一种高精度电磁流量计的制作方法

文档序号:35427582发布日期:2023-09-13 18:04阅读:30来源:国知局
一种高精度电磁流量计的制作方法

本技术涉及电磁流量计,具体为一种高精度电磁流量计。


背景技术:

1、计量是工业生产的眼睛。流量计量是计量科学技术的组成部分之一,它与国民经济、国防建设、科学研究有密切的关系。做好这一工作,对保证产品质量、提高生产效率、促进科学技术的发展都具有重要的作用,特别是在能源危机、工业生产自动化程度愈来愈高的当今时代,电磁流量计是工业生产中较常用的一种流量计。

2、而电磁流量计一般通过探头对内部流量流速进行探测,而其在使用过程中,流动液体中的杂质容易覆盖在探头上,并长久的使用过后,造成探头位置的污垢堆积,从而会影响到探头对管道内部流动液体流速的探测,对此有必要提出一种高精度电磁流量计。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种高精度电磁流量计,以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种高精度电磁流量计,包括管体,所述管体的管壁上固定安装有一个电磁流量计,且所述管体的内部固定安装有若干个探头,且若干个所述探头均与电磁流量计相连接,所述管体的内壁之间固定连接有一个安装架,所述安装架上通过轴承转动连接有一根转动杆,所述转动杆的两端均贯穿延伸至安装架外,且所述转动杆的其中一端固定连接有一个扇叶,所述转动杆的另一端固定连接有一根连接杆,所述连接杆的两端均固定连接有一根刮杆,两根所述刮杆对应若干个探头位置的杆壁上均固定连接有一块清洁块,所述管体的内壁上固定连接有一块环形块,所述环形块其中一侧的侧壁上开设有一个环形槽,且两根所述刮杆的其中一端均贯穿延伸至环形槽内。

3、优选的,两根所述刮杆相向一侧的杆壁上均固定连接有一块推动板,且两块所述推动板相向一侧的侧壁均呈倾斜状设置。

4、优选的,所述管体的两端均固定连接有一块连接法兰。

5、优选的,若干个所述探头均关于管体的轴心线呈环绕状,且若干个所述探头之间呈均匀等距状设置。

6、优选的,所述连接杆的两端以及刮杆相远离一侧的杆壁均与管体的内壁呈相抵状设置。

7、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:在使用时,液体流动经过时会通过与扇叶的相抵来推动扇叶进行转动,而扇叶会通过转动杆带动连接杆进行转动,而连接杆会带动两根刮杆以及清洁块进行转动,同时刮杆在环形槽的限位会始终与管体内壁以及探头相抵,使得其转动时可以分别对管体内壁以及探头上的杂质进行清除,从而避免杂质堆积后影响到探头的探测。



技术特征:

1.一种高精度电磁流量计,包括管体(1),其特征在于,所述管体(1)的管壁上固定安装有一个电磁流量计(2),且所述管体(1)的内部固定安装有若干个探头(3),且若干个所述探头(3)均与电磁流量计(2)相连接,所述管体(1)的内壁之间固定连接有一个安装架(4),所述安装架(4)上通过轴承转动连接有一根转动杆(5),所述转动杆(5)的两端均贯穿延伸至安装架(4)外,且所述转动杆(5)的其中一端固定连接有一个扇叶(6),所述转动杆(5)的另一端固定连接有一根连接杆(7),所述连接杆(7)的两端均固定连接有一根刮杆(8),两根所述刮杆(8)对应若干个探头(3)位置的杆壁上均固定连接有一块清洁块(9),所述管体(1)的内壁上固定连接有一块环形块(10),所述环形块(10)其中一侧的侧壁上开设有一个环形槽(11),且两根所述刮杆(8)的其中一端均贯穿延伸至环形槽(11)内。

2.根据权利要求1所述的一种高精度电磁流量计,其特征在于:两根所述刮杆(8)相向一侧的杆壁上均固定连接有一块推动板(12),且两块所述推动板(12)相向一侧的侧壁均呈倾斜状设置。

3.根据权利要求1所述的一种高精度电磁流量计,其特征在于:所述管体(1)的两端均固定连接有一块连接法兰(13)。

4.根据权利要求1所述的一种高精度电磁流量计,其特征在于:若干个所述探头(3)均关于管体(1)的轴心线呈环绕状,且若干个所述探头(3)之间呈均匀等距状设置。

5.根据权利要求1所述的一种高精度电磁流量计,其特征在于:所述连接杆(7)的两端以及刮杆(8)相远离一侧的杆壁均与管体(1)的内壁呈相抵状设置。


技术总结
本技术公开了一种高精度电磁流量计,包括管体,所述管体的管壁上固定安装有一个电磁流量计,且所述管体的内部固定安装有若干个探头,且若干个所述探头均与电磁流量计相连接,所述管体的内壁之间固定连接有一个安装架,所述安装架上通过轴承转动连接有一根转动杆,本技术的有益效果是:在使用时,液体在流动经过管体时会通过与扇叶的相抵来推动扇叶进行转动,而扇叶会通过转动杆带动连接杆进行转动,而连接杆会带动两根刮杆以及清洁块进行转动,同时刮杆在环形槽的限位会始终与管体内壁以及探头相抵,使得其转动时可以分别对管体内壁以及探头上的杂质进行清除,从而避免杂质堆积后影响到探头的探测。

技术研发人员:王中
受保护的技术使用者:川纳海仪表(浙江)有限公司
技术研发日:20230217
技术公布日:2024/1/14
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