一种系统级芯片电源测试电路的制作方法

本申请涉及芯片测试领域，尤其涉及一种系统级芯片电源测试电路。

背景技术：

1、系统级芯片(system on chip，soc)也称为片上系统，部分soc内部结构复杂，内部包含多路供电电源。在对soc执行测试时，需要对内部的每一路供电电源都进行测试，才能实现对soc整体供电性能的测试。

2、如果对每一路供电电源都连接测试模块执行测试，则需要应用大量测试模块才能实现测试。由于测试模块成本较高，多个测试模块占用测试基板面积较大，且多个测试模块需要设置多个测试端口执行测试控制，使得测试成本整体较高。

3、如何降低系统级芯片内部多路电源测试的成本，是本申请所要解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的是提供一种系统级芯片电源测试电路，用以解决系统级芯片内部多路电源测试成本高的问题。

2、本申请提供了一种系统级芯片电源测试电路，包括：

3、待测试的系统级芯片，所述系统级芯片包括多路待测子电源；

4、供电测试板，所述供电测试板的供电端通过电源开关组与多路所述待测子电源的输入端电连接，用于向连通的待测子电源执行板上供电；

5、测试模块，所述测试模块的测试端通过所述电源开关组与多路所述待测子电源的输入端电连接，用于向连通的待测子电源执行外部供电并采集连通的待测子电源的工作参数；

6、电源切换模块，所述电源切换模块包括多个电源开关组，所述电源开关组的第一输入端与所述供电测试板的供电端电连接，所述电源开关组的第二输入端与所述测试模块的测试端电连接，所述电源开关组的输出端与所述待测子电源的输入端电连接，所述电源切换模块用于切换选择多个所述电源开关组的所述第一输入端或所述第二输入端与所述输出端的待测子电源连通。

7、在本申请实施例中，本申请提供的电路用于对系统级芯片soc内部的多路待测子电源执行测试，其中，电源切换模块能控制各路待测子电源分别连接测试模块，有效降低测试多路待测子电源所需的测试模块的数量。由于测试模块的成本较高、电源切换模块成本低，本方案能有效降低测试电路的整体成本，实现对soc内部的多路子电源的测试。通过本申请提供的电路，在进行测试的过程中能通过电源切换模块稳定地向soc持续提供正常工作所需的电能，避免通断电对soc工作状态的负面影响。在soc正常工作的状态下对多路待测子电源分别执行测试，能提升测试结果准确性，高效实现对soc的功耗测试，有利于快速定位系统级芯片的异常点。

技术特征：

1.一种系统级芯片电源测试电路，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述系统级芯片中的多路待测子电源的输入端分别与所述电源切换模块中的多个电源开关组的输出端电连接。

3.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述电源开关组包括第一切换开关和第二切换开关；

4.如权利要求3所述的电路，其特征在于，所述供电测试板设置有至少一个外部供电端口，所述外部供电端口的输入端与所述测试模块的测试端电连接，所述外部供电端口的输出端与多个所述第二切换开关的输入端电连接。

5.如权利要求3所述的电路，其特征在于，所述电源切换模块用于控制多个电源开关组中的目标电源开关组的所述第一切换开关和所述第二切换开关闭合，并在所述第一切换开关和所述第二切换开关均闭合的状态下切换选择所述第一切换开关断开或控制所述第二切换开关断开。

6.如权利要求5所述的电路，其特征在于，还包括：

7.如权利要求6所述的电路，其特征在于，所述供电测试板设置有多个板上供电端口，多个所述板上供电端口的输入端与所述控制模块电连接，多个所述板上供电端口的输出端分别与多个所述第一切换开关的输入端电连接。

8.如权利要求6所述的电路，其特征在于，所述控制模块的第二通信端通过测试设备与所述测试模块的通信端通信连接，所述控制模块用于控制所述测试模块采集连通的待测子电源的工作参数。

9.如权利要求8所述的电路，其特征在于，所述控制模块的电源端与所述测试设备的第一供电端电连接，所述测试模块的电源端与所述测试设备的第二供电端电连接，所述测试设备用于向所述控制模块和所述测试模块供电。

10.如权利要求1～9任一项所述的电路，其特征在于，所述测试模块或所述电源切换模块集成于所述供电测试板上。

技术总结
本申请公开了一种系统级芯片电源测试电路，用以解决系统级芯片内部多路电源测试成本高的问题。包括：待测试的系统级芯片，包括多路待测子电源；供电测试板，供电端通过电源开关组与多路待测子电源的输入端电连接，用于向连通的待测子电源执行板上供电；测试模块，测试端通过电源开关组与多路待测子电源的输入端电连接，用于向连通的待测子电源执行外部供电并采集连通的待测子电源的工作参数；电源切换模块，包括多个电源开关组，第一输入端与供电测试板的供电端电连接，第二输入端与测试模块的测试端电连接，输出端与待测子电源的输入端电连接，电源切换模块用于切换选择多个电源开关组的第一输入端或第二输入端与输出端的待测子电源连通。

技术研发人员：张军芳,汤文轩,叶彦斌
受保护的技术使用者：联芸科技（杭州）股份有限公司
技术研发日：20230112
技术公布日：2024/1/13