一种连接齿花键M值测量辅助装置的制作方法

本技术涉及量具，具体涉及到一种连接齿花键m值测量辅助装置。

背景技术：

1、如图1所示，在传动系统中，同步器作为传动系统换挡中介，连接齿又是连接齿轮和同步器的中介，由于需要保证同步器和齿轮连接后不脱落，连接齿上的花键需带有夹角，且花键受力中心为花键中心，检测其受力中心位置加工是否合格成为必须检测项目。

2、如图2至图4所示，在现有技术中，由于连接齿的花键带有夹角，无法通过花键环规检测，也无法使用量棒配合卡尺测量，只能量球代替量棒，但是量球无法在花键齿面相对固定，无法测量其m值，针对上述问题，目前通用检测方法为，制作专用检测辅助装置，使量球固定在需要的齿面位置上，再使用量球配合卡尺测量出花键的m值，校核花键加工是否合格，但是，其缺点为：专用检测辅助装置制造周期长，且应用场景单一，只能用在某一固定花键参数的齿上，如果需要测量多种规格连接齿花键m值时，就需要制作多个检测辅助装置，从而造成使用成本较高，造成检测辅助装置不通用，进而造成资源浪费。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种通用的连接齿花键m值测量辅助装置，本实用新型有效地提高了检测效率，降低了使用成本。

2、解决上述技术问题的技术方案如下：

3、一种连接齿花键m值测量辅助装置，包括底座、装载机构、顶升机构，所述装载机构包括固定支柱、活动支柱、活动托盘、固定托盘、锁紧螺母、连接销，所述固定支柱固定在底座上，所述活动支柱与固定支柱相对布置，并与底座滑动配合，所述活动托盘与活动支柱通过连接销连接，所述锁紧螺母与活动支柱配合，所述固定托盘与底座间隙配合，所述顶升机构与固定托盘活动配合。

4、进一步地，所述固定支柱包括第一柱体、第一测头，所述活动支柱包括第二柱体、第二测头，第一柱体和第一测头一体成型，第二柱体和第二测头一体成型，第一测头与第二测头相对布置，第二柱体的一部分可滑动地布置在底座内。

5、进一步地，所述顶升机构包括螺杆、凸轮，所述螺杆一端与凸轮固定连接，另一端暴露在底座的侧端面。

6、本实用新型提供的连接齿花键m值测量辅助装置，通过改变摆放连接齿的托盘的大小来适应不同规格连接齿，通过移动活动支柱来适应连接齿不同规格花键，通过顶升机构顶起固定托盘来适应不同规格连接齿要求测量花键m值的指定高度，本实用新型提供的连接齿花键m值测量辅助装置，制造成本低，制造精度相对较低，使用范围广泛，可适用于不同型号连接齿，可搭配不同规格量球使用，只需配合使用卡尺和指定规格量球即可测量m值，且操作简单，使用方便快捷，解决专用检具制造成本和专用检具不通用的问题。

技术特征：

1.一种连接齿花键m值测量辅助装置，包括底座(5)、装载机构、顶升机构，其特征在于，所述装载机构包括固定支柱(1)、活动支柱(2)、活动托盘(3)、固定托盘(4)、锁紧螺母(7)、连接销(8)，所述固定支柱(1)固定在底座(5)上，所述活动支柱(2)与固定支柱(1)相对布置，并与底座(5)滑动配合，所述活动托盘(3)与活动支柱(2)通过连接销(8)连接，所述锁紧螺母(7)与活动支柱(2)配合，所述固定托盘(4)与底座(5)间隙配合，所述顶升机构与固定托盘(4)活动配合。

2.根据权利要求1所述的一种连接齿花键m值测量辅助装置，其特征在于，所述固定支柱(1)包括第一柱体(1-1)、第一测头(1-2)，所述活动支柱(2)包括第二柱体(2-1)、第二测头(2-2)，第一柱体(1-1)和第一测头(1-2)一体成型，第二柱体(2-1)和第二测头(2-2)一体成型，第一测头(1-2)与第二测头(2-2)相对布置，第二柱体(2-1)的一部分可滑动地布置在底座(5)内。

3.根据权利要求1所述的一种连接齿花键m值测量辅助装置，其特征在于，所述顶升机构包括螺杆(21)、凸轮(22)，所述螺杆(21)一端与凸轮(22)固定连接，另一端暴露在底座(5)的侧端面。

技术总结
本技术公开了一种连接齿花键M值测量辅助装置，包括底座、装载机构、顶升机构，所述装载机构包括固定支柱、活动支柱、活动托盘、固定托盘、锁紧螺母、连接销，所述固定支柱固定在底座上，所述活动支柱与固定支柱相对布置，并与底座滑动配合，所述活动托盘与活动支柱通过连接销连接，所述锁紧螺母与活动支柱配合，所述固定托盘与底座间隙配合，所述顶升机构与固定托盘活动配合。本技术更具通用性，有效地提高了检测效率，降低了使用成本。

技术研发人员：彭志明,刘陈成,余世杰,郑孝林,李逵
受保护的技术使用者：重庆青山工业有限责任公司
技术研发日：20230214
技术公布日：2024/1/13