,其特征在于,所述驱动轴上设有供所述紧固件插入并与所述紧固件紧固连接的紧固孔。

5.根据权利要求2所述的开关寿命检测设备,其特征在于,所述拨杆组件包括:

6.根据权利要求5所述的开关寿命检测设备,其特征在于,所述第一连杆件与所述横梁板的正中间位置连接,各所述检测工位均匀分布于所述第一连杆件的两侧。

7.根据权利要求2所述的开关寿命检测设备,其特征在于,还包括与所述旋转驱动机构电连接的控制装置,

8.根据权利要求1所述的开关寿命检测设备,其特征在于,所述拨杆组件和所述测试平台滑动连接。

9.根据权利要求8所述的开关寿命检测设备,其特征在于,还包括:


技术总结
本技术涉及检测设备技术领域,具体公开一种开关寿命检测设备,包括:测试平台,所述测试平台设有若干用于固定待测开关的检测工位;拨杆组件,所述拨杆组件位于各所述检测工位的上方;连杆驱动机构,所述连杆驱动机构安装于所述测试平台上,并与所述拨杆组件连接,用于驱使所述拨杆组件沿直线往复运动,使得所述拨杆组件反复按压各所述待测开关的两端。本技术提供的开关寿命检测设备,能实现开关按压寿命的机械化检测,以降低人力成本和提高检测效率。

技术研发人员:岳秋生,何建民
受保护的技术使用者:东莞市智桥电器制造有限公司
技术研发日:20230206
技术公布日:2024/1/12
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