一种物体检测装置的制作方法

本技术涉及光电传感器检测；具体涉及一种物体检测装置。

背景技术：

1、随着物体检测装置产业的不断发展，对于基于物体检测装置进行测量的需求越来越大，所以对于物体检测装置的需求也越来越广泛，物体检测装置可以通过其包含的光电传感器对经过的待测物体自动感应并进行计数，用户只需要使待测物体经过规定的位置，物体检测装置即可完成对待测物体的发生感应并计数。

2、现今，大部分物体检测装置对应的光电传感器的光信号发射器与光信号接收端设置在同侧，存在对被测物的检测盲区，且当光信号发射器与光信号接收器设置的距离越远，且待测物为异形物体时，本应该由光信号接收器接收的光信号越有可能被待测物反射至光信号接收器与光信号发射器的中间位置，导致出现检测盲区，产生漏检的情况。

3、因此，如何提供一种更准确的，不存在检测盲区的物体检测装置成为本领域技术人员急需解决的问题。

技术实现思路

1、针对上述对物体检测装置进行感应距离调节不便捷的技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

2、一种物体检测装置，包括：电器组件、光学组件和反光板；电器组件包括光信号发射器和光信号接收器；光学组件包括立方分光棱镜、线性偏振片和四分之一波带片；立方分光棱镜包括分光膜和分光棱镜壳体，分光膜设置于分光棱镜壳体的内部。

3、其中，光信号发射器与反光板相对设置，立方分光棱镜设置于光信号发射器与反光板之间，，线性偏振片设置在立方分光棱镜远离光信号发射器的一侧，四分之一波带片设置在线性偏振片远离光信号发射器的一侧，光信号接收器设置在立方分光棱镜的正下方，光信号发射器的光信号的信号发射方向与分光膜呈45度且分光膜反射光信号发射器发射的光信号的方向远离光信号接收器，反光板接收到的圆偏振光信号与其反射出的圆偏振光信号的相位相同。

4、具体地，光信号发射器、立方分光棱镜、线性偏振片、反光板以及四分之一波带片均处于同一轴线上。

5、进一步地，分光膜的分光比为50r/50t。

6、进一步地，线性偏振片为薄膜状。

7、进一步地，四分之一波带片为薄膜状。

8、进一步地，线性偏振片贴设于立方分光棱镜远离光信号发射器的侧壁上。

9、进一步地，四分之一波带片与线性偏振片层叠设置。

10、本实用新型至少具有以下技术效果：由于所述光信号发射器11、所述立方分光棱镜21、所述线性偏振片22、所述四分之一波带片23以及所述反光板3均处于同一轴线上，使得发射的光信号与被测物或反光板3反射回来的光信号几乎处于同一直线，当不存在被测物时，光信号接收器12可以持续接收到光信号，当存在被测物时，光信号接收器12接收不到光信号，因此，本使用新型提到的物体检测装置不存在对被测物的检测盲区，提高了光电传感器的准确率。

技术特征：

1.一种物体检测装置，其特征在于，包括：电器组件(1)、光学组件(2)和反光板(3)；

2.根据权利要求1所述的物体检测装置，其特征在于，所述光信号发射器(11)、所述立方分光棱镜(21)、所述线性偏振片(22)、所述四分之一波带片(23)以及所述反光板(3)均处于同一轴线上。

3.根据权利要求1所述的物体检测装置，其特征在于，所述分光膜(211)的分光比为50r/50t。

4.根据权利要求1所述的物体检测装置，其特征在于，所述线性偏振片(22)为薄膜状。

5.根据权利要求4所述的物体检测装置，其特征在于，所述四分之一波带片(23)为薄膜状。

6.根据权利要求5所述的物体检测装置，其特征在于，所述线性偏振片(22)贴设于所述立方分光棱镜(21)远离所述光信号发射器(11)的侧壁上。

7.根据权利要求6所述的物体检测装置，其特征在于，所述四分之一波带片(23)与所述线性偏振片(22)层叠设置。

技术总结
本技术提供了一种物体检测装置，包括：电器组件、光学组件和反光板；电器组件包括光信号发射器和光信号接收器；光学组件包括立方分光棱镜、线性偏振片和四分之一波带片；立方分光棱镜包括分光膜和分光棱镜壳体，分光膜设置于分光棱镜壳体的内部；光信号发射端与光学组件相对设置，立方分光棱镜设置在靠近光信号发射端的一侧，线性偏振片设置在立方分光棱镜远离光信号发射端的一侧，四分之一波带片设置在偏振分光片远离光信号发射端的一侧，光信号接收器设置在立方分光棱镜的正下方，反光板设置在四分之一波带片远离光信号发射器的一侧，反光板不改变接收到的光信号的相位；不存在对被测物的检测盲区，提高了光电传感器的准确率。

技术研发人员：代红林,李董,冀明明,秦墩友
受保护的技术使用者：天津宜科自动化股份有限公司
技术研发日：20230215
技术公布日：2024/1/14